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平成２３年１月２０日判決言渡同日原本領収裁判所書記官
平成２０年(ワ)第３６８１４号特許権侵害差止等請求事件
口頭弁論終結日平成２２年１１月９日
判決
神戸市中央区＜以下略＞
原告シスメックス株式会社
同訴訟代理人弁護士岩谷敏昭
同堀田裕二
同訴訟代理人弁理士奥村茂樹
同西野卓嗣
東京都渋谷区＜以下略＞
被告株式会社セイシン企業
同訴訟代理人弁護士上谷清
同永井紀昭
同仁田睦郎
同萩尾保繁
同山口健司
同薄葉健司
同石神恒太郎
同補佐人弁理士水谷好男
主文
１被告は，別紙物件目録記載の製品を製造し，使用し，販売し，輸出し
又は販売の申し出をしてはならない。
２被告は，前項記載の製品を廃棄せよ。
３被告は，原告に対し，１億４６７９万３３８９円及び内金１億円に対
する平成２１年１月２２日から，内金４６７９万３３８９円に対する平
成２２年５月２７日から，各支払済みまで年５分の割合による金員を支
払え。
４原告のその余の請求を棄却する。
５訴訟費用は，これを４００分し，その１を原告の負担とし，その余を
被告の負担とする。
６この判決は，第３項に限り，仮に執行することができる。
事実及び理由
第１請求
１主文第１項及び第２項と同旨
２被告は，原告に対し，１億４７５２万７６１６円及び内金１億円に対する平
成２１年１月２２日から，内金４６９７万５５６６円に対する平成２２年５月
２７日から，内金５５万２０５０円に対する同年１０月２２日から，各支払済
みまで年５分の割合による金員を支払え。
第２事案の概要
本件は，液中の粒子を撮像し，その粒子像を記憶，表示するとともに，粒子像
を画像解析することによって，粒子の大きさや形状に関する情報を求める粒子画
像分析装置についての特許権を有する原告が，被告による別紙物件目録記載の製
品（以下「被告製品」という）の製造，販売等の行為は上記特許権を侵害する。
ものであると主張して，被告に対し，特許法１００条１項に基づく被告製品の製
造，販売等の差止め，同条２項に基づく被告製品の廃棄を求めるとともに，不法
行為に基づく損害賠償として，１億４７５２万７６１６円及び内金１億円に対す
る平成２１年１月２２日（訴状送達の日の翌日）から，内金４６９７万５５６６
円に対する平成２２年５月２７日（訴えの変更（請求の拡張）に係る原告第１１
準備書面送達の日の翌日）から，内金５５万２０５０円に対する同年１０月２２
（（））日再度の訴えの変更請求の拡張に係る原告第１４準備書面送達の日の翌日
から，各支払済みまで民法所定の年５分の割合による遅延損害金の支払を求めた
事案である。
１争いのない事実等（末尾に証拠を掲げていない事実は，当事者間に争いがな
い事実である）。
()当事者1
原告は，臨床検査機器，検査用試薬及び粒子分析機器の製造販売等を業と
する株式会社である。
被告は，粉体設備機器及び粉体測定機器の製造販売等を業とする株式会社
である。
()原告の有する特許権2
原告は，次の特許権（以下「本件特許権」といい，その特許請求の範囲請
求項１の発明を「本件発明１，請求項２の発明を「本件発明２，請求項」」
４の発明を「本件発明４，請求項６の発明を「本件発明６」といい，これ」
らの発明を総称して「本件発明」という。また，本件発明に係る特許を「本
件特許１」などといい，これらの特許を総称して「本件特許，本件特許に」
係る明細書（別紙特許公報及び審決参照）を「本件明細書」という）を有。
する（甲１，１７，１８。）
特許番号第３４１１１１２号
発明の名称粒子画像分析装置
出願日平成６年１１月４日
登録日平成１５年３月２０日
訂正審判確定日平成２１年６月５日
特許請求の範囲（下線部分は，上記訂正（以下「本件訂正」という）に。
より追加された部分である）。
（請求項１）
「粒子懸濁液の流れをシース液で取り囲んだ流れに変換するシースフロー
セルと，変換された懸濁液流に対して光を照射する光照射手段と，照射
された粒子を撮像する撮像手段と，撮像された粒子像を解析する画像解
析手段と，表示手段とを備え，画像解析手段は，撮像された各粒子像の
面積および周囲長についての粒子データを測定し，その粒子データから
粒子の粒径と円形度を算出する算出手段と，粒径による粒度頻度データ
に基づいてヒストグラムを作成すると共に粒径と円形度とに対応する２
つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元ス
キャッタグラムを作成して表示手段にそれぞれ表示する図表作成手段
と，撮像された各粒子像を格納する記憶手段と，記憶手段に格納された
各粒子像を表示手段に一括表示する粒子像呼出手段とからなることを特
徴とする粒子画像分析装置」。
（請求項２）
「画像解析手段が，個々の粒子の円形度から円形度頻度データおよび／又
は円形度の平均値と標準偏差を算出して表示手段に表示する演算手段を
さらに備えてなる請求項１記載の粒子画像分析装置」。
（請求項４）
「シースフローセルが，粒子懸濁液を偏平な流れに変換すると共に，撮像
手段が粒子懸濁液流の偏平な面を撮像することを特徴とする請求項１記
載の粒子画像分析装置」。
（請求項６）
「撮像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれの撮像倍率での粒
径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の粒径測定範囲が互に部
分的にオーバーラップするようにしたことを特徴とする請求項１記載の
粒子画像分析装置」。
()構成要件の分説3
本件発明を構成要件に分説すると，次のとおりである（以下，分説した構
成要件をそれぞれ「構成要件１Ａ」などという。。）
（請求項１）
１Ａ粒子懸濁液の流れをシース液で取り囲んだ流れに変換するシースフ
ローセルと，
１Ｂ変換された懸濁液流に対して光を照射する光照射手段と，
１Ｃ照射された粒子を撮像する撮像手段と，
１Ｄ撮像された粒子像を解析する画像解析手段と，
１Ｅ表示手段とを備え，
１Ｆ画像解析手段は，撮像された各粒子像の面積および周囲長について
の粒子データを測定し，その粒子データから粒子の粒径と円形度を算
出する算出手段と，
１Ｇ粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成すると共
に粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる２次元スキャッ
タ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成して表示手段
にそれぞれ表示する図表作成手段と，
１Ｈ撮像された各粒子像を格納する記憶手段と，
１Ｉ記憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括表示する粒子像呼
出手段とからなること
１Ｊを特徴とする粒子画像分析装置。
（請求項２）
２Ａ画像解析手段が，個々の粒子の円形度から円形度頻度データおよび
／又は円形度の平均値と標準偏差を算出して表示手段に表示する演算
手段をさらに備えてなる
２Ｂ請求項１記載の粒子画像分析装置。
（請求項４）
４Ａシースフローセルが，粒子懸濁液を偏平な流れに変換すると共に，
撮像手段が粒子懸濁液流の偏平な面を撮像する
４Ｂことを特徴とする請求項１記載の粒子画像分析装置。
（請求項６）
６Ａ撮像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれの撮像倍率で
の粒径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の粒径測定範囲が
互に部分的にオーバーラップするようにした
６Ｂことを特徴とする請求項１記載の粒子画像分析装置。
()被告製品の製造，販売及び使用4
被告は，被告製品を製造，販売した。また，被告は，被告の行う受託測定
業務のために，被告製品を使用した。
()被告製品の構成5
ア被告製品の構成を構成要件に分説すると，次のとおりである（以下，分
説された構成要件をそれぞれ「構成１ａ」などという。ただし，被告製品
が構成１ｇの下線部の構成を有するか否かについては，後記のとおり，当
事者間に争いがある。。）
１ａ分散煤に分散された粒子の流れを，分散煤と同じキャリアで挟み込
むシースフローセルを備えている。
１ｂシースフローセル内で偏平になった流れにレンズの焦点が合わせら
れ，カメラで撮影されると共に，この流れに光が照射されるキセノン
ランプを備えている。
１ｃ照射された粒子を撮り込むカメラを備えている。
１ｄ撮り込んだ粒子画像を解析する画像解析手段を備えている。
１ｅ粒子画像や解析結果を表示する表示手段を備えている。
１ｆ撮り込んだ粒子の面積を測定して円相当径を算出する算出手段並び
に撮り込んだ粒子の面積及び周囲長を測定して円形度を算出する算出
手段を備えている。
１ｇ円相当径のヒストグラムを作成すると共に，円相当径をＸ軸とし円
形度をＹ軸としたスキャッタグラムを作成して表示手段にそれぞれ表
示する図表作成手段を備えている。
１ｈ撮り込んだ粒子画像を格納する記憶手段を備えている。
１ｉ記憶手段に格納された粒子像を表示手段に一括表示する粒子像呼出
手段を備えている。
１ｊ粒子画像分析装置である。
２ａ画像解析手段が，個々の粒子の円形度からヒストグラム及び／又は
円形度の平均値と標準偏差を算出して表示手段に表示する演算手段を
備えている。
６ａカメラの倍率は電動レボルバにより自動変更されるようになってお
，，，．，りカメラの測定範囲は１０∼１０００μｍ５０∼５００μｍ
２．５∼２００μｍ，１．０∼９０μｍ及び０．５∼４５μｍの５種
の範囲である。
イ構成１ａないし１ｆ及び１ｈないし１ｊは，構成要件１Ａないし１Ｆ及
び１Ｈないし１Ｊを，構成２ａは構成要件２Ａを，構成１ｂは構成要件４
Ａを，構成６ａは構成要件６Ａを，それぞれ充足する。
２争点
()被告製品は本件発明の技術的範囲に属するか（被告製品は構成要件１Ｇ1
を充足するか（争点１。））
()本件特許は特許無効審判において無効とされるべきものか（争点２。2）
ア訂正要件違反の有無（争点２−１）
イ記載要件違反の有無（争点２−２）
ウ本件発明は進歩性を欠くか（争点２−３）
()原告の損害（争点３）3
３争点に関する主張
()争点１（被告製品は構成要件１Ｇを充足するか）について1
［原告の主張］
ア被告製品は「粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成
する」こと
構成要件１Ｇの「粒径」とは，円相当径のことである。また，構成要件
，「」１Ｇは粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成する
ものであるが，ヒストグラムは頻度データを図面にしたものであるため，
ヒストグラムを作成するには，円相当径の頻度データに基づくほかない。
したがって，構成１ｇの「円相当径のヒストグラムを作成する」とは，
「」。円相当径の頻度データに基づいてヒストグラムを作成することである
よって，構成要件１Ｇの「粒径による粒度頻度データに基づいてヒスト
」，「」グラムを作成すると構成１ｇの円相当径のヒストグラムを作成する
とは，同一である。
イ被告製品は「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる２次元
スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成」するこ
と
(ア)本件発明の技術分野が属する粒子計測分野において権威があるベッ
クマン・コールター社の用語辞典（甲１４）によると「スキャッタグ，
ラム」とは「２パラメータヒストグラム，すなわち「２つのパラメ，」，
ータを用いた頻度分布図」を意味する。
また，本件明細書の発明の詳細な説明には「２次元スキャッタ頻度，
データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成」することについて，
次のとおり記載されている。
「各粒子像の円相当径が求められれば，次にその値をもとにして粒度頻
度データを作成する（ステップＳ１０。工業用の粉体は多種多様で）
