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平成２１年９月３０日判決言渡
平成２０年(行ケ)第１０４６８号審決取消請求事件
口頭弁論終結日平成２１年７月８日
判決
原告株式会社長浜製作所
訴訟代理人弁理士稲岡耕作
同皆川祐一
被告特許庁長官
指定代理人信田昌男
同岡田孝博
同森川元嗣
同小林和男
主文
１特許庁が不服２００６−２００２７号事件について平成２０年１０
月３０日にした審決を取り消す。
２訴訟費用は，被告の負担とする。
事実及び理由
第１請求
主文同旨
第２当事者間に争いのない事実
１特許庁における手続の経緯
原告は，発明の名称を「不釣合い修正方法および装置」とする発明につい
て，平成１４年４月１２日に特許出願をし（甲３），平成１８年３月２２日に
手続補正をしたが（甲４），同年７月３１日付けで拒絶査定を受けたことか
ら，同年９月７日，これに対する不服の審判（不服２００６−２００２７号事
件）を請求した。
特許庁は，平成２０年１０月３０日，「本件審判の請求は，成り立たな
い。」との審決をし，その謄本は，同年１１月１３日，原告に送達された。
２特許請求の範囲
平成１８年３月２２日付け手続補正書（甲４）により補正された本願の明細
書（以下「本願明細書」という。）の特許請求の範囲（請求項の数２）の請求
項１の記載は，次のとおりである（以下，請求項１に係る発明を「本願発明」
という。）。
「【請求項１】
不釣合いを修正すべき被試験体の初期不釣合いを測定する第１の測定ステッ
プと，
第１の測定ステップで測定された不釣合いを修正する処理を前記被試験体に
対して行う第１の修正ステップと，
第１の修正ステップで不釣合いが修正された前記被試験体の残留不釣合いを
測定する第２の測定ステップと，
第２の測定ステップで測定された前記被試験体の残留不釣合いを，第１の測
定ステップで測定された初期不釣合いおよび第１の修正ステップで実際に修正
された修正量の比に基づいて補正する残留不釣合いの補正ステップと，
補正ステップで補正された残留不釣合いを修正する処理を前記被試験体に対
して行う第２の修正ステップと，
を有することを特徴とする高速回転機器のための２回修正による不釣合い修正
方法。」
３審決の理由
別紙審決書写しのとおりである。要するに，特開平３−１２３８３４号公報
（以下「引用文献１」という。甲１）に記載された発明（以下「引用発明」と
いう。）に，特開平１０−２０６２６７号公報（以下「引用文献２」という。
甲２）に記載されている技術的事項を適用して，相違点に係る本願発明の構成
に想到することは当業者にとって容易である，というものである。
上記判断に際し，審決が認定した本願発明と引用発明との一致点及び相違点
は，以下のとおりである。
(1)一致点
「不釣合いを修正すべき被試験体の初期不釣合いを測定する第１の測定ステ
ップと，
第１の測定ステップで測定された不釣合いを修正する処理を前記被試験体
に対して行う第１の修正ステップと，
第１の修正ステップで不釣合いが修正された前記被試験体の残留不釣合い
を測定する第２の測定ステップと，
第２の測定ステップで測定された前記被試験体の残留不釣合いを修正する
処理を前記被試験体に対して行う第２の修正ステップと，
を有することを特徴とする高速回転機器のための２回修正による不釣合い修
正方法。」（審決書５頁１９行∼２８行）
(2)相違点
「本願発明では，『第２の測定ステップで測定された被試験体の残留不釣合
いを，第１の測定ステップで測定された初期不釣合いおよび第１の修正ステ
ップで実際に修正された修正量の比に基づいて補正する残留不釣合いの補正
ステップを有し，第２の修正ステップでは補正ステップで補正された残留不
釣合いを修正する処理を前記被試験体に対して行う』のに対し，引用発明に
おいては，『再測定結果を修正データとして前記被測定物の再修正を行
う』，すなわち，第２の測定ステップで測定された被試験体の残留不釣合い
を補正するステップを有しておらず，第２の修正ステップにて測定された再
測定結果をそのまま修正データとして残留不釣合いを再修正する処理を前記
被試験体に対して行う点」（審決書５頁３０行∼６頁２行参照）。
第３当事者の主張
１取消事由に係る原告の主張
審決には，引用文献２の記載事項の認定等において，(1)Ｎ＝１の場合を含
むとした認定の誤り，(2)２次測定結果をステップＳ６に用いず，ステップＳ
９に対して用いるとした認定の誤り，(3)同一回転供試体の２次修正に補正係
数及び補正角度を用いることが記載されている等と認定判断した誤りがある。
(1)Ｎ＝１の場合を含むとした認定の誤り
審決は，「Ｎ個については，典型的にＮ＝１の場合が含まれていることは
自明である。」（審決書６頁７行，８行）と認定した。
しかし，審決の上記認定は，誤りである。
アすなわち，引用文献２の段落【００１１】には，「αの初期値は１，β
の初期値は０である。したがって，後述するように修正係数がＮ個算出さ
れるまでの間は，初期値１を用いて補正が行われるが，Ｎ個の修正係数が
算出された後はその平均値が修正係数αおよび修正角度βとして使用され
る。」（甲２，３頁３欄６行∼１０行）と記載されているところ，この記
載のとおり，修正係数の平均値を不釣合い量の補正に使用するためには，
少なくとも２回以上の修正係数を算出することが不可欠であるから，Ｎ≠
１であり，Ｎ≧２であるものと理解される。
イまた，引用文献２には，「ステップＳ７で修正係数αｎと修正角度βｎ
がＮ個算出されたと判定されるとステップＳ８で次式により，修正係数α
ｎと修正角度βｎの平均値α，βを算出する。」（甲２，３頁３欄３７行
∼４０行），「これらの修正係数αｎと修正角度βｎがＮ個求まると式
（３），（４）により平均された修正係数αおよび修正角度βが算出され
る。」（甲２，３頁４欄３６行∼３９行）とも記載されている。
ところで，「平均値」とは「平均して得られた数値」（広辞苑）のこと
であり，「平均」とは「不揃いのないようにすること，ならすこと。」
（広辞苑）であるから，平均値α，βを算出するに当たっての「平均され
た修正係数αおよび修正角度βが算出される。」との記載は，平均される
値が複数個存在することを前提としたものであって，複数個の修正係数α
ｎ及び修正角度βｎの平均値を修正係数及び修正角度として求めていると
理解するのが自然である。引用文献２に記載された技術事項には，Ｎ≧１
が明示されていないのであるから，当業者であれば，文脈から，複数個の
αｎ，βｎを算出した後，それらの平均値であるα及びβを求める（ステ
ップＳ７→Ｓ８）と合理的に理解することができるといえる。
ウこの点について，被告は，一般にＮ個を示すＮを除数にした計算式の場
合，Ｎが１から始まる自然数を意味することは，計算機技術においては普
通のことであるとする。その一例として，特許第２６５９２６８号公報
（乙１）の請求項１には，「Ｎ（Ｎ≧１の整数）回ごとの平均遅延量を求
め」と記載されているが，「Ｎ≧１の整数」と「Ｎは１から始まる自然
数」は同値であることは明らかであり，このような例を参照すれば，引用
文献２においても同様に理解できると主張する。
しかし，引用文献１は，引用文献２において「Ｎは１であることを含
む」との事項が記載されていることを前提とするものではないから，被告
の主張は理由がない。
(2)２次測定結果をステップＳ６に用いず，ステップＳ９に対して用いると
した認定の誤り
審決は，引用文献２の記載事項について，「２次測定から２次修正までの