粒径も非常に広い範囲に渡っている。従って，一般的に粒径はＬＯＧ
（対数）変換し，ＬＯＧ変換した値を等分割した上で粒度頻度データ
を求める（段落【００３７）。」】
「従って，円相当径がｄ∼（ｄ＋Δｄ）の粒子頻度データは，式（５）
で補正すればよい（段落【００４０）。」】
「例えば，高倍率撮像と低倍率撮像でのオーバーラップ範囲を１５∼３
０μｍとした場合そのオーバーラップ範囲内の粒径ｄ∼ｄ＋Δｄμ，（
ｍ）の粒子頻度値ｆ(ｄ)は，次式で算出する（段落【００４５）。」】
「次に，円相当径と円形度の２つのパラメータによる２次元スキャッタ
頻度データを求める（ステップＳ１１。この場合にも，まず高倍率）
撮像と低倍率撮像のそれぞれに対して２次元頻度データを求める。次
に，粒度頻度データの補正処理と同様に，粒子像の大きさの違いによ
る頻度補正，異なる撮像倍率での試料分析量の違いによる頻度補正を
行う。さらに，異なる撮像倍率でのオーバーラップ測定範囲での２次
元頻度補正を，前記粒度頻度データのつなぎ合わせの時と同様に行
う（段落【００４７）。」】
「以上のようにして求められた頻度データおよび解析結果から，図７，
図８に示すような粒度ヒストグラム，円相当径と円形度の２次元スキ
ャッタグラムおよび平均粒径や５０％径等の解析結果を表示するス，（
テップＳ１３。図７では，横軸をＬＯＧ変換した円相当径，縦軸を）
頻度％と累積％の２つの意味に割当て，累積粒度分布曲線の表示も同
時に表示している。図８に示すスキャッタグラム表示では，横軸をＬ
，，（）ＯＧ変換した円相当径縦軸を円形度としており各分割点ドット
の色を２次元頻度値に応じて変えるようにしている（段落【００。」
５０）】
，「」，，したがって２次元スキャッタ頻度データとは粒度頻度データ
すなわち，粒径がｄ∼（ｄ＋Δｄ）の粒子の頻度値と同様に求められる
ものであり，粒径をｄで表し，円形度をｓで表せば［Ｘ軸，Ｙ軸］＝，
［ｄ∼ｄ＋Δｄ（ｓ∼ｓ＋Δｓ］の領域における頻度データを意（），）
味するものであることが明らかである。本件明細書の段落【００５０】
における分割点ドットとはこのようなｄ∼ｄ＋Δｄｓ「（）」，［（），（
∼ｓ＋Δｓ］の領域（分割」された「幅を持った一定の区間）の）「，」
ことを意味しており，単なる「点」を意味するものではない。同段落が
引用する図８も，縦軸と横軸が一定間隔で区画された枡目を有するよう
に表現され，かつ「各分割点（ドット」は，区画を有する趣旨から，，）
四角形で表現されている。
(イ)構成要件１Ｇの「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによ
る２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作
成」することの意味については，上記(ア)のとおりである。かかる２次
元スキャッタグラムを作成するには，粒径と円形度のいずれかをＸ軸と
し，他の一方をＹ軸としなければならない。
したがって，構成１ｇの「円相当径をＸ軸とし円形度をＹ軸としたス
キャッタグラムを作成」するとは，構成要件１Ｇの「粒径と円形度とに
対応する２つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づい
て２次元スキャッタグラムを作成」することに相当する。被告が作成し
た被告製品のパンフレット（甲５）でも，被告製品の「装置特長」を紹
介する箇所において，明確に「スキャッタグラム等，最適な表現方法，
として見易さを向上させました」と説明されている。。
ウよって，被告製品は，構成要件１Ｇを充足する。
［被告の主張］
ア構成要件１Ｇの「スキャッタグラム」の解釈
(ア)「散布図」について「統計科scatterdiagram,scattergram,scatterplot，
学辞典（乙２）は「２次元観測値を平面上に表示したもの。散布図」，
は２つの変数の間にどのような関連性があるかをみるのに重要な助けに
なる」と説明し，その例として，２つのパラメータを縦軸と横軸にと。
りデータを点で表した図を挙げている（乙２・図４３。また「散布），
（）」，「」（），図について新編統計的方法改訂版乙１はscatterdiagram
「」，互いに関連する二つの変量の関係を図にプロットしたものと定義し
その例として，２つのパラメータを縦軸と横軸にとりデータを点で表し
た図を挙げている（乙１・図９．１．１，図９．２．１。）
なお，ベックマン・コールター社の用語辞典（甲１４）では「スキ，
ャッタグラム」とは「２パラメータヒストグラムのこと」であるとされ
るが，同辞典では「２パラメータヒストグラム」とは「ＦＣＭの表，，
。（），，示法の１種測定された２つの指標パラメーターをＸＹ軸にとり
」，，２次元座標軸上の１つの点として表示する方法と定義しており結局
「スキャッタグラム」とは，測定された２つのパラメータをＸ，Ｙ軸に
とり，２次元座標軸上の１つの「点」として表示する方法をいうものと
定義している。
，「」，「【】」（）一方ヒストグラムとは工業用語大辞典第４版乙３JIS
によれば「測定値の存在する範囲を幾つかの区間に分けた場合，各区，
間を底辺とし，その区間に属する測定値の出現度数に比例する面積をも
つ柱（長方形）を並べた図。区間の幅が一定ならば，柱の高さは各区間
に属する値の出現度数に比例するから，高さに対して度数の目盛を与え
ることができる」とされている。。
(イ)本件明細書の段落【００５０】及び【図面の簡単な説明】では，図
８及び図９が「スキャッタグラム」であるとするが，これらの図は，い
ずれも，２つのパラメータを縦軸と横軸にとり，データを「点」で表し
た図である。なお，図８及び図９では，分割点は四角形であり，幅を持
っているが，これらの図では，各分割点は不規則に点在しており，任意
のＸ及びＹの値を，特に制限なしにとることができるようであるから，
「」。，幅を持った一定の区間とみることはできないこの種のグラフでは
データの認識性を改善するために，各点の大きさを意図的に拡大し，あ
る程度の大きさの四角形や円形等で表現することが，普通に行われてい
る。
【図８】
【図９】
(ウ)以上のことから，構成要件１Ｇの「スキャッタグラム」とは，２つ
のパラメータを縦軸と横軸にとりデータを「点」で表した図をいうもの
と解することができる。
このように「スキャッタグラム」を，ヒストグラムと異なるものと，
して，２つのパラメータを縦軸と横軸にとりデータを「点」で表したも
のと理解することは，本件明細書が，請求の範囲や発明の詳細な説明に
おいて，ヒストグラムとスキャッタグラムとを明確に使い分けているこ
とにも整合する。
なお，構成要件１Ｇは「２次元スキャッタ頻度データに基づいて２，
次元スキャッタグラムを作成」するものであるが，頻度データに基づく
「２次元スキャッタグラム」が，常に，データを「領域」で表示するグ
ラフとなるわけではない「点」であっても，ある一点で重複すること。
は理論上あり得るので，頻度の概念は生じ得る。点が重なる場合に２次
元的に頻度を表示する手法としては，点が重なる場合に点の色を変える
ほか，点を２重丸や３重丸にしたり，点の右肩に数字を入れたりする手
法が存在する（乙１７。本件明細書の「各分割点（ドット）の色を２）
」（【】）次元頻度値に応じて変えるようにしているとの記載段落００５０
は，点が重なる場合に頻度に応じて点の色を変えることを説明したもの
と解するのが相当である。
イ構成要件１Ｇの「２次元スキャッタ頻度データ」の解釈
原告は，構成要件１Ｇの「２次元スキャッタ頻度データ」とは「粒径，
をｄで表し，円形度をｓで表せば［Ｘ軸，Ｙ軸］＝［ｄ∼ｄ＋Δｄ，，（）
（ｓ∼ｓ＋Δｓ］の領域における頻度データを意味する」と主張する。）
しかしながら，本件明細書には「２次元スキャッタ頻度データ」の意，
味について，原告の主張するように明記されてはいない。
また，本件明細書によれば，粒度頻度データの補正は，①粒子像の大き
さの違いによる頻度補正（大きな粒子ほど画面の端にかかる確率が高いた
め，それを考慮して，大きな粒子の粒度頻度データを，より大きな頻度に
補正するもの。段落【００３８】∼【００４０，②異なる撮像倍率で】）
の試料分析量の違いによる補正（段落【００４１】∼【００４２，③】）
異なる撮像倍率での頻度分布をつなぎ合わせる際の補正（それぞれの倍率
で得られた頻度分布曲線同士を滑らかにつなぐための補正。段落【００４
３】∼【００４６，の３段階で行われる。この点，上記②の補正につ】）
いては，円形度頻度データについても，本件明細書に記載された方法に従
って行うことが可能であるが，上記①の補正については，円形度の大小と
画面の端にかかるかどうかは無関係であり，円形度頻度データを粒度頻度
。，，データと同様に補正することはできないまた上記③の補正についても
円形度頻度データの場合は，上記②の補正を終えた後の低倍率撮像での円
形度頻度分布と高倍率撮像での円形度頻度分布は，円形度全域にわたって
オーバーラップしているはずであり，倍率の違いによる円形度頻度の違い
を補正するとしても，粒径の頻度データの補正と同様に行うことができな
いことは，明らかである。このように，本件明細書では，円形度頻度デー
タの補正を具体的にどのようにすべきかが明らかではない。
本件明細書の段落【００４７】には「粒度頻度データの補正処理と同，
様に，粒子像の大きさの違いによる頻度補正，異なる撮像倍率での試料分
析量の違いによる頻度補正を行う。さらに異なる撮像倍率でのオーバーラ
ップ測定範囲での２次元頻度補正を，前記粒度頻度データのつなぎ合わせ
の時と同様に行う」と記載されているものの，上記のとおり円形度の頻。
度補正を具体的にどのように行うべきかが明らかでないのだから「２次，
元頻度データ」の補正を粒度頻度データの補正と同様には行えないことが
明らかである。
以上のとおり，本件明細書からは「２次元スキャッタ頻度データ」の，
具体的な内容及びその算出方法については不明であるといわざるを得な
い。
ウ被告製品は「スキャッタグラム」を作成するものではないこと
原告は，被告製品は構成１ｇ（円相当径のヒストグラムを作成すると「
共に，円相当径をＸ軸とし円形度をＹ軸としたスキャッタグラムを作成し
て表示手段にそれぞれ表示する図表作成手段を備えている）を有する。」
と主張する。しかしながら，被告製品はこのような構成を備えていない。
被告製品の備えている構成は「円相当径のヒストグラムを作成するとと，
もに，円相当径をＸ軸として円形度をＹ軸とし頻度をＺ軸とする３次元ヒ
ストグラムを作成して表示手段にそれぞれ表示する図表作成手段（構成」
１ｇと異なる部分に下線を引いた）である。円相当径と円形度の２次元。
グラフに着目すると，被告製品は，円相当径と円形度のデータを，あらか
じめグラフのＸ軸Ｙ軸を有限の個数２５個に分割して作った枡目幅，（）（
を持った一定の区間）により表示するものである。
この３次元ヒストグラムは，少なくとも，２つのパラメータを縦軸と横
軸にとりデータを「点」で表したものではない以上，構成要件１Ｇの「ス
キャッタグラム」とは明確に異なる。
よって，被告製品は，構成要件１Ｇを充足しない。
()争点２−１（訂正要件違反の有無）について2
［被告の主張］
本件訂正（２次元スキャッタ頻度データに基づいて」との文言の追加）「
により，本件発明１の「２次元スキャッタグラム」が，データを粒子ごとに
「点」で表示するものから「領域」で表示するものとして明確になったと，
いうのであれば，本件訂正は，特許請求の範囲の減縮を目的とするものでな
く，実質上特許請求の範囲を拡張又は変更するものである。したがって，本
件訂正は，訂正要件を欠き，本件特許は無効である（特許法１２３条１項８
号，１２６条１項１号，４項。）
また，本件発明１の特許請求の範囲は，本件訂正前は「２次元スキャッタ
グラム，すなわち「２次元スキャッタ頻度データ」に基づかない「２次元」
スキャッタグラム」であったのに，本件訂正によって「２次元スキャッタ，
頻度データ」に基づく「２次元スキャッタグラム」になったものである。し
たがって，この意味においても，本件訂正は，特許請求の範囲の減縮を目的
とするものではなく，実質上特許請求の範囲を拡張又は変更するものである
から，訂正要件を欠く。
なお，本件明細書の段落【００４７】及び【００５０】には「２次元ス，
キャッタ頻度データや頻度データの文言が散見されるが前記()被」「」，［1
告の主張］のとおり，本件明細書において，頻度データから本件発明１の２
次元スキャッタグラムがどのように作成されるのかについては，具体的には
何ら説明されていない。単に，明細書中に「２次元スキャッタ頻度データ」
や「頻度データ」の文言が散見されることをもって，本件訂正前の「２次元
スキャッタグラム」が「２次元スキャッタ頻度データに基づかない２次元，
スキャッタグラム」のほかに「２次元スキャッタ頻度データに基づく２次，
元スキャッタグラム」を含んでいたということはできない。
［原告の主張］
前記()［原告の主張］のとおり，本件明細書には，当初から，２次元ス1
キャッタグラムは頻度データに基づいて作成すると記載されている。
原告は，本件明細書の発明の詳細な説明の記載を参酌することなく，請求
項１だけを見ると，構成要件１Ｇの「２次元スキャッタグラム」とは「粒径
と円形度の１個１個のデータを点で表したもの」も包含されていると解釈さ
れる可能性があるため，かかる解釈の生じる余地がないよう，本件明細書の
発明の詳細な説明の記載に基づいて「２次元スキャッタグラム」は「２次，
元スキャッタ頻度データに基づいて」作成されるものであると訂正したもの
である。
したがって，本件訂正が特許請求の範囲の減縮に該当することは明らかで
ある。
()争点２−２（記載要件違反の有無）について3
［被告の主張］
本件訂正によって追加された「２次元スキャッタ頻度データに基づいて」
の語そのものが，極めて不明瞭な文言である上，前記()［被告の主張］の1
とおり，本件明細書では定義されておらず，具体的にどのようなデータのこ
とをいうのかについて明確に説明されていない。また「２次元スキャッタ，
頻度データに基づいて」２次元スキャッタグラムを作成するとは，どのよう
なデータ処理を行って２次元スキャッタグラムを作成することをいうのかに
ついても，本件明細書からは明らかでない。
したがって，本件特許は，特許請求の範囲の記載において，特許を受けよ
うとする発明が明確でなく，無効である（特許法１２３条１項４号，３６条
６項２号。）
［原告の主張］
前記()［原告の主張］のとおり，本件明細書の発明の詳細な説明によれ1
ば「２次元スキャッタ頻度データ」とは，粒径をｄで表し，円形度をｓで，
表したとき［Ｘ軸，Ｙ軸］＝［ｄ∼ｄ＋△ｄ（ｓ∼ｓ＋△ｓ］の領域，（），）
における頻度データを意味するものであることが明白である。
したがって，本件特許の特許請求の範囲の記載は明確性要件に違反するも
のではない。
()争点２−３（本件発明の進歩性の有無）について4
［被告の主張］
本件特許は，次のとおり進歩性を欠くものであり，特許法２９条２項によ
り無効とされるべきである。
ア本件発明１は進歩性を欠くこと
本件発明１は，以下のとおり，平成５年１２月に刊行された「粉体およ
び粉末冶金」４０巻１２号所収の論文である「高圧噴霧法により製造され
た粉末の粒子径と粒子形状の関係（乙４。以下「乙４文献」という）」。
に記載された発明に，昭和６０年２月２８日に公開された特開昭６０−３
８６５３号公報（乙２４。以下「乙２４公報」という）に記載された発。
明又は周知技術を適用することにより，当業者が容易に発明をすることが
できたものである。
(ア)乙４文献の記載及び同文献記載の発明と本件発明の一致点
ａ乙４文献は，粉末の粒子径と粒子形状の関係について論じた論文で
，（。「」。）あり画像解析装置以下乙４装置というGalaiCIS-1System
及びその原理が，次のとおり説明されている。
(ａ)セルの中の粒子像を顕微鏡を通してＣＣＤカメラで撮影し，こ
れをフレームメモリに記憶する。画像の濃度分布，粒子濃度からし
きい値を設定し，このしきい値に基づいて粒子像を背景（バックグ
ラウンド）から区別し抽出する（１１７１頁左欄６行∼１２行。）
(ｂ)粒子の面積は，デジタル化された粒子イメージにおけるビット
イメージ数から計算され，周囲長は背景（バックグラウンド）との
境界に接しているビット数から求められる（１１７１頁左欄１２行
∼１５行。）
また，乙４文献では「（以下「ＳＦ」ということが，」ShapeFactor
ある）を「＝４πＡ／Ｐ（ただし，面積をＡとし，周。，ShapeFactor
囲長をＲとする」と定義し（１１７０頁右欄末行∼１１７１頁左。）
欄３行，粒子の分布を，粒子の大きさ（粒子径）及びＳＦとの関係）
で分析し，横軸を粒子径とし縦軸をＳＦとする粒子の分布図（図３）
が示されている。
ｂ乙４文献における「セル「ＣＣＤカメラ」及び「データ処理手」，
段」は，それぞれ，本件発明１における「シースフローセル（構成」
要件１Ａ「撮像手段（構成要件１Ｃ）及び「画像解析手段（構），」」
成要件１Ｄ）に相当する。また，乙４文献における「ＳＦ」は，本件
発明１における「円形度（構成要件１Ｆ」の２乗と一致する。）
ｃしたがって，乙４文献記載の発明と本件発明１とは「粒子懸濁液，
のセルと，粒子を撮像する撮像手段と，撮像された粒子像を解析する
画像解析手段とを備え，画像解析手段は，撮像された各粒子像の面積
および周囲長についての粒子データを測定し，その粒子データから粒
子の粒径と円形度を算出する算出手段とからなることを特徴とする粒
子画像分析装置」である点において，一致する。。
(イ)乙４文献記載の発明と本件発明１の相違点
乙４文献記載の発明と本件発明１とは，以下の点において相違する。
ａ相違点１
本件発明１は「シースフローセル（構成要件１Ａ）及び「光を，」
照射する光照射手段（構成要件１Ｂ）を持つのに対し，乙４文献に」
は「セル」を持つとしか記載されておらず「光照射手段」を有す，，
る点についても記載されていない点（以下「相違点１」という。。）
ｂ相違点２
本件発明１の画像解析手段は「粒径による粒度頻度データに基づ，
いてヒストグラムを作成するとともに粒径と円形度とに対応する２つ
のパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元ス
キャッタグラムを作成して表示手段にそれぞれ表示する図表作成手
段」(構成要件１Ｇ)を有するのに対し，乙４文献には「図表作成手，
段」についての記載がない点（以下「相違点２」という。。）
ｃ相違点３
，「」（），「」（）本件発明１は表示手段構成要件１Ｅ記憶手段同１Ｈ
「」（），，及び粒子像呼出手段同１Ｉを有するのに対し乙４文献には
これらについての記載がない点。また「表示」に関して，本件発明，
１は粒子像を表示手段に一括表示しているのに対し，乙４文献には，
この点についての記載もない点（以下「相違点３」という。。）
(ウ)相違点の容易想到性等
ａ相違点１について
粒子の形状を撮影する際にシースフローセルを用いることは，粒子
分析の技術分野における当業者の慣用的手法である（乙２４・図１Ａ
等。また，乙４装置が光照射手段を備えていたことは，同装置を説）
明する刊行物である「」１３９巻１１号（乙６。以LaboratoryPractice
下乙６文献というにストロボ光源が粒子を照射する１「」。），「。」（
１頁右欄１５行∼１６行）と記載されていることから明らかである。
したがって，相違点１は，実質的な相違点ではない。
ｂ相違点２について
(ａ)乙４装置について説明する刊行物である乙「」（AEROSOLAGE
５。以下「乙５文献」という）には，同装置が表示装置を有する。
こと（２８頁左欄，右欄下から８行）及び同装置を使って粒子を解
析すること（２９頁，３０頁）が説明されている。また，乙５文献
には，粒子データ，ヒストグラムデータ出力が，表示装置を使って
示されている（図３。）
さらに，乙６文献では，乙４装置を使って，セメント粒子及びフ
ライアッシュ（コンクリートの混和材として用いる）を解析して。
おり，その粒子像（図２）及びＳＦのヒストグラム（図３，図４）
が示されること，モニターで粒子像が表示されていること（１２頁
左欄２１行∼２７行）が記載されている。
，，以上のとおり乙４文献と乙５文献及び乙６文献とを併せ読めば
乙４装置が表示装置を備えていること，乙４装置で粒子像を表示す
ること，粒子を解析すること及びヒストグラムを作成し，表示する
ことが示されているといえる。
(ｂ)乙４文献には，前記のとおり，粒子径を横軸としＳＦを縦軸と
するスキャッタグラムが示されている（図３。このスキャッタグ）
ラムは，乙４装置を使って粒子を読み取り（撮像し，解析し，粒）
子の粒子径と円形度についてデータを作成したものである。また，
本件発明１の出願当時，粒径と円形度の２つのパラメータによる２
次元スキャッタグラムを作成し，表示する装置（）は，公知Juliet
の装置であった(乙１５，２２)。
したがって，本件発明１の出願当時の技術水準を考慮し，乙５文
献の図３及び乙６文献の図が乙４装置に具備されている表示装置を
使って表示されるものであること（乙６・１２頁左欄２１行∼２２
行）を勘案すれば，粒径と円形度の２つのパラメータのスキャッタ
グラムを作成し，表示装置で表示することは，容易に想到すること
ができたといえる。
なお，仮に「２次元スキャッタ頻度データ（構成要件１Ｇ），」
の意味について，原告の主張するように「粒径をｄで表し，円形度
をｓで表したとき［Ｘ軸，Ｙ軸］＝［ｄ∼ｄ＋△ｄ（ｓ∼ｓ，（），
＋△ｓ］の領域における頻度データを意味するもの」と解したと）
しても，２つの頻度データで２変数ヒストグラム（領域」で表示「
）（，），するグラフを作成する方法乙１９・１３頁乙２０・６９頁
や，データの数が多い場合に，スキャッタグラムでは図示できない
ため，枡目に分割した相関表，２変数ヒストグラムで表示する方法
（乙２０・６８頁８行∼９行）は，本件発明１の出願当時，当業者
の技術常識であった。
(ｃ)この点は，乙４文献記載の発明と，平成６年７月８日に公開さ
れた特開平６−１８６１５６号公報（乙８。以下「乙８公報」とい
う）記載の発明とを組み合わせることによっても，容易に想到す。
ることができた。すなわち，乙８公報には，粒子の特徴パラメータ
を使って２次元スキャッタグラム及びヒストグラムを作成すること
が記載されており（段落【００２８，乙４文献も乙８公報も，】）
同じく粒子の分析を行うものであり，同じような装置構成を持つも
のであるから，乙８公報に記載された技術的思想を乙４文献記載の
発明に組み合わせて，粒径と円形度の２つのパラメータのスキャッ
タグラムを作成し，表示装置に表示することは，容易に想到するこ
とができたものである。
なお，原告は，後記のとおり，粒径と円形度とに対応する２つの
パラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて作成表示
した２次元スキャッタグラムに，粒径のヒストグラムの表示及び粒
子像の一括表示を併用することで，ヒストグラムや２次元スキャッ
タグラムのどの領域の被測定粒子が凝集しているか否かを知ること
が可能となるなどの効果（本件明細書・段落【００５１】∼【００
５６）が生ずると主張する。しかしながら，これらの効果は，２】
次元スキャッタグラム表示機能や一括表示機能が当然に備える効果
であったり，一括表示機能と２次元スキャッタグラム表示機能の個
々の技術が当然に備える効果の単なる集合の域を出るものではな
く，本件発明１に特有の顕著な作用効果ではない。
ｃ相違点３について
(ａ)「表示手段」について
（），乙５文献に掲載された乙４装置の概観の写真２８頁によれば
同装置は，２つの表示装置を備えており，中央の表示装置には粒子
画像が示され，右の表示装置にはグラフが示されていることが理解
できる。したがって，乙４文献と乙５文献とを併せ読めば，乙４装
置は表示装置を有していることが分かる。
また，粒子画像の表示について，乙２４公報には，粒子の静止画
像を得てその粒子を中央処理装置４６で画像処理した後，色彩モニ
タ５２に表示することが記載されている（４頁右下欄１２行∼５頁
右下欄１０行，図２，図３。さらに，乙２４公報には，粒子画像）
を，粒子の大きさ，色彩形状等の順序で一括表示する技術が開示さ
れている（５頁右下欄１１行∼６頁左上欄７行，図３。なお，粒）
子画像を一括表示するという技術が周知技術であることは，平成５
年に刊行された「」１６巻１号所収の「自動尿沈渣SysmexJournal