間の各ステップでは，２次測定結果（Ａ２，θ２）は，ステップＳ９の『不
釣合い量Ａ』および『不釣合い位置θ』に対して用いられるのであって，１
次測定結果を用いることが明示されているステップＳ６，即ち【数１】のＡ
およびθには用いられないことは明らかである。」（審決書６頁１９行∼２
３行）と認定した。
しかし，上記審決の認定は，次のとおり，誤りである。
ア２次測定結果がステップＳ６に用いられないとした認定の誤り
(ア)まず，引用文献２記載の発明では，Ｎ個目までの回転供試体に対す
る１次修正前の不釣合測定結果である１次測定結果と，そのＮ個目まで
の回転供試体に対する１次修正後の不釣合測定結果である２次測定結果
とのベクトル差が求められ，そのベクトル差から修正不釣合い量Ａ’及
び修正不釣合い位置θ’を算出するための補正係数α及び補正角度βが
求められる。この補正係数α及び補正角度βは，確かに，Ｎ個目までの
回転供試体の１次修正のための修正不釣合い量Ａ’及び修正不釣合い位
置θ’の算出に用いられることはない。なぜなら，①補正係数α及び補
正角度βが求められるよりも前にＮ個目までの回転供試体に対する１次
修正が実行されているからである。また，②引用文献２の【図２】（別
紙「引用文献２【図２】」）のフローチャートのステップＳ１０で「１
次修正済み？」が肯定されると，処理はステップＳ１２以降へと進み，
Ｎ個目までの回転供試体に対する修正時に実行される当該フローチャー
トの処理は，１次修正を経ずに終了するからである。
しかし，Ｎ個目までの回転供試体の修正時に求められた補正係数α及
び補正角度βは，次の修正対象となるＮ＋１個目以降の回転供試体の修
正のために【図２】のフローチャートが実行されたときに，そのＮ＋１
個目以降の回転供試体の１次修正のための修正不釣合い量Ａ’及び修正
不釣合い位置θ’の算出に用いられる。
(イ)そして，引用文献２の段落【００２２】においては，「また以上の
実施の形態では，１次修正だけの場合について説明したが，２次修正ま
で行なうものにも本発明を適用できる。その場合，修正係数は１次測定
結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果と３次測定結果
のベクトル差を用いることができる。」と記載されているところ，１次
修正のための修正不釣合い量及び不釣合い位置の算出に加えて，２次修
正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置を算出する場合，２次
修正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置は，１次修正のため
の修正不釣合い量及び不釣合い位置の算出方法と同様の手法（ルーチ
ン）で算出されるものと考えられる。そうすると，Ｎ個目までの回転供
試体の２次修正前後の不釣合測定結果のベクトル差から，２次修正のた
めの補正係数及び補正角度が求められ，この補正係数及び補正角度は，
次の修正対象となるＮ＋１個目以降の回転供試体の２次修正のための修
正不釣合い量及び修正不釣合い位置の算出に用いられることになる。こ
の２次修正のための補正係数及び補正角度を求めるには，上記のとおり
２次修正前後の不釣合い測定結果である２次測定結果を用いることが不
可欠であるから，２次測定結果がステップ６に用いられるといえる。
(ウ)したがって，２次測定から２次修正までの間において「２次測定結
果（Ａ２，θ２）は，・・・１次測定結果を用いることが明示されてい
るステップＳ６，即ち【数１】のＡおよびθには用いられない」とした
審決の上記認定は，誤りである。
イ２次測定結果をステップＳ９に対して用いるとした認定の誤り
また，引用文献２記載のステップＳ９においては，ステップＳ４で記憶
された１次測定結果の不釣合い量及び不釣合い位置θに対し，ステップＳ
８で算出された修正係数α及び修正角度βを用いた修正が行われる。ステ
ップＳ４で２次測定結果を記憶し，その２次測定結果Ａ，θ（不釣合い
量，不釣合い位置）に対してステップＳ９で修正を行うというような被告
主張のステップは，引用文献２に記載されていない。したがって，「２次
測定結果（Ａ２，θ２）は，ステップＳ９の『不釣合い量Ａ』および『不
釣合い位置θ』に対して用いられる」とした審決の前記認定も，誤りであ
る。
(3)同一回転供試体の２次修正に補正係数及び補正角度を用いることが記載
されている等と認定し，相違点に係る本願発明の構成に容易に想到できたと
判断した点の誤り
審決は，①引用文献２には，２次修正時に，「修正不釣合い量Ａ’を（Ａ
１／Ａｄ）・Ａ２，修正不釣合い位置θ’をθ２＋（θ１−θｄ）として求
めるステップ」が記載されていること（審決書６頁下から７行，６行）を前
提として，②「引用文献２記載の上記技術的事項の２次修正において用いら
れる『修正不釣合い量（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２』および『修正不釣合い位置θ
２＋（θ１−θｄ）』は，本願発明の『第１の測定ステップで測定された初
期不釣合いおよび第１の修正ステップで実際に修正された修正量の比に基づ
いて補正』された『残留不釣合い』に相当する」（審決書７頁５行∼１０
行）と認定し，③「引用発明１に，引用文献２記載の上記技術的事項・・・
を適用して，相違点に係る本願発明の構成」に想到することが容易であると
判断し（審決書７頁１３行∼１７行），④「本願明細書に記載された本願発
明の作用効果も，引用発明および上記技術的事項から当業者が予測できる範
囲のものであって，格別顕著なものとはいえない。」（審決書７頁１８行∼
２０行）と判断した。
しかし，審決の上記認定又は判断①ないし④は，いずれも誤りである。
アすなわち，仮に，引用文献２の段落【００２２】の記載から，Ｎ個目ま
での回転供試体の２次修正時に求められた補正係数及び補正角度を，次の
修正対象となるＮ＋１個目以降の回転供試体の２次修正のための修正不釣
合い量及び修正不釣合い位置の算出に用いることを読み取ったとしても，
Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前後の不釣合測定結果から当該Ｎ個目
までの回転供試体に対する２次修正のための修正不釣合い量及び修正不釣
合い位置を求めることは全く記載されていないし，その示唆さえもない。
したがって，引用文献２に上記内容の記載があるとはいえない。
イまた，引用文献２においては，「【従来の技術】・・・【０００３】・
・・一旦ワークの不釣り合いの修正を行った後，残留不釣り合いを検出し
て，最初の加工を行った部分を再度加工することによって，ワークの修正
を行っている。【０００４】【発明が解決しようとする課題】そのため，
２次以上の修正作業が必要となり試験効率が悪い。そこで・・・図６のよ
うな特性から逆算すれば，１次修正だけで不釣合い修正作業を終了する確
率が高くなって試験効率が向上する。しかしながら，図６の特性を求める
にはかなりの時間を要するため，試験効率の改善が強く望まれている。
【０００５】本発明の目的は，ワークの不釣り合いを修正するための修正
データを正確に生成することができる動釣合試験機を提供することにあ
る。」（甲２，２頁１欄１７行∼２欄１行）と記載されているように，引
用文献２記載の発明は，原則として１次修正だけで不釣合い修正作業を終
了させることが目的であり，その１次修正のための修正データを正確に生
成する構成を提供するものである。