分析装置ＵＡの評価」と題する論文（乙９）において，自動-2000
尿沈渣分析装置（ＵＡ）が表示画面において粒子画像を一括-2000
表示している写真（４５頁・写真２∼５）が示されていることから
も明らかである。
(ｂ)「記憶手段」について
記憶装置について，乙２４公報には，画像を記憶している記憶手
段が開示されている（図２。）
(ｃ)「粒子像呼出手段」について
画像呼出手段について，本件明細書では，記憶手段から画像を呼
び出す程度に説明されているが（段落【００１９，乙２４公報】）
においては記憶装置から画像を呼び出しているのであるから，同公
報記載のものも同様に，画像呼出手段を有している。
(ｄ)以上のとおり，相違点３は，乙４文献記載の発明に乙２４公報
記載の発明又は周知技術を適用することにより，当業者が容易に想
到することができたものである。
イ本件発明２が進歩性を欠くこと
本件発明２は「画像解析手段が，個々の粒子の円形度から円形度頻度，
データおよび／又は円形度の平均値と標準偏差を算出して表示手段に表示
する演算手段をさらに備えてなる」ことを規定している。
乙４装置が円形度ヒストグラムを算出し，表示することについては，上
記アのとおりである。また，乙６文献には，円形度の平均値が記載されて
いる（図３，４。そして，この種の装置では統計的処理を行うものであ）
るから，上記の平均値及び標準偏差を算出する程度のことは，当業者の設
計的事項の範囲内のものである。
ウ本件発明４が進歩性を欠くこと
本件発明４は「シースフローセルが，粒子懸濁液を偏平な流れに変換，
すると共に，撮像手段が粒子懸濁液流の偏平な面を撮像する」ことを規定
する。
シースフローが流れを扁平な流れにすることは，乙８公報に記載されて
いる（段落【０００３。】）
エ本件発明６が進歩性を欠くこと
本件発明６は「撮像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれ，
の撮像倍率での粒径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の粒径測
定範囲が互に部分的にオーバーラップするようにした」ことを規定する。
しかしながら，複数の撮像倍率を持つ装置によって粒子を測定するに当
たって，粒径測定範囲のオーバーラップが必要不可欠であることは，当業
者の常識である。粒子全体を測定するためには，低倍率で粒径を測定でき
る範囲と，高倍率で粒径を測定できる範囲とオーバーラップさせなければ
ならないことは，技術的に当然のことを述べているにすぎず，仮に，高倍
率の測定範囲と低倍率の測定範囲とが分離していて，測定範囲のオーバー
ラップがない範囲があるときは，粒子全体を測定することができなくなっ
てしまう。
また昭和６２年に刊行された１０巻１号所収の多，「」「SysmexJournal
項目自動尿分析装置の概要」と題する論文（乙１０。以下YELLOWIRIS
「乙１０文献」という）には「顕微鏡的検査は，まず弱拡大（対物レ。，
ンズ１０倍；以下ＬＰＦ）の分析として，装置による一次分類実施後，
操作者によるマニュアル編集を行う。検体によっては強拡大（対物レンズ
４０倍；以下ＨＰＦ）の分析に移行し，…（１２頁左欄１０行∼１６」
行）と記載されており，同文献に記載されている装置が少なくとも１０倍
及び４０倍の倍率を有していることが明らかである。また，一般に使用さ
れているディスプレイ（表示画像面）では，対物レンズが１０倍の時の粒
径測定範囲の下限が対物レンズが４０倍の時の粒径測定範囲の上限を上回
，，。るのでこれらの対物レンズの粒径測定範囲はオーバーラップしている
［原告の主張］
ア本件発明１は進歩性を有すること
(ア)被告の主張する本件発明１と乙４文献記載の発明との一致点及び相
違点については認める。
(イ)相違点１が実質的な相違点でないことは認める。
(ウ)相違点２についての主張は争う。
乙４文献には「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる，
２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成
する」装置は記載されていない。乙４文献の図３に記載されている散布
図は，乙４文献の筆者が，乙４装置で得られた１個１個の粒径及びＳＦ
のデータを元に，人手によってプロットしたものであり，乙４装置が２
次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成
し，表示したものではない。乙４文献に記載された２次元頻度データに
基づかない粒径と円形度との手書きの相関図を，２次元頻度データに基
づく粒径と円形度との相関図に置換しようという動機付けもない。
また，乙８公報には，単に，２次元スキャッタグラムを作成し得ると
記載されているだけであり，粒径と円形度とに対応する２つのパラメー
タによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラ
。（）ムを作成表示する装置は記載されていない他の乙号証乙１５∼２０
にも，このような２次元スキャッタ頻度データに基づき２次元スキャッ
タグラムを作成表示する装置は一切記載されていない。なお，乙第１８
ないし２０号証には，２変量のデータに基づいて相関図を作成すること
が記載されているものの，これらの記載は，いずれも，相関図を手書き
で作成するものであり，かかる相関図を作成して表示手段に表示する図
表作成手段を備えた装置を開示するものではない。まして，装置で撮像
され算出された粒径と円形度の２次元頻度データに基づいて，当該装置
が粒径と円形度に関する２次元スキャッタグラムを作成することを開示
するものではない。乙第１８ないし２０号証は，一般的な統計学の書物
であって，粒径と円形度との相関図を両者の頻度データに基づいて作成
することが記載されていないし，粒径と円形度との頻度データに基づく
相関図を作成すれば，どのような技術的意義ないし作用効果が奏せられ
るのかについて，記載も示唆もされていない。
本件発明１において「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータ，
による２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラム
を作成」するのは，単にデータ数が多くなったからではない。本件発明
１では，粒径と円形度というパラメータを採用し，その頻度データに基
づいて作成表示した２次元スキャッタグラムに，粒径のヒストグラムの
表示及び粒子像の一括表示を併用することで，ヒストグラム及び２次元
スキャッタグラムと一括表示された実際の粒子像を対比して評価，確認
することができ，またその結果を様々な解析に用いることができる。こ
れにより，例えば，ヒストグラムや２次元スキャッタグラムのどの領域
の被測定粒子が凝集しているかを知ること，凝集した粒子ではなく真の
粒子の粒径及び円形度を知ることなどが可能となる（本件明細書・段落
【】，【】【】，【】【】）。００２０００５１∼００５６００５８∼００６０
しかしながら，乙号各証中には，粒径と円形度の２つのパラメータによ
る２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作
成することについて，何らの記載も示唆もない。
(エ)相違点３について，乙４装置に関して説明している乙５文献に表示
手段が示されていることは認めるが，乙５文献に示されている表示手段
と，構成要件１Ｅの「表示手段」とは，技術的意義が異なる。本件発明
１の「表示手段」は，記憶手段に格納された各粒子像を一括表示するた
めの表示手段であるのに対し，乙５文献に示されている表示手段は，記
憶手段に格納された各粒子像を一括表示するためのものではない。乙５
文献記載の装置に表示されている粒子画像は，測定領域を移動する粒子
がリアルタイムで表示されているものであり，記憶した粒子画像が呼び
出されて表示されているものではない。
また，乙第７，第９号証に，撮像された各粒子像を格納する記憶手段
が記載されていること，乙９号証に，記憶手段に格納された各粒子像を
表示手段に一括表示する粒子像呼出手段が記載されていることは認める
が，本件発明１とは，撮像された各粒子像の意義が異なっている。本件
発明１では，記憶手段に格納され一括表示される粒子像は，おのおの，
粒径と円形度が算出された粒子の像である（なお，原告は，粒径及び円
形度の算出と記憶手段への格納の順序の後先を主張しているのではな
く，記憶手段に格納されている粒子像と，粒径及び円形度が測定された
粒子像とは別物ではなく，記憶手段に格納された粒子像については，す
べて粒径及び円形度が算出されていると主張するものである。他方，。）
乙７号証記載の記憶手段に格納される撮像された粒子像及び乙９号証記
載の記憶手段に格納された一括表示される粒子像は，円形度が算出され
た粒子の像ではない。乙２３号証（蛋白質核酸酵素」臨時増刊号３９「
巻１１号所収の「汎用生物画像解析システム」と題する論文）及び乙２
４公報にも，粒径と円形度が算出された粒子像を一括表示することが記
載されておらず，その他の乙号各証にも，円形度が算出された粒子像を
記憶手段に格納することは記載されていない。
イ本件発明２は進歩性を有すること
円形度頻度データは，乙４文献及び乙６文献に記載されており，乙４装
置は，円形度頻度データを作成，表示するものである。
しかしながら，本件発明２は，本件発明１を引用した発明であり，本件
発明１を技術的に限定したものであるから，本件発明１が進歩性を具備し
ている限り，同様に進歩性を具備する。
ウ本件発明４は進歩性を有すること
シースフローセル中を流れる粒子懸濁液流の扁平な面を撮像すること
は，乙８公報に記載されている。
しかしながら，本件発明４は，本件発明１を引用した発明であり，本件
発明１を技術的に限定したものであるから，本件発明１が進歩性を具備し
ている限り，同様に進歩性を具備する。
エ本件発明６は進歩性を有すること
本件発明６は，本件発明１を引用した発明であり，本件発明１を技術的
に限定したものであるから，本件発明１が進歩性を具備している限り，同
様に進歩性を具備する。
また，乙１０文献に記載されている弱拡大と強拡大による顕微鏡的検査
は，再検査のためのものであり，本件発明６のように，粒子画像分析のた
めに撮像倍率を相違させること，及び各撮像倍率での粒径測定範囲をオー
バーラップさせることという構成要件を採用したものとは，技術的意義が
異なる。原告は，粒子測定においてオーバーラップを行うことは必要不可
欠であって技術常識であると主張するが，そのような事実はない。
()争点３（原告の損害）について5
［原告の主張］
ア原告は本件特許の実施品であるフロー式粒子画像分析装置としてＦ，，「
ＰＩＡ−３０００（以下「原告製品３０００」という）及び「ＦＰＩ」。
Ａ−３０００Ｓ（以下「原告製品３０００Ｓ」といい，原告製品３００」
０と併せて「原告製品」ということがある）を製造，販売及び輸出して。
いる。
，，，イ被告は平成１７年ころから被告製品を製造し平成２２年３月までに
被告製品１７台を販売した。
ウ原告は，被告の本件特許権侵害行為により，次のとおり，少なくとも，
１億４７５２万７６１６円の損害を被った。
(ア)特許法１０２条１項による損害の推定（主位的主張）
ａ「侵害の行為がなければ販売することができた物」
被告製品は，原告製品と市場で競合し，被告製品が販売されなけれ
ば原告製品の需要が喚起される関係にある。なお，被告製品と市場で
競合するのは原告製品だけである。
したがって，原告製品は，被告の「侵害の行為がなければ販売する
ことができた物（特許法１０２条１項）に該当する。」
ｂ原告製品の販売利益
本件では，被告製品と市場で競合する原告製品が２種類あるため，
被告の侵害行為がなければ原告が販売することができた物の単位数量
当たりの「利益」の計算については，原告製品の１台当たりの限界利
益を計算し，それらの加重平均値を求める必要がある。
そうすると，平成１８年度から平成２１年度までの間に販売された
原告製品の１台当たりの限界利益（原告製品の売上高から，材料費，
消耗材料費及び外注加工費を控除した金額）は，別紙「ＦＰＩＡ−。
３０００（Ｓ）限界利益算定表（以下「別紙算定表」という）記」。
載のとおり，原告製品３０００につき●（省略）●円であり，原告製
品３０００Ｓにつき●（省略）●円である。なお，上記「材料費」と
は，原告製品の材料に関する経費であり「消耗材料費」とは，出荷，
前検査に要する試薬等の消耗される材料に関する経費である。また，
「外注加工費」とは，原告製品の組立てを外注委託する場合の加工賃
等である。
また，平成１８年度から平成２１年度までの間に販売された原告製
品は，原告製品３０００が●（省略）●台であり，原告製品３０００
Ｓが●（省略）●台である。
したがって，別紙算定表のとおり，原告製品の１台当たり販売利益
の加重平均は●（省略）●円となり，同金額から原告製品１台当たり
の物流関係変動経費（旅費交通費，運送費，配達費，燃料費及び宿泊
費）である●（省略）●円を控除した●（省略）●円が，原告製品１
台当たりの限界利益となる。なお，原告は，同社の加古川工場（兵庫
県加古川市）で原告製品を製造しており，製造された完成品は，原告
製品も含め定期便により小野物流センター（同県小野市）に一括搬送
される。この加古川工場と小野物流センター間の物流関係費は，定期
便であるから固定費である。したがって，特許法１０２条１項所定の
いわゆる「権利者の限界利益」の算定のために売上から控除される物
流関係変動経費は，小野物流センターから顧客までの間で発生する分
となり，原告製品１台当たりの平均額は●（省略）●円を超えない。
ｃ小括
よって，特許法１０２条１項により推定される原告の損害の額は，
別紙算定表のとおり，１億３４５２万７６１６円となる。
(イ)特許法１０２条２項による損害の推定（予備的主張）
上記イのとおり販売された被告製品の売上高は，総額２億２２７７万
円である。また，上記販売に係る製造原価は総額１億２１７６万８９３
９円であり，販売に係る旅費，交通費は１９８万７６７６円である。
したがって，被告製品の販売による限界利益は，９９０１万３３８５
円であり，これが特許法１０２条２項により推定される原告の損害の額
となる。
(ウ)弁護士費用，弁理士費用
，，，，本件訴訟は専門性が高く弁護士弁理士が代理するのでなければ
。，，，原告による訴訟追行は不可能である加えて本件では訂正審判請求
専門委員同席の技術説明会，並行して進行する仮処分手続等も含め，代
理人らの事務負担は極めて重い。
その他，認容される逸失利益の額等も考慮すれば，被告の行為と相当
因果関係の認められる弁護士，弁理士費用相当額の損害の回復のため，
原告に少なくとも１３００万円の損害賠償請求が認められるべきであ
る。
(エ)合計
以上のとおり，原告の損害の額は，上記(ア)と(ウ)の合計額である１
億４７５２万７６１６円を下らない。
エ遅延損害金の起算日
(ア)内金１億円の遅延損害金の起算日
原告が平成２０年１２月１５日に本件訴訟を提起するまでに販売され
た被告製品の台数は，１２台である。別紙算定表記載の原告製品１台当
（）（），たり限界利益加重平均値に１２台を乗じた額原告の逸失利益に
，，同金額の１割に相当する弁護士弁理士費用相当損害金を加算した額は
１億円を超える。
したがって，上記１億円の損害賠償について，被告は訴状送達の日の
翌日から履行遅滞に陥っているから，内金１億円の遅延損害金の起算日
は，訴状送達の日の翌日となる。
(イ)内金４６９７万５５６６円の遅延損害金の起算日
原告は，原告第１１準備書面により損害賠償請求額を１億４６９７万
５５６６円に拡張した。同時点までに被告が販売した被告製品は，１７
。（）台である別紙算定表記載の原告製品１台当たり限界利益加重平均値
に１７台を乗じた額（原告の逸失利益）に，同金額の１割に相当する弁
護士，弁理士費用相当損害金を加算した額は，上記ウ(エ)のとおり，拡
張後の請求額である１億４６９７万５５６６円を超える。
したがって，上記金額と上記(ア)の１億円の差額である４６９７万５
５６６円については，遅延損害金の起算日は，原告第１１準備書面送達
の日の翌日となる。
(ウ)内金５５万２０５０円の遅延損害金の起算日
原告は，原告第１４準備書面において損害賠償請求額を１億４７５２
万７６１６円に拡張した。拡張部分に相当する５５万２０５０円につい
ては，遅延損害金の起算日は，同準備書面送達の日の翌日となる。
オよって，原告は，被告に対し，不法行為に基づく損害賠償として，合計
１億４７５２万７６１６円及び内金１億円に対する平成２１年１月２２日
（訴状送達の日の翌日）から，内金４６９７万５５６６円に対する平成２
２年５月２７日（原告第１１準備書面送達の日の翌日）から，内金５５万
２０５０円に対する同年１０月２２日（原告第１４準備書面送達の日の翌
日）から，各支払済みまで民法所定の年５分の割合による遅延損害金の支
払を求める。
［被告の主張］
ア被告が被告製品を製造し，平成２２年３月までに被告製品１７台を販売
したこと，上記販売に係る被告製品の売上高が２億２２７７万円であり，
製造原価が１億２１７６万８９３９円であること，旅費，交通費が１９８
万７６７６円であることについては，認める。損害賠償請求権の有無及び
金額については，否認ないし争う。
イ特許法１０２条１項による損害の推定について
(ア)原告製品は，被告の「侵害の行為がなければ販売することができた
物」に当たらないこと
ａ製品仕様の相違
原告製品と被告製品とでは，その具体的仕様において，①原告製品
の測定範囲は０．８∼３００μｍであるのに対し，被告製品の測定範
囲は０．５∼１０００μｍである点，②原告製品の測定粒子の比重は
４以下とされるのに対し，被告製品の場合は制限がない点，③原告製
品は対物レンズが各撮像ユニットに固定されており，対物レンズを交
換するためにはユニット自体の分解，交換，調整が必要となるのに対
し，被告製品は対物レンズを任意に選択することができ，測定領域を
容易に変更することができる点，④原告製品は測定セルが１種類のみ
で固定されているのに対し，被告製品は粗大粒子用セルと標準用セル
を選択することができ，その交換を随時行うことができる点，におい
て相違する。
ｂ粒子測定業界においては，これらの相違点がユーザーによる装置の
購入決定に大きく影響を及ぼしている。ユーザーが実際に測定しよう
とする粒子を測定できない，又は所望の測定データを得られない装置
は，購入される余地がないことは明らかである。
本件においては，販売された被告製品１７台のうち少なくとも１３
台については，測定を希望する粒子が３００μｍ以上のものであった
又は比重が４を超えるものであったものであり，原告製品を選択する
余地がないものであった。
ｃ被告は，被告製品を販売するために，①販促活動（被告製品のカタ
ログ，営業資料の作成，ホームページデータの作成，顧客リストの作
成，ダイレクトメールの送付等，②営業活動（電話営業，訪問営業）
による装置の紹介，展示会，ホームページによる装置の紹介，問合せ
対応，カタログ送付，訪問説明等，③受注活動（被告製品のサンプ）
ルテスト，比較データ作成，装置の持ち込みテスト実施，見積り作成
），（，，，等④受注後の活動被告製品の出荷前装置動作確認納品検収
取扱説明，アフターサービス，軽微なトラブル対応等，などを行っ）
た。また，被告は，粉体工学機器の専門メーカーであり，粒度分布測
定機の販売実績では原告を凌駕する実績を持っている。被告は，昭和
６３年以降「」というスキャッタグラム表示機能を持った形状，Juliet
分布測定機を日本で初めて大々的に販売したものであり，被告製品に
ついても，販売の際に引き合いのあった昔からの被告の顧客がJuliet
購入を希望してきたという経緯がある。
このように，被告の信用に基づいて創出された需要が一定程度存在
するものであり，被告製品を購入した客のすべてが，被告の行為がな
ければ原告製品を購入したなどと，安易に断定することはできない。
また，この種の機器では，２次元スキャッタ頻度データに基づくス
キャッタグラムなのか，通常のスキャッタグラムなのかというデータ
の表示方法の部分は，製品選択の重要な要因となるものではなく，製
品選択の一要素となるにすぎない。
(イ)原告製品の販売利益について
ａ原告製品や被告製品のような製品は，材料を購入すればその後は自
動的に最終製品になるものではなく，製造された装置が実際に正常に
動作することが確認され，顧客が求めるデータを測定できるものとな
っていなければ意味がない。
したがって，原告の「利益」を算定するに当たっては，受け入れ検
査，各種加工，梱包，償却費等の費用も，販売価格から控除すべきで
ある。
ｂ原告製品や被告製品のような製品は，大量生産されている安価な日
用品などとは異なり，１台ごとに，基礎的なテスト，組立て，改良，
ソフトウェアの製作，調整，検査等の種々の製造工程を経なければ最
終製品とはならない。
したがって，１台の製品を追加的に製造するに当たっては，上記の
ような製造工程に要したと評価される人件費その他があるはずである
（そうでなければ，原告製品が被告製品の原材料費の２分の１以下で
製造されるにもかかわらず，最終製品の価格は被告製品と同価格帯で
あることの合理的な説明がつかない）。
，，粒子画像分析装置は粒子を画像として捉える画像処理装置であり
①精密かつ複雑な部品構成であるが故に精度の高い組立技術，②液体
の分散，輸送，回収といった，取扱いが困難な測定サンプル（媒液）
のハンドリング技術，③照明，ＣＣＤカメラによる撮像，光軸調整と
いった専門的知識等熟練を要する光学技術，④ＡＤ変換処理，通信，
表示に至る専門的知識を要する電気技術が要求される。しかも，分析
装置である以上，測定対象の試料を再現性よく分散し，搬送し，画像
を取得し，データとして表現しなければならず，そのためには，非熟
練者ではなし得ない高度の組立ノウハウ，装置知識，測定原理を十分
に理解していることが必須である。原告の社内管理がいかに優れ，コ
，，ストダウンに成功していたとしてもなお相当の労務を要することは
明らかである。
よって，少なくとも，金型等の減価償却費（金型は，性質上，特定
の製品に対応し，当該製品を売り上げるに当たり不可避的に生じる費
用といえる）や，製造加工費としての労務費等は，売上高から控除。
する必要がある。
ｃ旅費，交通費について，原告による立証は何らされていない。また，
被告製品と同程度の費用を支出したとするのであれば，被告が被告製品
の製造に当たって従業員が会議等の移動の際に発生した費用（以下「旅
費，交通費（共通」という（平成２２年３月までで合計３３７万２）。）
７２６円）についても，売上高から控除すべきである。
ｄ原告製品の売上げを立てるためには，原告製品のカタログ，ホームペ
ージデータの作成等に要する費用，原告製品の梱包費，運送，配達，燃
料費等，相当額の販売管理費が投入されているはずである。
したがって，これらの販売管理費についても，売上高から控除すべき
である。
ｅ粒子画像分析装置の納品に際しては，裾付け，調整，測定，検収の作
業等が必ず発生し，これらの作業は専門のサービスマンによって行われ
。，（）るしたがってこれらの費用原告の従業員が行う場合はその労務費
を，売上高から控除すべきである。
ウ特許法１０２条２項による損害の推定について
以下のとおり，被告製品の売上高から被告製品の製造，販売に必要であ
った費用を除くと赤字となるから，被告に被告製品の販売による「利益」
はない。
(ア)売上高（消費税を除く）２億２２７７万円。
(イ)原材料費１億２１７６万８９３９円
(ウ)製造労務費４８３２万５３７２円
被告製品が販売できる状態（最終製品）となるまでには，部品の仕入
れ（上記(イ)）の他に，装置設計，組立て，テスト，調整・改良等の多
数の過程を経ることが必要となる。この過程で生じる費用は，製造労務
費として，製造原価に該当する。被告では，被告荒川工場に所属する少
なくとも５名の従業員が上記過程に従事したことから，製造労務費は，
その給与を基礎に算定した。
(エ)販売管理費５６７９万１３２３円
被告製品の販売にのみ寄与した費用に相当する販売管理費としては，
被告製品の売上げを計上した部署の部署ごとの被告製品売上高×全，「（
販管費−減価償却費）／全売上高」については，売上高から控除するの
が相当である。
(オ)販売促進用機器費１３７２万８５１６円