ウ引用文献２の【図２】（別紙「引用文献２【図２】」）のフローチャー
トの処理を概説すれば，次のようになる。１つ目の回転供試体は，Ｓ１→
Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４→Ｓ９→Ｓ１０→Ｓ１１と処理が進み，１次測定及び１
次修正が行われた後，再びＳ１からＳ２→Ｓ３→Ｓ５→Ｓ６→Ｓ７→Ｓ８
→Ｓ９へと進み，Ｓ９で１次測定結果及び２次測定結果に基づいて１次測
定結果が修正される。その後，Ｓ１０→Ｓ１２→Ｓ１３→Ｓ１５→Ｓ１６
へと処理が進む。つまり，１つ目の回転供試体は，２次測定の結果の不釣
合い量が所定値を超えていると２次修正をされることなく不良品として搬
出される。このことは，引用文献２において，「ステップＳ１０で１次修
正済みであると判定されるとステップＳ１２において，再度不釣合測定を
行ないステップＳ１３で不釣合い量が所定値以下であり修正不要と判定さ
れればステップＳ１４で良品として搬出し，不釣合い量が所定値を越えて
．
いればステップＳ１５で不良品として搬出する。次いでステップＳ１６で
所定個数の供試体が測定され修正されたと判定されれば，この処理を終了
し，そうでなければステップＳ１に戻って次の供試体について不釣合い測
定を行なう。」（甲２，３頁４欄１行∼１０行）とされていることからも
明らかである。そして，例えば，Ｎ＝３とした場合は，２つ目の回転供試
体及び３つ目の回転供試体も，１つ目の回転供試体と同じ処理をたどる。
１つ目から３つ目の回転供試体にとっては，ステップＳ９における不釣合
い量Ａ及び不釣合い位置θの修正は，意味のない処理である。ステップＳ
９の修正は，たとえばＮ＝３とした場合に，４つ目の回転供試体以降に対
する処理のために設けられたものである。４つ目の回転供試体は，ステッ
プＳ１→Ｓ２→Ｓ３→Ｓ４→Ｓ９と処理が行われ，ステップＳ９におい
て，それまでに処理された１つ目，２つ目，及び３つ目の回転供試体にお
ける各１次測定結果と各２次測定結果のベクトル差に基づいて算出された
修正係数α及び修正角度βによって，１次測定結果が補正される。そし
て，処理はＳ１０→Ｓ１１→Ｓ１→Ｓ２→Ｓ１４→Ｓ１６をめぐる。
つまり，引用文献２の【図２】に示されるフローチャートは，最初のＮ
個の回転供試体を犠牲にしても，ドリルやカッタ等の切削特性をその間に
把握して，Ｎ＋１個めの回転供試体からは，１次修正だけで不釣合い修正
作業を終了させる確率を高くするための処理である。そのために，修正係
数α及び修正角度βを，犠牲とするＮ個の回転供試体の１次測定結果及び
２次測定結果に基づいて求めているのである。
エこれに対して，被告は，引用文献２の発明の詳細な説明「また以上の実
施の形態では，１次修正だけの場合について説明したが，２次修正まで行
なうものにも本発明を適用できる。」（段落【００２２】）との記載を根
拠に，引用文献２の【図２】（別紙「引用文献２【図２】」）を，具体的
には，ステップＳ３を「１次測定」を判定するステップに代えて「２次測
定」を判定するステップとし，ステップＳ４を「１次測定結果θ，Ａを記
憶」に代えて「２次測定結果を記憶」とし，ステップＳ５を「１次測定結
果と２次測定結果のベクトル差を算出する」に代えて「２次測定結果と３
次測定結果のベクトル差を算出する」とし，ステップＳ１０を「１次修正
済み？」に代えて「２次修正済み？」とするフローチャートに変更し，そ
の変更したフローチャートに従って処理すると解釈することにより，同一
の回転供試体を２次修正することができ，２次修正まで行うものにも本発
明を適用できると主張する。
しかし，そのような解釈は，引用文献２の明示の記載に反しており，誤
りである。
オ以上のとおり，引用文献２記載の発明においては，Ｎ＋１個目以降の回
転供試体の１次修正のための不釣合い量及び不釣合い位置の修正は，Ｎ＋
１個目以降の回転供試体の１次修正のために用いられるのであって，Ｎ個
目までの回転供試体の２次修正のための不釣合い量及び不釣合い位置の修
正のために用いられるのではないから，引用文献２には，２次修正時に，
「修正不釣合い量Ａ’を（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２，修正不釣合い位置θ’を
θ２＋（θ１−θｄ）として求めるステップ」が記載されているとした審
決の認定は誤りである。
そうすると，上記ステップが引用文献２に記載されていることを前提と
して，①「修正不釣合い量（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２」及び「修正不釣合い位
置θ２＋（θ１−θｄ）」は，本願発明の「第１の測定ステップで測定さ
れた初期不釣合いおよび第１の修正ステップで実際に修正された修正量の
比に基づいて補正」された「残留不釣合い」に相当するとし，②引用文献
２記載の発明を引用発明に適用して相違点に係る本願発明の構成に想到す
ることが容易であるとし，③本願発明の作用効果も格別顕著なものでない
とした審決の各判断も誤りであるということができ，それらの誤りは審決
の結論に影響を及ぼす。
２被告の反論
(1)Ｎ＝１の場合を含むとした認定の誤りに対し
原告は，修正係数の平均値が不釣合い量の補正に使用されるためには，少
なくとも２回以上の修正係数の算出が不可欠であって，Ｎ≠１であり，Ｎ≧
２であると認められるから，Ｎ＝１の場合が含まれていると認定した審決に
は誤りがあると主張する。
しかし，一般にＮ個を示すＮを除数にした計算式の場合，Ｎは１から始ま
る自然数を意味することは計算機技術においては普通のことである。そし
て，引用文献２（甲２）においては，Ｎ個の平均値もＮ個を示すＮを除数に
した計算式であるから，Ｎは１から始まる自然数を意味する。この点は，特
許第２６５９２６８号公報（乙１）の請求項１には，「・・・Ｎ（Ｎ≧１の
整数）回ごとの平均遅延量を求め」と記載がある例に照らしても，明らかで
ある。したがって，引用文献２（甲２）においても，最もシンプルなケース
としてＮ＝１を想定することが可能である。
また，引用文献２（甲２）には，「【０００５】本発明の目的は，ワーク
の不釣り合いを修正するための修正データを正確に生成することができる動
釣合試験機を提供することにある。」と記載され，「【００２６】【発明の
効果】本発明によれば，前後２回の不釣合い測定の結果に基づいて修正補正
値を算出し，測定された不釣合いデータとその修正補正値により修正データ
を算出するようにしたので，修正効率が向上する。」と記載されているよう
に，修正データを正確に生成しようとするものであり，そのために，修正係
数と修正角度を求め，修正不釣合い量及び修正不釣合い位置を計算して修正
データを正確に生成し，正確に修正できるようにするものであるから，平均
値を必須としていないといえる。
したがって，「Ｎ個については，典型的にＮ＝１の場合が含まれているこ
とは自明である」とした審決の認定に誤りはない。
(2)２次測定結果をステップＳ６に用いず，ステップＳ９に対して用いると
した認定の誤りに対し
原告は，引用文献２における「また以上の実施の形態では，１次修正だけ
の場合について説明したが，２次修正まで行なうものにも本発明を適用でき
る。その場合，修正係数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加え
て２次測定結果と３次測定結果のベクトル差を用いることができる。」との
記載（段落【００２２】）等に照らせば，２次測定結果がＮ＋１個目以降の
回転供試体の２次修正のための補正係数及び補正角度の算出に用いられるこ
とは明らかであるから，「２次測定結果（Ａ２，θ２）は，・・・１次測定
結果を用いることが明示されているステップＳ６，即ち【数１】のＡ及びθ
には用いられない。」とした審決の認定は，誤りである，と主張する。
しかし，原告の上記主張は，次のとおり理由がない。すなわち，引用文献
２の【図２】のフローチャートは，段落【００２２】において「また以上の
実施の形態では，１次修正だけの場合について説明したが，２次修正まで行
なうものにも本発明を適用できる。」と記載されているとおり，制御回路Ｃ
Ｕでの不釣合い計測及び１次修正のみではなく，２次修正の不釣合い修正処
理の手順をも示したものである。このフローチャートにおいて，１次修正に
加えて２次修正をも行う不釣合い修正処理の手順を，最もシンプルなＮ＝１
の場合について詳述すると，次のとおりになる。
①ステップＳ１
１次測定（不釣合い量Ａ１と不釣合い位置θ１を含む不釣合いデータ算
出）
②ステップＳ２
１次測定の不釣合い量Ａ１が所定値以下か否かの判定
③ステップＳ３
１次測定か否かの判定。１次測定であるから，ステップＳ４へ。
④ステップＳ４
１次測定結果をメモリＭに格納
⑤ステップＳ９
Ａ’←α・Ａ１
θ’←θ１＋β
段落【００１１】「・・・・・不釣合い量Ａに修正係数αを乗じたものを
修正不釣合い量Ａ’として記憶し，さらに，不釣合い位置θに修正角度βを
加算したものを修正不釣合い位置θ’として記憶する。αの初期値は１，β
の初期値は０である。」との記載から，修正不釣合い量Ａ’がα・Ａ１，す
なわち，Ａ１となり，修正不釣合い位置θ’がθ１＋β，すなわち，θ１と
なる。
⑥ステップＳ１０
１次修正済みか否かの判定
⑦ステップＳ１１
修正不釣合い量Ａ’（＝Ａ１），修正不釣合い位置θ’（＝θ１）にて１
次修正
⑧ステップＳ１
２次測定（不釣合い量Ａ２と不釣合い位置θ２を含む不釣合いデータ算
出）
⑨ステップＳ２
２次測定の不釣合い量Ａ２が所定値以下か否かの判定
⑩ステップＳ３
１次測定か否かの判定。１次測定ではないから，ステップＳ５へ。
⑪ステップＳ５
修正不釣合いベクトル（Ａｄ，θｄ）＝不釣合いベクトル（Ａ１，θ１）
−不釣合いベクトル（Ａ２，θ２）
⑫ステップＳ６
段落【００１５】の記載「ステップＳ６に進むと，１次測定結果の不釣合
い量Ａと不釣合い位置θに基づいて不釣合い量修正係数αｎと不釣合い位置
修正角度βｎを次式により算出する。
【数１】αｎ＝Ａ／Ａｄ…（１）
βｎ＝θ−θｄ…（２）」から，１個目の不釣合い量修正係数α１と
不釣合い位置修正角度β１が以下のように算出される。
α１＝Ａ１／Ａｄ
β１＝θ１−θｄ
⑬ステップＳ７
段落【００１６】の「ステップＳ７で修正係数αｎと修正角度βｎがＮ個
算出されたと判定されるとステップＳ８で次式により，修正係数αｎと修正
角度βｎの平均値α，βを算出する。」の記載から，Ｎ＝１の場合にはこの
段階でＮ個算出されたこととなるからステップＳ８へ。
⑭ステップＳ８
Ｎ＝１であるから
α＝α１
β＝β１
⑮ステップＳ９
段落【００１１】の記載「・・・・・修正係数がＮ個算出されるまでの間
は，初期値１を用いて補正が行なわれるが，Ｎ個の修正係数が算出された後
はその平均値が修正係数αおよび修正角度βとして使用される。」から，こ
の段階では既にＮ＝１個の修正係数が算出されているのであるから，修正係
数α及び修正角度βは初期値（１，０）ではなく，ステップＳ６にて算出さ
れた修正係数α及び修正角度βが用いられることとなる。よって，α＝α１
＝Ａ１／Ａｄ，β＝β１＝θ１−θｄである。
そして，この段階での供試体の（不釣合い量，不釣合い位置）は，２次測
定結果の（Ａ２，θ２）であり，これに対して修正を行うのであるから，ス
テップＳ４に対応する「２次測定結果θ，Ａを記憶」というステップが明記
されていないものの，該ステップを行うことは，技術常識である。よって，
修正不釣合い量Ａ’がα・Ａ２，すなわち，（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２となり，
修正不釣合い位置θ’がθ２＋β，すなわち，θ２＋（θ１−θｄ）とな
る。
⑯ステップＳ１０
ここでは，１次修正に加えて２次修正を行う不釣合い修正処理であるか
ら，「１次修正済み？」ではなく「２次修正済み？」を判定することなり，
２次修正済みではないからステップＳ１１へ進む。すなわち，１次修正に加
えて２次修正を行うのであれば，ステップＳ１０から分岐した１回目の修正
であるステップＳ１１での１次修正と同様に，２回目のステップＳ１０から
分岐した２回目の修正であるステップＳ１１での修正を２次修正とするの
が，ステップＳ１０から分岐してステップＳ１１で修正処理を行う論理の流
れから自然である。また，上記フローの２回目のステップＳ９では，最新の
補正値として２次修正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置が計算
されているのであるから，最新の補正値を用いてステップＳ１１で修正をす
るということになり技術的にも自然であるので，当業者ならそのように解釈
する。
⑰ステップＳ１１
修正不釣合い量Ａ’（＝（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２），修正不釣合い位置θ’
（＝θ２＋（θ１−θｄ））により２次修正を行う。
⑱ステップＳ１
３次測定（不釣合い量Ａ３と不釣合い位置θ３を含む不釣合いデータ算
出）
⑲ステップＳ２
３次測定の不釣合い量Ａ３が所定値以下か否かの判定
⑳ステップＳ１４
良品として搬出
以上①ないし⑳のようにＮ＝１の場合，２次測定結果と３次測定結果のベ
クトル差は，１つ目のワーク（回転供試体）の２次修正の後で計算されるの
で，２次修正までの不釣合い修正では２次測定結果と３次測定結果のベクト
ル差は，そのワークの修正には用いられない。このことは，１次測定結果と
２次測定結果のベクトル差は，１つ目のワークの１次修正の後で計算される
ので，１次修正のみの不釣合い修正では１次測定結果と２次測定結果のベク
トル差は，そのワークの修正には用いられないことと対応している。
また，上記１回目のステップＳ９では，「修正不釣合い量Ａ’」と「修正
不釣合い位置θ’」を算出するための「不釣合い量Ａ」及び「不釣合い位置
θ」に対して１次測定結果（Ａ１，θ１）が用いられるのと同様に，上記２
回目のステップＳ９では「修正不釣合い量Ａ’」と「修正不釣合い位置θ
’」を算出するための「不釣合い量Ａ」及び「不釣合い位置θ」に対して２
次測定結果（Ａ２，θ２）が用いられることは，明らかである。
一方，ステップＳ６の実行は，２次修正前には１度しかなく，このときの
【数１】のＡ及びθとしては１次測定結果（Ａ１，θ１）が用いられ，２次
測定結果（Ａ２，θ２）が用いられるのではない。２次測定結果（Ａ２，θ
２）は，１次測定結果（Ａ１，θ１）との差である（Ａd，θd）の算出に用
いられる。
このように，ステップＳ６とステップＳ９では，数式は同じＡ及びθにて
表現されているが，ステップＳ６のＡ及びθと，ステップＳ９のＡ及びθは
同一のものを意味しているわけではない。審決における，上記「２次測定結
果（Ａ２，θ２）は，ステップＳ９の『不釣合い量Ａ』及び『不釣合い位置
θ』に対して用いられる」との記載部分は，上記のような意味と理解される
べきである。