被告は，被告製品の販売促進のために，平成２０年８月以降，デモン
ストレーション用に被告製品を１台ずつ，被告名古屋支店及び大阪支店
に設置している。この２台のデモンストレーションによる営業活動は，
被告製品の販売に直接貢献しており，平成２０年８月以降，被告製品は
５台販売された。
したがって，上記デモンストレーション用の被告製品の減価償却費及
び同製品の製造に係る労務費については，売上高から控除するのが相当
である。
(カ)旅費，交通費（共通）３３７万２７２６円
旅費，交通費（個別）１９８万７６７６円
被告製品の製造に当たって従業員が会議等の移動の際に発生した費用
（以下「旅費，交通費（共通」という）は，平成２２年３月までで）。
合計３３７万２７２６円である。
また，この種の測定用機器は，ただ販売すればよいというものではな
く，購入者に測定のノウハウを伝える作業や調整作業等をしなければ，
実際には使い物にならない。このような作業のための移動で発生した費
用（以下「旅費，交通費（個別」という）は，合計１９８万７６７）。
６円である。
(キ)小括
上記(ア)から，上記(イ)ないし(カ)の費用を差し引くと，２３２０万
４５５２円の赤字となるしたがって被告製品の販売による被告の利。，「
益（特許法１０２条２項）はない。」
第３当裁判所の判断
１争点１（被告製品は構成要件１Ｇを充足するか）について
「」()被告製品は粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成1
して「表示手段に表示する図表作成手段」を有するか否か
前記第２の１()のとおり，被告製品は「円相当径のヒストグラムを作5，
成」し「表示手段に表示する図表作成手段」を備える（構成１ｇ）もので，
ある。証拠（甲１，乙３）及び弁論の全趣旨によれば，構成要件１Ｇの「粒
径」とは，円相当径のことであり「ヒストグラム」とは頻度データを図面，
にしたものであると認められる。
，「」したがって被告製品の構成１ｇの円相当径のヒストグラムを作成する
とは「粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作成する」こ，
とであるということができるから，被告製品は「粒径による粒度頻度デー，
」「」タに基づいてヒストグラムを作成して表示手段に表示する図表作成手段
を有すると認められる。
()被告製品は「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる２次元2
スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成して表示手
段に表示する図表作成手段」を有するか否か
ア被告製品の構成
（），，（）証拠甲５及び弁論の全趣旨によれば被告製品は円相当径粒径
と円形度の頻度データを，円相当径をＸ軸とし円形度をＹ軸として，あら
かじめＸ軸，Ｙ軸を有限の個数（２５個）に分割して作った枡目（幅を持
った一定の区間）により表示する機能を有していると認められる。
本件では，上記機能が，本件発明の構成要件１Ｇの「粒径と円形度とに
対応する２つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて
２次元スキャッタグラムを作成して表示手段に表示する図表作成手段」に
当たるか否かが問題となる。
イ構成要件１Ｇの「２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャ
ッタグラムを作成（する」の解釈）
(ア)この点について，原告は「２次元スキャッタ頻度データ」とは，，
「粒径をｄで表し，円形度をｓで表せば［Ｘ軸，Ｙ軸］＝［ｄ∼ｄ，（
＋Δｄ（ｓ∼ｓ＋Δｓ］の領域における頻度データ」を意味するも），）
のであり「スキャッタグラム」とは「２パラメータヒストグラム，，，」
すなわち「２つのパラメータを用いた頻度分布図」を意味する，と主，
張する。
これに対し，被告は「スキャッタグラム」とは，測定された２つの，
パラメータをＸ軸，Ｙ軸にとり，２次元座標軸上の１つの「点」として
表示する方法を意味するものであり，また，本件明細書には「２次元，
スキャッタ頻度データ」の意味について，原告の主張するように明記さ
れてはいないと主張する。
(イ)そこで検討するに，証拠（甲１４，乙１，２）及び弁論の全趣旨に
よれば「スキャッタグラム」とは，技術用語であり「互いに関連す，，
る二つの変量の関係を図にプロットしたもの（乙１「２次元観測値」），
を平面上に表示したもの。散布図は２つの変数の間にどのような関連性
があるかをみるのに重要な助けになる」もの（乙２「２パラメータ），
ヒストグラム（測定された２つの指標（パラメーター）をＸ，Ｙ軸にと
，）」（），り２次元座標軸上の１つの点として表示する方法のこと甲１４
などと説明され，これらの文献には，スキャッタグラムの例として，２
つのパラメータを縦軸と横軸にとり，データを点で表した図（乙１・図
９．１．１，乙２・図４３）が挙げられていることが認められる。
上記認定の各文献の記載によれば「スキャッタグラム」とは，広義，
，「」では互いに関連する二つの変量の関係を平面上の図に表示したもの
を意味し，狭義では「測定された２つの指標をＸ，Ｙ軸にとり，２次，
元座標軸上の１つの点として表示する」ものを意味するものと認められ
る。本件発明における「スキャッタグラム」がどのような意味を有する
ものであるかについては，特許請求の範囲の記載からは一義的に明確と
はいえない。
また「２次元スキャッタ頻度データ」という用語が一般的なもので，
ないことについては，当事者間に争いがない。
(ウ)本件明細書の発明の詳細な説明中には，次の記載が存在する。
「産業上の利用分野】この発明は液中の粒子を撮像し，その粒子像を【
記憶，表示するとともに，粒子像を画像解析することによって，粒子の
大きさや形状に関する情報を求める粒子画像分析装置に関する（２。」
頁３欄２８行∼３２行，段落【０００１）】
「従来の技術】ファインセラミックス粒子，顔料，化粧品用パウダー【
等の粉体の品質を管理する上で，粒子の粒径を測定，管理することは非
常に重要である。その測定装置として，古くから液相沈降法，電気的検
知帯法（クールター法）による測定装置があり，最近ではレーザ回析散
乱法による測定装置が広く使用されている（２頁３欄３３行∼３９。」
行，段落【０００２）】
「発明が解決しようとする課題】しかしながら，上記のいづれの方式【
による測定装置においても，その測定精度（正確度）は，いまだに満足
できるものではない。特に，対象とする粒子が偏平であったり細長い形
をしている場合には，測定方法の違いによって，求められる粒径は大き
く異なることがある。また，一般的に微小な粒子は測定中に凝集しやす
く，その場合にも正確な粒度分布を求めることができない。また，粒子
の球形度（円形度）や凝集度合い等に関する情報を，上記従来の粒度分
布測定装置で得ることは困難である（２頁３欄４０行∼５０行，段。」
落【０００３）】
「課題を解決するための手段】この発明は，粒子懸濁液の流れをシー【
ス液で取り囲んだ流れに変換するシースフローセルと，変換された懸濁
液流に対して光を照射する光照射手段と，照射された粒子を撮像する撮
像手段と，撮像された粒子像を解析する画像解析手段と，表示手段とを
備え，画像解析手段は，撮像された各粒子像の面積および周囲長につい
ての粒子データを測定し，その粒子データから粒子の粒径と円形度を算
出する算出手段と，粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラム
を作成すると共に粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる２
次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成し
て表示手段にそれぞれ表示する図表作成手段と，撮像された各粒子像を
格納する記憶手段と，記憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括
表示する粒子像呼出手段とからなることを特徴とする粒子画像分析装置
。」（，【】）を提供するものである３頁５欄１５行∼３１行段落００１１
「この発明の装置の分析対象は，ファインセラミックス，顔料，化粧品用
パウダーのような無機物の粉体および食品添加物のような有機物の粉体
を含むものであり，予め染料や標識試薬によって染色処理された粒子で
あってもよい（３頁５欄３２行∼３６行，段落【００１２）。」】
「作用】シースフローセルは，粒子懸濁液の流れをシース液で取り囲【
み，細いあるいは偏平な流れに変換し，光照射手段は，変換された懸濁
液流に対して光を照射し，撮像手段は，光照射された粒子を撮像する。
画像解析手段は，撮像された粒子像を解析して解析結果を粒子像と共に
表示手段に表示する（３頁６欄１１行∼１７行，段落【００１７）。」】
「つまり，画像解析手段においては，算出手段が，撮像された各粒子像の
面積および周囲長についての粒子データを算出し，そのデータから粒径
と円形度を算出し，図表作成手段が，粒径による粒度頻度データに基づ
いてヒストグラムを作成すると共に，粒径と円形度とに対応する２つの
パラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャ
ッタグラムを作成してそれらを表示手段に表示する（３頁６欄１８。」
行∼２４行，段落【００１８）】
「一方，記憶手段は，撮像された各粒子像を格納し，粒子像呼出手段は，
記憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括表示する。つまり，こ
の粒子分析装置では，撮像された各粒子像から粒子の大きさや周囲長を
求め，また，実際の粒子の形態や凝集状態を一括表示される粒子像で確
認することができる（３頁６欄２５行∼３０行，段落【００１９）。」】
「具体的には，粒子懸濁液を透明なフローセルに導き，その懸濁液を細い
又は偏平な流れにする。その流れに対して光照射することによって，流
れの中の粒子をビデオカメラで撮像する。撮像された各粒子像の投影面
積と周囲長を算出し，次に粒径と円形度を算出する。さらに，粒径によ
る粒度ヒストグラムおよび粒径と円形度の２次元スキャッタグラムを作
成する。この２次元スキャッタグラムと実際の粒子像を評価，確認する
ことによって，粒子の円形度や凝集度合いに関する情報を得ることがで
きる（３頁６欄３１行∼４０行，段落【００２０）。」】
「撮像エリアの面積は，ビデオカメラ１０の受光面に対する結像倍率とそ
のサイズによって決まる。対物レンズ９の倍率を大きくすれば撮像エリ
アが小さくなるが，小さな粒子まで大きく撮像できる。対物レンズ９の
倍率を小さくすれば撮像エリアが大きくなり，大きな粒子を撮像するの
に適している。この装置では，対物レンズ９の倍率を選択あるいは測定
途中に切り換えできるようにしており（図示していない，粒径の測定）
レンジを広くしている（４頁７欄４７行∼同頁８欄６行，段落【０。」
０２７）】
「高性能のパイプライン処理可能な画像処理装置を使用すれば，以上の画
像処理を，１／３０秒ごとに撮像される画面に対してリアルタイムに処
理することができる。この装置では，ある倍率で撮像される複数の画面
に対して上記画像処理を繰り返し行い，次に異なる撮像倍率に切り換え
て撮像し，同様の画像処理を行う。また，撮像されたフレームから粒子
像の切り出しを行い，切り出した粒子像を画像処理装置１１の画像メモ
リに格納する（ステップＳ７（４頁８欄３４行∼４２行，段落【０）。」
０３２）】
「撮像が終了すると（ステップＳ８，各粒子像に対して求められた総画）
素数，総エッジ数，斜めエッジ数から，まず下記の式によって各粒子像
の投影面積Ｓと周囲長Ｌを求める（４頁８欄４３行∼４６行，段落。」
【００３３）】
「次に，上記面積Ｓと周囲長Ｌを用いて円相当径と円形度を求める（ステ
）。（）（「」。）ップＳ９中略円形当径判決注・円相当径の誤記と認める
とは，粒子像の投影面積と同じ面積を持つ円を想定し，その円の直径の
ことであり，式()で表される。円形度とは，例えば式()で定義される34