また，段落【００２２】の記載，すなわち「その場合，修正係数は１次測
定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果と３次測定結果の
ベクトル差を用いることができる。」は，修正係数の個数Ｎが２以上の場合
を想定した記載である。なお，該記載は，修正係数の個数Ｎ＝１の場合が想
定されないことを意味していないし，「２次修正のための補正係数」，すな
わち「２次修正のための修正係数」が「１次修正のための修正係数」とは別
に必ず算出されることまでを意味していない。そして，修正係数の個数Ｎが
２以上の場合には，上記「ステップＳ９」で述べたように，段落【００１
１】の記載「・・・・・修正係数がＮ個算出されるまでの間は，初期値１を
用いて補正が行なわれる・・・・・」から，２次修正における修正係数α及
び修正角度βは初期値（１，０）となり，２次測定結果と３次測定結果のベ
クトル差を用いることにより【数１】に基づいて，α２及びβ２が独立した
値としてα１，β１に追加されることを意味しているのであり，審決の認定
判断に影響するものではない。
したがって，「２次測定結果（Ａ２，θ２）は，・・・１次測定結果を用
いることが明示されているステップＳ６，即ち【数１】のＡおよびθには用
いられない」とした審決の認定に誤りはない。
(3)同一回転供試体の２次修正に補正係数及び補正角度を用いることが記載
されている等と認定判断した誤りに対し
原告は，引用文献２には，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前後の不釣
合測定結果から当該Ｎ個目までの回転供試体の２次修正のための修正不釣合
い量及び修正不釣合い位置を求めることは全く記載されていないし，その示
唆さえもないから，審決が，①引用文献２にその旨が記載されているとした
こと，したがって，②引用文献２記載の２次修正における「修正不釣合い量
（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２」及び「修正不釣合い位置θ２＋（θ１−θｄ）」
は，本願発明の「第１の測定ステップで測定された初期不釣合いおよび第１
の修正ステップで実際に修正された修正量の比に基づいて補正」された「残
留不釣合い」に相当するとしたこと，そして，③引用発明１に，引用文献２
記載の上記技術的事項を適用して相違点に係る本願発明の構成に想到するこ
とが容易であるとしたこと，さらに，④本願発明の作用効果も，格別顕著な
ものではないとしたことは，いずれも誤りであると主張する。
しかし，原告の上記主張は，次のとおり理由がない。
アすなわち，「２次修正」については，引用文献２の【従来技術】として
「【０００３】・・・初期不釣り合いが例えば８００ｍｇであり，残留不
釣り合いの規格値が１００ｍｇである場合，初期不釣り合いのみ修正した
のでは，残留不釣り合いが１００ｍｇ以上となるため，ワークの不釣り合
いが規格値内に納まらず，動釣合試験においてワークが不合格となる確率
が高い。このため，一旦ワークの不釣り合いの修正を行った後，残留不釣
り合いを検出して，最初の加工を行った部分を再度加工することによっ
て，ワークの修正を行っている。」と記載されている。そして，初期不釣
合いの測定が，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前の不釣合測定であ
り，残留不釣合を検出することは，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正後
の不釣合測定である。よって，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前後の
不釣合測定結果から当該Ｎ個目までの回転供試体の２次修正のための不釣
合い量及び不釣合い位置を求めることは，引用文献２に記載されていると
いえる。すなわち，「２次修正」とは，同一の回転供試体に対して１次修
正後，更に修正を施すことであって，その際に，前の修正の結果を考慮
（学習）して後の修正を実施するようにすることは，技術者である当業者
にとって技術常識であるといえる（例えば，引用文献１の【作用】参
照。）。前の修正の結果を考慮（学習）して後の修正を実施することは，
同一の回転供試体についての修正においても，また，Ｎ個目までの回転供
試体での修正後にＮ＋１個目以降の回転供試体を修正する場合にもあては
まる。そして，１次修正の結果を具体的に，どの様に，どの程度考慮する
かが，当業者にとっての技術思想，すなわち，「発明」となる。
イそして，引用文献２は，「【０００５】本発明の目的は，ワークの不釣
り合いを修正するための修正データを正確に生成することができる動釣合
試験機を提供することにある。」と記載しているように，修正データを正
確に生成しようとするものであり，そのために，修正係数と修正角度を求
め，修正不釣合い量及び修正不釣合い位置を計算して修正データを正確に
生成し，正確に修正できるようにする技術思想を開示しているものであ
る。
一方，引用文献２には，主として，複数のワーク（回転供試体）の修正
結果から修正係数αとβを平均値として算出し，他のワーク（回転供試
体）の修正に反映させる技術が記載されているものの，その段落【００２
２】には「また以上の実施の形態では，１次修正だけの場合について説明
したが，２次修正まで行なうものにも本発明を適用できる。その場合，修
正係数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果
と３次測定結果のベクトル差を用いることができる。」と記載されている
のであるから，同一のワーク（回転供試体）に対して１次修正後，更に修
正を施すことも記載されていることが明らかである。そして，これらの修
正において，最もシンプルな場合として，Ｎ＝１の場合が想定され得るこ
とは前記のとおりであり，その際に，１次修正結果が「α＝α１＝Ａ１／
Ａｄ，β＝β１＝θ１−θｄ」という修正値として２次修正に反映させる
こと（前記ステップＳ９）は，前述したとおりである。
そして，引用文献２では，最もシンプルなケースとしてＮ＝１の場合，
最初の回転供試体に対する最初の修正（前記ステップＳ１１）では，回転
供試体に対する測定が初めてであるので，補正のための情報がその測定値
以外に存在せず，不釣合い量修正係数α＝１（初期値），不釣合い位置修
正角度β＝０（初期値）である。
したがって，不釣合い量と不釣合い位置をそのまま修正データとして用
いるので，修正データを正確に生成し，正確に修正できるようにする上記
技術思想は，最初の回転供試体に対する１次修正では用いられていない。
そして，２次修正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置は上記
「ステップＳ９」にて述べたように，計算しており，この計算は，修正デ
ータを正確に生成し，正確に修正できるようにする上記技術思想に則って
おり，２次修正においてそれを実現している。
また，引用文献２の段落【００２２】の記載は，１次修正時に求められ
た修正係数と２次修正時に求められた修正係数とを，独立した修正係数と
して取扱うことまでを意味せず，該２つの修正係数から平均値を算出する
ことを意味すると解される。そして，「・・・用いることができる。」と
記載され「・・・用いる。」とまでは記載されていない。してみると，
「・・・・・２次測定結果と３次測定結果のベクトル差」から２次修正結