値であり，粒子像が円形の時に円形度は１になり，粒子像が細長くなれ
ばなるほど円形度は小さい値になる（５頁９欄２行∼７行，段落【０。」
０３５）】
「円相当径＝（粒子投影像面積値／π）×２……()円形度＝（粒子31/2
像と同じ投影面積値を持つ円の周囲長／粒子投影像の周囲長……()））4
（５頁９欄７行∼１０行，段落【００３６）】
「各粒子像の円相当径が求められれば，次にその値をもとにして粒度頻度
データを作成する（ステップＳ１０。工業用の粉体は多種多様で粒径）
。，（）も非常に広い範囲に渡っている従って一般的に粒径はＬＯＧ対数
，。」変換しＬＯＧ変換した値を等分割した上で粒度頻度データを求める
（５頁９欄１１行∼１６行，段落【００３７）】
「ところで，粒子撮像画面（フレーム）において，画面の端にかかる粒子
像からは正しくその粒子の円相当径や円形度を求めることはできない。
従って，画面の端にかかって写っている粒子像は無視する必要がある。
図３に示すように，大きな粒子像ほど画面の端にかかる確率が高いこと
は明らかであり，画像処理法で粒度分布を正しく求めるにはこのことを
考慮しなければならない。そして，粒子像の大きさに応じてその頻度値
を補正する（５頁９欄１７行∼２４行，段落【００３８）。」】
「ビデオカメラ１０の撮像エリアに対して粒子像が十分小さい場合には，
画面の端にかからない粒子像の重心の存在エリアは，ほぼ撮像エリアと
同じである。粒子像が大きい場合ほど，画面の端にかからない粒子像の
重心の存在エリアは，撮像エリアに対して大きく狭まる（５頁１０。」
欄１２行∼１７行，段落【００３９）】
「すなわち，大きな粒子ほど実質の試料分析量が減ることになり，大きな
粒子ほど相対的に頻度が小さくなる。試料分析量は，画面の端にかから
ない粒子像の重心の存在エリアの面積に比例する。従って，円相当径が
ｄ∼（ｄ＋Δｄ）の粒子頻度データは，式()で補正すればよい。つま5
り，頻度補正係数は，（ビデオカメラの撮像エリアの面積）／｛撮（
像エリアＸ方向サイズ）×（撮像エリアＹ方向サイズ｝……()と-d-d5）
なる。ビデオカメラの撮像エリアと画像処理対象エリアが異なる場合に
は，上記撮像エリアを画像処理対象エリアに置き換えて算出する（５。」
頁１０欄１８行∼同頁９欄２９行，段落【００４０）】
「粒度頻度データは，まずそれぞれの撮像倍率で撮像された粒子像に対し
て独立に求める。それぞれの撮像倍率での粒径測定範囲は異なり，例え
ば図６に示すように，高倍率撮像での粒径測定範囲を１∼３０μｍ，低
。，倍率撮像での粒径測定範囲を１５∼３００μｍとしているこの例では
１５∼３０μｍの範囲をオーバーラップさせている（５頁９欄３０。」
行∼３６行，段落【００４１）】
「図６の例は，粒径が１５∼３０μｍの範囲を越えて大きくばらついてい
る粒子の例であり，高倍率撮像と低倍率撮像でのそれぞれの粒度頻度デ
ータをつなぎ合わせる必要がある。そのためには，まずそれぞれの撮像
倍率での試料分析量の比に応じて，次式のような頻度補正を行う必要が
ある。低撮像倍率では撮像エリアが広いので，一般的に試料分析量を多
くすることができる。
（高倍率撮像での頻度値）×（低倍率撮像での試料分析量）／（高倍率
撮像での試料分析量）
なお，試料分析量は（撮像面積）×（粒子懸濁液流の厚み）×（撮，
像フレーム数）で求めることができる（５頁９欄３７行∼５０行，。」
段落【００４２）】
「上記のような試料分析量の違いによる頻度補正を行っても，必ずしもそ
れぞれの頻度データによる頻度分布曲線が滑らかにつながらず，つなぎ
めで段差が生じることがある。その最も大きな原因は，粒子懸濁液の粒
子濃度が薄い場合に，撮像された粒子数が少なくて，図６の破線で示す
ように頻度分布曲線が大きくがたつく場合である（５頁１０欄２７。」
行∼３３行，段落【００４３）】
「他の原因として，対物レンズあるいは投影レンズの倍率が仕様通りの値
になっていないために，高倍率撮像と低倍率撮像での真の試料分析量が
予測とは異なり，上記試料分析量の違いによる頻度補正が正確でなくな
る場合である。ただし，この撮像倍率が不正確であることによる段差の
原因は，あらかじめ測定装置１台ごとに撮像倍率を校正することによっ
て解決することができる。この装置では，異なる撮像倍率での粒径測
定範囲を一部オーバーラップさせ，そのオーバーラップ測定範囲におい
て，それぞれの撮像倍率での頻度値を加重平均するようにしている」。
（５頁１０欄３４行∼４４行，段落【００４４）】
「オーバーラップ測定範囲の上限に近いほど低倍率撮像での頻度値に大き
な重みを付け，下限に近いほど高倍率撮像での頻度値に大きな重みを付
けて加重平均する。このような加重平均法による頻度補正をすることに
よって，撮像粒子数が少ない場合でも，異なる撮像倍率での頻度分布デ
ータを滑らかにつなぎ合わせることができる。例えば，高倍率撮像と低
倍率撮像でのオーバーラップ範囲を１５∼３０μｍとした場合，そのオ
（），ーバーラップ範囲内の粒径ｄ∼ｄ＋Δｄμｍの粒子頻度値ｆ(ｄ)は
次式で算出する（５頁１０欄４５行∼６頁１１欄４行，段落【００。」
４５）】
「ｆ(ｄ)＝高倍率撮像頻度値(ｄ)×（１−（ｄ−）／（−）＋153015）
低倍率撮像頻度値(ｄ)×（１−（−ｄ）／（−）303015）
以上のようにして求められた粒度頻度データを用いて，さらに累積粒度
データを求める。例えば，個数基準の累積粒度データ（％）は，次式で
算出する。
粒度ｄにおける累積粒度(ｄ)＝（粒径ｄ以下の粒子数）×１００／（全
粒子数（６頁１１欄５行∼１２行，段落【００４６））」】
「次に，円相当径と円形度の２つのパラメータによる２次元スキャッタ頻
度データを求める（ステップＳ１１。この場合にも，まず高倍率撮像）
と低倍率撮像のそれぞれに対して２次元頻度データを求める。次に，粒
度頻度データの補正処理と同様に，粒子像の大きさの違いによる頻度補
正，異なる撮像倍率での試料分析量の違いによる頻度補正を行う。さら
，，に異なる撮像倍率でのオーバーラップ測定範囲での２次元頻度補正を
前記粒度頻度データのつなぎ合わせの時と同様に行う（６頁１１欄。」
１３行∼２１行，段落【００４７）】
「上記のようにして求められた粒度頻度データ，累積粒度データ，および
円相当径と円形度の２次元頻度データを用いて，さらに平均粒径，粒径
の標準偏差，モード径，１０％径，５０％径，９０％径，平均円形度，
円形度標準偏差等を算出する（ステップＳ１２（６頁１１欄２２行）。」
∼２７行，段落【００４８）】
「以上のようにして求められた頻度データおよび解析結果から，図７，図
８に示すような粒度ヒストグラム，円相当径と円形度の２次元スキャッ
タグラム，および平均粒径や５０％径等の解析結果を表示する（ステッ
プＳ１３。図７では，横軸をＬＯＧ変換した円相当径，縦軸を頻度％）
と累積％の２つの意味に割当て，累積粒度分布曲線の表示も同時に表示
している。図８に示すスキャッタグラム表示では，横軸をＬＯＧ変換し
た円相当径，縦軸を円形度としており，各分割点（ドット）の色を２次
元頻度値に応じて変えるようにしている（６頁１１欄３４行∼４３。」
行，段落【００５０）】
「この装置では，上記のように撮像した粒子像から円相当径や円形度を求
めるだけでなく，撮像した粒子像を記憶しておき，測定後に大きさ別に
クラス分けして図４に示すように，一括表示する機能も有している。も
っとも，画像を記憶する画像メモリの容量に制限があるので，撮像され
た全ての粒子像を記憶，表示するわけではない。撮像された粒子像を一
括表示できる機能を有しているので，粒子の形態や凝集状態を直接使用
者が確認することができる（６頁１１欄４４行∼１２欄２行，段落。」
【００５１）】
「粒子どうし凝集することが重要な意味を持つような場合には，図４に示
，（），，す各枠内の粒子像について一次単独粒子像か２個凝集粒子像か
３個凝集粒子像か，高次凝集塊か，あるいは対象外の粒子かを，使用者
。，が指定しキーボード１３を用いて入力するその指定結果をもとにして
凝集している粒子の数の比率を自動的に計算することができる。もし，
一括表示された粒子像の中に凝集粒子像が全く無い場合には，上記２次
元スキャッタグラムでの円形度算出値は，真に粒子の円形度を表してい
ると考えてよい（６頁１２欄３行∼１２行，段落【００５２）。」】
「また，上記指定結果をもとにして，一次粒子像だけを対象にして画像解
析し直すこともできる。記憶できる粒子像の数に限りがあるので，再現
性の良い解析結果が得られない場合もあるが，対象外の粒子（ごみ等）
や凝集粒子を除いて解析するので，より正確な粒度分布，円形度が求め
られる（６頁１２欄１３行∼１８行，段落【００５３）。」】
「また，一括表示された粒子像により，使用者が，測定した粒子が球形で
あることを確認した場合には，凝集しやすい粒子でも円形度が１に近い
粒子だけに限定して粒度解析しなおせば，より正確な粒度分布が求めら
れる。また，粒子が球形である場合には，図９に示すように，円相当径
と円形度による２次元スキャッタグラムにおいて，凝集粒子が分布して
いると考えられる領域を推定することもできる（６頁１２欄１９行。」
∼２６行，段落【００５４）】
「図９の例では，点線で囲んだ枠内に分布する粒子は，凝集粒子と推定し
ている。粒径の揃っている球形の粒子が２個凝集あるいは３個凝集した
場合の粒子像では，その投影面積は大きく，円相当径は約√２倍あるい
は√３倍になり，円形度は０．９以下と小さくなる。点線で囲った枠内
の粒子数を計算すれば，粒子凝集度合いに関する指標を求めることがで
きる（６頁１２欄２７行∼３３行，段落【００５５）。」】
「この装置では，図９の例のように円相当径と円形度による２次元スキャ
ッタグラムにおいてある２次元領域を設定し，その領域内あるいは領域
外の粒子のデータだけに限定して粒度解析，円形度解析させることもで
きる。このような機能を利用することによって，ごみや凝集粒子を除い
ての粒度分布や平均円形度を求める，あるいは凝集している粒子数の比
率を推定するといったことが可能になる。このような２次元領域は，測
定する試料の種類ごとに，使用者がキーボード１３やマウスを使って任
意に設定，変更できる（６頁１２欄３４行∼４３行，段落【００５。」
６）】
「以上のように，このフロー方式粒子画像分析装置では，粒子像を使用者
が直接目で確認できることはもちろんのこと，従来の電気的検知帯法や
レーザ解析散乱法の測定装置では得られなかった定量的な情報，すなわ
ち円形度や凝集度合い等の新規の情報が得られる。また，円相当径と円
形度の２次元スキャッタグラムによって，試料中のごみや凝集粒子の分
布領域を推定することができ，その領域内のデータを除外して粒度解析
すれば，より正確な粒度分布が求められる（６頁１２欄４４行∼７。」
頁１３欄２行，段落【００５７）】
「発明の効果】この発明は，次のような効果を奏する。【
１．粒子像を画像解析することによって，粒子の大きさ（円相当径）だ
けでなく，粒子像の周囲長や円形度の情報も求められる（後略（７。）」
頁１３欄３行∼７行，段落【００５８）】
「前略）４．撮像，記憶した粒子像を，測定後に表示手段に一括表示で（
きるので，粒子の形態や凝集状態を容易に確認することができる（７。」
頁１３欄１８行∼２０行，段落【００５９）】
「５．撮像，記憶した粒子像により，粒子が凝集しているかどうかを使用
者が目視で識別分類でき，凝集している粒子の比率を求めることができ
る。
．，６粒子像一括表示により粒子が球形であることが確認された場合には
凝集しやすい粒子でも，円形度が１に近い粒子のデータだけに限定して
粒度解析すれば，より正確な粒度分布が求められる。
．，７粒子像一括表示により粒子が球形であることが確認された場合には
円相当径と円形度の２次元スキャッタグラムから粒子凝集度合いに関す
る指標を得ることができる（７頁１３欄２１行∼３１行，段落【０。」
０６０）】
(エ)本件明細書の上記記載によれば，本件発明において「粒径と円形，
度とに対応する２つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに
基づいて２次元スキャッタグラムを作成」することの技術的意義は，円
相当径（粒径）と円形度による２次元スキャッタグラムと，実際の粒子
像（本件発明では，撮像された粒子像を表示手段に一括表示することが