果を反映した修正係数を算出することを必須としていないといえる。つま
り，１次修正に加えて２次修正を行う不釣合い修正処理において，Ｎ＝１
の場合を排除していない。
したがって，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前後の不釣合測定結果
から当該Ｎ個目までの回転供試体の２次修正のための修正不釣合い量及び
修正不釣合い位置を求めることは記載されており，引用文献２に「修正不
釣合い量Ａ’を（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２，修正不釣合い位置θ’をθ２＋
（θ１−θｄ）として求めるステップ」が記載されているとした審決の判
断に誤りはない。また，その判断を前提とした容易想到性及び作用効果等
に係る審決の判断にも，誤りはない。
第４当裁判所の判断
当裁判所は，審決には，引用文献２の記載事項の認定等において，(1)Ｎ＝
１の場合を含むとした認定の誤り，(2)２次測定結果をステップＳ６に用い
ず，ステップＳ９に対して用いるとした認定の誤り，(3)同一回転供試体の２
次修正に補正係数及び補正角度を用いることが記載されている等と認定判断し
た誤りがあると判断する。以下，その理由を述べる。
１Ｎ＝１の場合を含むとした認定の誤りについて
審決は，引用文献２記載の技術的事項について，「Ｎ個については，典型的
にＮ＝１の場合が含まれていることは自明である。」（審決書６頁７行，８
行）と認定した。
しかし，審決の上記認定は，次のとおり誤りである。
(1)引用文献２の記載
引用文献２には，次のような記載がある。
「【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は，計測した不釣り合いを修正するための
修正データを生成する動釣合試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】動釣合試験機は，ワークを回転するモータと，ワークの基準
角度位置を検出する基準角度センサと，ワークの不釣り合いを検出する不釣
り合い検出センサと，不釣り合い検出センサからの信号に基づいて不釣り合
いを演算し，基準角度センサからの信号に基づいて不釣り合いの位置を基準
角度からの角度位置として演算する演算回路とを備えている。検出された不
釣り合いはミーリングカッタなどによりワークの表面を切削することにより
修正される。
【０００３】このような動釣合試験機においては，装置やワークの寸法誤差
などによって，不釣り合いの修正後の残留不釣り合いと初期不釣り合いとの
比である縮小率が６／１程度である。このため，初期不釣り合いが例えば８
００ｍｇであり，残留不釣り合いの規格値が１００ｍｇである場合，初期不
釣り合いのみ修正したのでは，残留不釣り合いが１００ｍｇ以上となるた
め，ワークの不釣り合いが規格値内に納まらず，動釣合試験においてワーク
が不合格となる確立が高い。このため，一旦ワークの不釣り合いの修正を行
った後，残留不釣り合いを検出して，最初の加工を行った部分を再度加工す
ることによって，ワークの修正を行っている。
【０００４】【発明が解決しようとする課題】そのため，２次以上の修正作
業が必要となり試験効率が悪い。そこで，ドリルやカッタなどの切削工具の
切削深さと不釣合い量との関係を予め正確に測定して図６のような特性を求
めておき，計測された不釣合いを修正するための切削深さを図６のような特
性から逆算すれば，１次修正だけで不釣合い修正作業を終了する確立が高く
なって試験効率が向上する。しかしながら，図６の特性を求めるにはかなり
の時間を要するため，試験効率の改善が強く望まれている。
【０００５】本発明の目的は，ワークの不釣り合いを修正するための修正デ
ータを正確に生成することができる動釣合試験機を提供することにある。
【０００６】【課題を解決するための手段】本発明は，回転供試体の不釣り
合いを検出して不釣り合いデータを取得し，その不釣り合いデータを修正す
るための修正データを生成する動釣合試験機に適用され，検出された供試体
の不釣合いデータと，その不釣合いデータに応じて修正した後の供試体の不
釣合いデータとに基づいて修正補正値を算出し，検出された不釣合いデータ
を修正補正値で補正して修正データを算出する算出手段を具備するものであ
る。
【０００７】
【発明の実施の形態】
・・・
【００１１】ステップＳ３で第１回目の測定（１次測定）と判定されるとス
テップＳ４に進み，１次測定結果である不釣合い量Ａと不釣合い位置θを制
御回路ＣＵのメモリＭに格納する。不釣合い位置θとは，供試体の角度原点
から不釣合いが存在する位置までの角度で表される。ステップＳ４に続いて
ステップＳ９に進む。ステップＳ９では，不釣合い量Ａに修正係数αを乗じ
たものを修正不釣合い量Ａ’として記憶し，さらに，不釣合い位置θに修正
角度βを加算したものを修正不釣合い位置θ’として記憶する。αの初期値
は１，βの初期値は０である。したがって，後述するように修正係数がＮ個
算出されるまでの間は，初期値１を用いて補正が行われるが，Ｎ個の修正係
数が算出された後はその平均値が修正係数αおよび修正角度βとして使用さ
れる。」
「【００１５】ステップＳ６に進むと，１次測定結果の不釣合い量Ａと不釣
合い位置θに基づいて不釣合い量修正係数αｎと不釣合い位置修正角度βｎ
を次式により算出する。
【数１】αｎ＝Ａ／Ａｄ・・・(1)
βｎ＝θ−θｄ・・・(2)
【００１６】ステップＳ７で修正係数αｎと修正角度βｎがＮ個算出された
と判定されるとステップＳ８で次式により，修正係数αｎと修正角度βｎの
平均値α，βを算出する。
【００１７】
N
【数２】
１
α＝―――−Σαn・・・(3)
n=1Ｎ
N１
β＝―――Σβn・・・(4)
n=1Ｎ
【００１８】その後，上述したとおりステップＳ９において，修正不釣合い
量Ａ’と修正不釣合い位置θ’を算出してステップＳ１０へ進む。ステップ
Ｓ１０で１次修正済みであると判定されるとステップＳ１２において，再度
不釣合い測定を行ないステップＳ１３で不釣合い量が所定値以下であり修正
不要と判定されればステップ１４で良品として搬出し，不釣合い量が所定値
を越えていればステップＳ１５で不良品として搬出する。次いでステップＳ
．
１６で所定個数の供試体が測定され修正されたと判定されれば，この処理を
終了し，そうでなければステップＳ１に戻って次の供試体について不釣合測
定を行なう。」
「【００２１】そして，１次修正後の供試体に対して２次測定を行ない，１
次および２次の不釣合い測定結果の差ベクトル（Ａｄ，θｄ）を算出し，式
（１），（２）から修正係数αｎと修正角度βｎを求める。これらの修正係
数αｎと修正角度βｎがＮ個求まると式（３），（４）により平均された修
正係数αおよび修正角度βが算出される。
【００２２】また以上の実施形態では，1次修正だけの場合について説明し
たが，２次修正まで行なうものにも本発明を適用できる。その場合，修正係
数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果と３次
測定結果のベクトル差を用いることができる。」
「【００２６】
【発明の効果】本発明によれば，前後２回の不釣合い測定の結果に基づいて
修正補正値を算出し，測定された不釣合いデータとその修正補正値により修
正データを算出するようにしたので，修正効率が向上する。」
(2)判断
引用文献２には，以下のとおりの趣旨が記載されている。従来の技術にお
いては，装置やワーク（回転供試体）の寸法誤差などにより初期不釣合いの
修正後に２次以上の修正作業を行うことが必要であり，試験効率が悪いとい
う課題があったが，その課題を解決するため，引用文献２記載の発明は，最
初のＮ個の回転供試体の１次測定結果及び２次測定結果のベクトル差に基づ
いてＮ個の修正係数及び修正角度を取得し，その平均値を用いて，ドリルや
カッタ等の切削特性をも折り込んだ上で適切な補正係数及び補正角度を取得
し，Ｎ＋１個目の回転供試体からは，その平均化された補正係数及び補正角
度による修正のみによって不釣合い量を所定値内に抑え，不釣合い修正作業
を早く終了させ，試験効率（修正効率）を改善させようとするものである。
前記引用文献２では，「平均値α，βを算出する」との記載や「平均され
た修正係数αおよび修正角度βが算出される。」との記載中に「平均」との
文言が用いられていることに照らすならば，平均値を求める基礎となる「修
正係数」や「修正角度」が複数存在することを前提としているといえる。引
用文献２記載の技術事項は，その複数の修正係数αｎ及び修正角度βｎの平
均値を補正係数及び補正角度とするものであるから，Ｎ≧２であることを所
与の事項としているものと解される。
これに対して，被告は，「一般にＮ個を示すＮを除数にした計算式の場
合，Ｎは１から始まる自然数を意味することは計算機技術においては普通の
ことである。」との理由や，特許第２６５９２６８号公報（乙１）の請求項
１には，「・・・前記復号化フレームＮ（Ｎ≧１の整数）回ごとの平均遅延
量を求め」と記載されている例があるとの理由から，引用文献２記載の発明
においてＮ＝１を含むと理解すべきであると主張する。
しかし，引用文献２におけるＮがＮ＝１の場合を含むとの理解は，引用文
献２に記載された前記課題解決のための原理，すなわち最初のＮ個の修正係
数及び修正角度の平均値を用いて適切な補正係数及び補正角度を取得し，Ｎ
＋１個目からはその補正係数及び補正角度による修正のみによって不釣合い
量を所定値内に抑え，試験効率（修正効率）を改善させようとする技術思想
と相容れない解釈であるから，採用することができない。
２２次測定結果をステップＳ６に用いず，ステップＳ９に対して用いるとした
認定の誤りについて
審決は，引用文献２の記載事項について，「２次測定から２次修正までの間
の各ステップでは，２次測定結果（Ａ２，θ２）は，ステップＳ９の『不釣合
い量Ａ』および『不釣合い位置θ』に対して用いられるのであって，１次測定
結果を用いることが明示されているステップＳ６，即ち【数１】のＡおよびθ
には用いられないことは明らかである。」（審決書６頁１９行∼２３行）と認
定した（別紙「引用文献２【図２】」参照）。
しかし，上記審決の認定は，次のとおり，誤りである。
(1)２次測定結果がステップＳ６に用いられないとした認定について
引用文献２の発明では，Ｎ個目までの回転供試体の１次修正時に求められ
た修正係数α及び修正角度βは，Ｎ＋１個目以降の回転供試体の１次修正の
ために別紙「引用文献２【図２】」のフローチャートが実行されたときに，
そのＮ＋１個目以降の回転供試体の１次修正のための修正不釣合い量Ａ’及
び修正不釣合い位置θ’の算出に用いられる。
そして，「また以上の実施の形態では，１次修正だけの場合について説明
したが，２次修正まで行なうものにも本発明を適用できる。その場合，修正
係数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果と３
次測定結果のベクトル差を用いることができる。」（段落【００２２】）と
の記載によれば，Ｎ個目までの回転供試体の２次修正前後の不釣合測定結果
のベクトル差から，２次修正のための補正係数及び補正角度が求められ，こ
の補正係数及び補正角度は，次の修正対象となるＮ＋１個目以降の回転供試
体の２次修正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置の算出に用いら
れるものと理解され，このＮ＋１個目以降の回転供試体の２次修正のための
補正係数及び補正角度を求めるには，上記のとおりＮ個目までの回転供試体
の２次修正前後の不釣合い測定結果である２次測定結果を用ることが必要不
可欠であるから，２次測定結果はステップ６に用いられるものであるといえ
る。
したがって，２次測定から２次修正までの間において「２次測定結果（Ａ
２，θ２）は，・・・１次測定結果を用いることが明示されているステップ
Ｓ６，即ち【数１】のＡおよびθには用いられない」とした審決の上記認定
は，誤りである。
この点について，被告は，Ｎ＝１の場合には，ステップＳ６の実行は，２
次修正前には１度しかなく，このときの【数１】のＡ及びθとしては１次測
定結果（Ａ１，θ１）が用いられ，２次測定結果（Ａ２，θ２）が用いられ
ない旨主張する。
しかし，前記のとおり，引用文献２記載の発明においては，Ｎ＝１の場合
を含まないのであり，被告の上記主張は，その前提において誤りがあるか
ら，採用することができない。
(2)２次測定結果をステップＳ９に対して用いるとした認定について
ア引用文献２記載のステップＳ９においては，別紙「引用文献２【図
２】」記載のとおり，ステップＳ４で記憶された１次測定結果の不釣合い
量及び不釣合い位置θに対して，ステップＳ８で算出された修正係数α及
び修正角度βを用いた修正が行われる。
イこの点について，被告は，当業者の技術常識をもってすれば，ステップ
Ｓ４で２次測定結果を記憶し，その２次測定結果Ａ，θ（不釣合い量，不
釣合い位置）に対してステップＳ９で修正を行うことが理解可能である旨
主張する。しかし，被告のような理解は，前記課題解決のための技術思想
と相容れないし，また【図２】の明示の記載にも反することになるので，
採用の限りでない。したがって，「２次測定結果（Ａ２，θ２）は，ステ
ップＳ９の『不釣合い量Ａ』および『不釣合い位置θ』に対して用いられ
る」とした審決の前記認定も，誤りである。
また，被告は，①Ｎ＝１の場合を含むことを前提すべきであること，②
２回目のステップＳ９では「修正不釣合い量Ａ’」と「修正不釣合い位置
θ’」を算出するための「不釣合い量Ａ」及び「不釣合い位置θ」に対し
て２次測定結果（Ａ２，θ２）が用いられることが明らかであること，③
ステップＳ６とステップＳ９では，数式は同じＡ及びθにて表現されてい
るものの，ステップＳ６のＡ及びθと，ステップＳ９のＡ及びθは同一の
ものを意味するわけではないと解すべきであることを理由として，審決が
「２次測定結果（Ａ２，θ２）は，ステップＳ９の『不釣合い量Ａ』及び
『不釣合い位置θ』に対して用いられる」と認定した点に誤りはないと主
張する。
しかし，被告の上記主張は，以下のとおり理由がない。まず，同主張
は，Ｎ＝１の場合を含むとしている点で，その前提において採用できな
い。また，同主張は，別紙「引用文献２【図２】」では，「ステップＳ
６」と「ステップＳ９」は，いずれも「Ａ」，「θ」と記載されているに
もかかわらず，その記載が同一である点を全く無視して，ステップＳ６で
は，１次測定の結果を意味し，ステップＳ９では，２次測定の結果を意味
するものとの技巧的な解釈をしてみたり，引用文献２の【図２】の明示の
記載に反して，Ｓ４の１次測定結果θ，Ａを記憶を２次測定結果θ，Ａを
記憶であると読み替えをしている点で，合理的な解釈を逸脱していると評
価すべきであるから，同主張を採用することはできない。
３同一回転供試体の２次修正に補正係数及び補正角度を用いることが記載され
ている等との認定について
審決は，①引用文献２には，２次修正時に，「修正不釣合い量Ａ’を（Ａ１
／Ａｄ）・Ａ２，修正不釣合い位置θ’をθ２＋（θ１−θｄ）として求める
ステップ」が記載されていること（審決書６頁下から７行，６行）を前提とし
て，②「引用文献２記載の上記技術的事項の２次修正において用いられる『修
正不釣合い量（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２』および『修正不釣合い位置θ２＋（θ１
−θｄ）』は，本願発明の『第１の測定ステップで測定された初期不釣合いお
よび第１の修正ステップで実際に修正された修正量の比に基づいて補正』され
た『残留不釣合い』に相当する」（審決書７頁５行∼１０行）と認定し，③
「引用発明１に，引用文献２記載の上記技術的事項・・・を適用して，相違点
に係る本願発明の構成」に想到することが容易であると判断し（審決書７頁１
３行∼１７行），④「本願明細書に記載された本願発明の作用効果も，引用発
明および上記技術的事項から当業者が予測できる範囲のものであって，格別顕
著なものとはいえない。」（審決書７頁１８行∼２０行）と判断した。
しかし，審決の上記認定又は判断①ないし④は，いずれも誤りである。
(1)前記のとおり，引用文献２記載の発明は，最初のＮ個の回転供試体の修
正係数及び修正角度の平均値を用いることにより，ドリルやカッタ等の切削
特性をも折り込んだ上での適切な補正係数及び補正角度を取得し，Ｎ＋１個
目の回転供試体からは，その補正係数及び補正角度を用いた修正のみによっ
て不釣合い修正作業を早く終了させ，試験効率（修正効率）を改善させよう
とするものである。したがって，引用文献２には，Ｎ個目までの回転供試体
の１次修正前後の不釣合測定結果から当該Ｎ個目までの回転供試体に対する
２次修正のための修正不釣合い量及び修正不釣合い位置を求めることについ
て，何らの記載もなく，示唆がされているともいえない。
(2)これに対して，被告は，引用文献２の発明の詳細な説明における段落
【００２２】に「また以上の実施の形態では，１次修正だけの場合について
説明したが，２次修正まで行なうものにも本発明を適用できる。その場合，
修正係数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果
と３次測定結果のベクトル差を用いることができる。」と記載されているこ
とを根拠にして，当業者であれば，初期不釣合い及び第１のステップで実際
に修正された修正量の比に基づいて補正された残留不釣合いを用いて同一回
転供試体に対する２次修正を行うことが記載されていると理解し得る旨主張
する（前記第３，２(2)［１３頁∼１８頁］参照）。
しかし，被告の上記主張は採用することができない。
ア前記のとおり，引用文献２記載の発明における課題解決のための技術思
想の特徴は，最初のＮ個目までの修正から得られた修正係数及び修正角度
の平均を用いて，適切な補正係数及び補正角度を獲得し，Ｎ＋１個目から
はその補正係数及び補正角度による修正のみによって不釣合い量を所定値
内に抑えるものであって，２回目までの修正を行う場合にも，１回目と同
様の手順で２回目までの補正係数及び補正角度を算出するものである。
段落【００２２】における「２次修正まで行なうものにも本発明を適用
できる。」との記載部分は，これに続く「その場合，修正係数は１次測定
結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果と３次測定結果の
ベクトル差を用いることができる。」と記載部分を併せて読むならば，Ｎ
個目までの回転供試体の２次測定結果と３次測定結果のベクトル差の平均
から獲得した２次修正用の補正係数及び補正角度をもって，Ｎ＋１個目以
降の回転供試体の２次修正を行い，２回の修正をもって不釣合い量を所定
値内に抑えて試験効率（修正効率）を改善させることを意味するものであ
ると理解するのが自然な解釈である。
被告は，引用文献２には，「同一回転供試体の不釣合いを２回の修正で
仕上げる際に１回目は補正数値を用いずに修正を行い，この１回目の修正
から算出された補正数値をもって２回目の修正を行い，残留不釣合いを極
めて小さい数値にする」という発明の技術思想も開示されていると解すべ
きであると主張する。しかし，「２次修正まで行なうものにも本発明を適
用できる。」との記載部分のみを根拠として，引用文献２記載の発明の技
術思想を，上記のようにｎ＝１の場合も含めて広く理解することは，引用
文献２の発明の前記技術思想の特徴と整合を欠く理解であって賛同できる
ものではない。
イ仮に，被告が主張するように，引用文献２の「２次修正まで行なうもの
にも本発明を適用できる。」との記載部分を「初期不釣合い及び第１のス
テップで実際に修正された修正量の比に基づいて補正された残留不釣合い
を用いて同一回転供試体に対する２次修正を行うこと」の意味と理解した
とするならば，「２次測定結果」と「２次修正が終了した後になって初め
て測定される３次測定結果」のベクトル差を，同一回転供試体の２次修正
のために用いることは，想定できないから，引用文献２の「その場合，修
正係数は１次測定結果と２次測定結果のベクトル差に加えて２次測定結果
と３次測定結果のベクトル差を用いることができる。」との記載を合理的
に理解することが不可能になる。したがって，被告の主張は，採用するこ
とができない。
この点について，被告は，段落【００２２】の後半部分の記載は，修正
係数の個数Ｎが２以上の場合，すなわちＮ＋１個目以降の回転供試体の２
次修正のための記載であると主張する。しかし，被告の主張は，「その場
合，」との文言を無視した恣意的な解釈であるから，採用の限りでない。
(3)以上によれば，引用文献２には，２次修正時に，「修正不釣合い量Ａ’
を（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２，修正不釣合い位置θ’をθ２＋（θ１−θｄ）と
して求めるステップ」（Ｎ個目までの回転供試体の１次修正前後の不釣合測
定結果から当該Ｎ個目までの回転供試体に対する２次修正のための修正不釣
合い量及び修正不釣合い位置を求めること）が記載されているとした審決の
認定は誤りである。
そうすると，上記ステップが引用文献２に記載されていることを前提とし
た審決の各判断，すなわち，①「修正不釣合い量（Ａ１／Ａｄ）・Ａ２」及
び「修正不釣合い位置θ２＋（θ１−θｄ）」は，本願発明の「第１の測定
ステップで測定された初期不釣合いおよび第１の修正ステップで実際に修正
された修正量の比に基づいて補正」された「残留不釣合い」（同一回転供試
体に対する２次修正用の補正係数及び補正角度）に相当するとした判断，②
引用文献２記載の発明を引用発明に適用して相違点に係る本願発明の構成に
想到することが容易であるとした判断，③本願発明の作用効果も格別顕著な
ものでないとした判断は，いずれも誤りであるということができ，それらの
誤りは審決の結論に影響を及ぼすものであるといえる。
４結論
以上によれば，原告主張の取消事由はいずれも理由があり，原告の本訴請求
は理由があるから，これを認容することとし，主文のとおり判決する。
知的財産高等裁判所第３部
裁判長裁判官
飯村敏明
裁判官
大須賀滋
裁判官
齊木教朗
（別紙）引用文献２【図２】

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