できる（構成要件１Ｈ，１Ｉ）における粒子の形態や凝集状態を，）。
直接，使用者が評価，確認することによって，粒子の円形度や凝集度合
いに関する情報を得ることにあり（段落【００２０，具体的には，】）
円相当径と円形度による２次元スキャッタグラムにおいて，凝集粒子が
，，分布していると考えられる領域を推定したりある２次元領域を設定し
その領域内又は領域外の粒子のデータだけに限定して粒度解析や円形度
解析をしたり，試料中のごみや凝集粒子の分布領域を推定したり，粒子
像一括表示により粒子が球形であることが確認された場合には粒子凝集
（【】，【】，度合いに関する指標を得たりすること段落００５４００５６
【００５７【００６０）にあると認められる。このように，本件発】，】
明は，２次元スキャッタグラムの「領域」に着目して各種の推定や設定
を行うものである。
また，本件明細書では「２次元スキャッタ頻度データ」とは「円，，
相当径と円形度の２つのパラメータ」による「２次元頻度データ」によ
り求められるもの（段落【００４７【００４８）とされており，円】，】
相当径の頻度データは「工業用の粉体は多種多様で粒径も非常に広い，
」，「（），範囲に渡っていることから一般的に粒径はＬＯＧ対数変換し
ＬＯＧ変換した値を等分割した上で求める（段落【００３７）もの」】
とされ「円相当径がｄ∼（ｄ＋Δｄ）の粒子頻度データ」の補正方法，
を，必要に応じて適用することについて具体的に説明されており（段落
【００４０【００４２【００４５【００４６，円相当径と円】，】，】，】）
形度の２つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データも，粒度頻
度データと同様に求めるものとされている（段落【００４７。そし】）
て「以上のようにして求められた頻度データおよび解析結果から，図，
７，図８に示すような粒度ヒストグラム，円相当径と円形度の２次元ス
キャッタグラム・・・を表示する（ステップＳ１３・・・図８に示，）。
すスキャッタグラム表示では，横軸をＬＯＧ変換した円相当径，縦軸を
円形度としており，各分割点（ドット）の色を２次元頻度値に応じて変
えるようにしている（段落【００５０）と説明されている。。」】
これらの記載に鑑みると，構成要件１Ｇの「２次元スキャッタ頻度デ
ータ」に基づく「２次元スキャッタグラム」とは，粒径と円形度とに対
応する２つのパラメータによる平面を長方形格子に分け，各格子に入る
度数のデータを平面上の図に表したものを意味すると解するのが相当で
ある。また，データが非常に多くなった場合に，１次元ヒストグラムと
同様に平面を長方形格子に分け各格子に入る度数にまとめる方法や統，（
計学辞典（東洋経済新報社。乙１８，２変数データのサイズが極め））
て大きい場合に，２つの変数を階級に分割して度数分布で表示する方法
（統計入門（東大出版会。乙２０）は，統計処理の手法として，本件）
特許の出願当時から広く知られていたものである。
ウ前記アのとおり，被告製品は，円相当径（粒径）と円形度の頻度データ
を，円相当径をＸ軸とし円形度をＹ軸として，あらかじめＸ軸，Ｙ軸を有
限の個数（２５個）に分割して作った枡目（幅を持った一定の区間）によ
り表示する機能を有するものである。本件発明の構成要件１Ｇの「２次元
（）」スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成する
の意味は上記イのとおりであるから，被告製品が同構成要件を充足するこ
とは明らかである。
()以上のとおり，被告製品は構成要件１Ｇを充足する。また，被告製品が3
構成要件１Ａないし１Ｆ，１Ｈないし１Ｊ，２Ａ，４Ａ及び６Ａを充足する
ことについては，前記第２の１()イ記載のとおりである（この点について5
は，当事者間に争いがない。。）
よって，被告製品は本件発明の技術的範囲に属する。
２争点２−１（訂正要件違反の有無）について
被告は，本件発明１の特許請求の範囲は，本件訂正前は「２次元スキャッタ
グラム，すなわち「２次元スキャッタ頻度データ」に基づかない「２次元ス」
キャッタグラム」であったのに，本件訂正によって「２次元スキャッタ頻度，
データ」に基づく「２次元スキャッタグラム」になったものであるから，本件
訂正は，特許請求の範囲の減縮を目的とするものではなく，実質上特許請求の
範囲を拡張又は変更するものであって，訂正要件を欠き無効であるなどと主張
する。
しかしながら，前記１で認定した「スキャッタグラム」という用語の通常の
意味や，本件発明において「粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによ
る２次元スキャッタグラム」を作成することの技術的意義等に鑑みると，本件
訂正前の「２次元スキャッタグラム」が「２次元スキャッタ頻度データに基づ
かない２次元スキャッタグラム」を意味するものと解することはできず，被告
の主張は，その前提を欠くものであって理由がない。本件訂正は，訂正前の構
成要件１Ｇの「２次元スキャッタグラムを作成」を「２次元スキャッタ頻度，
」，データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成に限定したものであるから
特許請求の範囲の減縮を目的とするものであると認められる。
，，，このように本件訂正は特許請求の範囲の減縮を目的としたものであって
特許請求の範囲を実質上拡張又は変更するものではない。被告の主張は理由が
ない。
３争点２−２（記載要件違反の有無）について
被告は，本件訂正によって追加された「２次元スキャッタ頻度データに基づ
いて」との文言について「２次元スキャッタ頻度データ」の語そのものが，，
極めて不明瞭な文言である上，本件明細書では定義されておらず，具体的にど
のようなデータのことをいうのかについて明確に説明されていないものである
ため「２次元スキャッタ頻度データに基づいて」２次元スキャッタグラムを，
作成するとは，どのようなデータ処理を行って２次元スキャッタグラムを作成
することをいうのか明らかではないから，本件特許は特許請求の範囲において
特許を受けようとする発明が明確でなく，記載要件を欠き無効であると主張す
る。
しかしながら，前記１で説示したところによれば「２次元スキャッタ頻度，
データ」の意味については，請求項の記載及び本件明細書の発明の詳細な説明
の記載から明確に理解することができるというべきである。
したがって，被告の主張は理由がない。
４争点２−３（進歩性の有無）について
()本件発明１の進歩性の有無1
被告は，本件発明１は，乙４発明に乙２４公報に記載された発明又は周知
技術を適用することによって当業者が容易に発明をすることができたと主張
する。
ア乙４文献の記載
証拠（乙４）によれば，乙４文献には，以下の記載が存在すると認めら
れる。
「本研究において注目したShapeFactor（以後SFとする）は２次元的な
面積Aと周長Pの比を用いる形状指数であり，次のように定義される。
2(1)
ShapeFactor=4πA/P
水噴霧粒子のSF値の測定にはFig.1に示した画像解析装置（GalaiCIS-1
System）を用いた（１１７０頁右欄１０行∼１１７１頁左欄５行）。」
「分散された粉末粒子の投影像を光学顕微鏡を通じてＣＣＤカメラで512
×512ビットのメモリーフレームに読み取り，画像の濃度分布及び粒子
濃度から設定したしきい値により粒子イメージをバックグラウンドから
抽出する。このデジタル化された粒子イメージにおけるビットイメージ
数により面積，バックグラウンドとの境界に接しているビット数により
周長などが求められ，それを基にSF値や粒子径が求められる（１１。」
７１頁左欄９行∼１６行）
イ乙４文献記載の発明
以上の記載から，乙４文献には「粒子懸濁液のセルと，粒子を撮像す，
るＣＣＤカメラと，撮像された粒子イメージを解析する画像解析手段と，
を備え，画像解析手段は，撮像された各粒子イメージの面積および周長に
ついての粒子データを測定し，その粒子データから粒子の粒子径とＳＦ値
，。」（「」を算出する算出手段からなる画像解析装置の発明以下乙４発明
という）が開示されていると認められる。。
ウ本件発明１と乙４発明との対比
乙４発明における「粒子イメージ「周長「ＣＣＤカメラ「粒子」，」，」，
径」及び「ＳＦ値」は，それぞれ，本件発明１における「粒子像「周」，
囲長「撮像手段「粒径」及び「円形度」に相当する。また，乙４発」，」，
明における「粒子懸濁液のセル」と，本件発明１における「粒子懸濁液の
流れをシース液で取り囲んだ流れに変換するシースフローセルとは粒」，「
子懸濁液の収容手段」という点で一致する。
したがって，本件発明１と乙４発明とは「粒子懸濁液の収容手段と，，
，，粒子を撮像する撮像手段と撮像された粒子像を解析する画像解析手段と
を備え，画像解析手段は，撮像された各粒子像の面積および周囲長につい
ての粒子データを測定し，その粒子データから粒子の粒径と円形度を算出
する算出手段からなる，粒子画像分析装置」である点で一致し，以下の。
点で相違する。
(ア)相違点①
粒子懸濁液の収容手段が，本件発明１では「粒子懸濁液の流れをシ，
」，ース液で取り囲んだ流れに変換するシースフローセルであるのに対し
乙４発明では「粒子懸濁液のセル」である点。また，本件発明１は，，
「変換された懸濁液流に対して光を照射する光照射手段」を有し，これ
に伴い，撮像手段により撮像されるのが「照射された粒子」であるのに
対し，乙４発明は，撮像の際に粒子が照射されるか否かが明確でない点
（以下「相違点①」という。。）
(ウ)相違点②
本件発明１は「表示手段」を有するとともに，本件発明１の「画像解
析手段」は「粒径による粒度頻度データに基づいてヒストグラムを作，
成すると共に粒径と円形度とに対応する２つのパラメータによる２次元
スキャッタ頻度データに基づいて２次元スキャッタグラムを作成して表
示手段にそれぞれ表示する図表作成手段」を有するのに対し，乙４発明
，（「」。）。はこれらの手段を有するか明確でない点以下相違点②という
(エ)相違点③
本件発明１は「撮像された各粒子像を格納する記憶手段」及び「記，
憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括表示する粒子像呼出手
段」を有しているのに対し，乙４発明は，これらの手段を有するか明確
でない点（以下「相違点③」という。。）
エ本件発明１の容易想到性
(ア)相違点①について
証拠（乙４，６，８）によれば，粒子についてその形状を撮影する際
にシースフローセルを用いることは，粒子分析の技術分野における当業
者の慣用手段であること（乙８・段落【０００１【０００３，乙】，】）
４装置は光照射手段を備えていたこと（乙６・１１頁右欄１５行目，）
が認められる。
したがって，粉末粒子をＣＣＤカメラで光学的に読み取る装置である
乙４装置において，読み取りに際し，シースフローセルや光照射手段を
採用することは，当業者が適宜なし得ることであると認められる。
(イ)相違点②及び③について
ａ証拠（乙４∼９，１８∼２０，２３，２４）によれば，①乙４文
献には，横軸を粒子径とし縦軸をＳＦとする粒子の分布図が示されて
いること，②乙５文献及び乙６文献には，乙４装置が表示装置を有
することや，同装置を使って粒子が解析され，粒子データ，ヒストグ
ラムデータ出力が，同装置の表示装置を使って示されることなどが記
載されていること，③データが非常に多くなった場合に，１次元ヒ
ストグラムと同様に平面を長方形格子に分け，各格子に入る度数にま
とめる方法や，２変数データのサイズが極めて大きい場合に，２つの
変数を階級に分割して度数分布で表示する方法は，統計処理の手法と
して，本件特許の出願当時から広く知られていたこと，④乙第７，
９及び２４号証には「粒子を撮像する撮像手段と，表示手段とを備，
え，撮像された各粒子像を格納する記憶手段と，記憶手段に格納され
た各粒子像を表示手段に一括表示する粒子像呼出手段とからなる，粒
子画像分析装置」の発明が開示されていることが認められる。。
そして，被告は，本件発明１は乙４発明に乙２４公報に記載された
発明又は周知技術を適用することにより，当業者が容易に発明するこ
とができたと主張する。
ｂしかしながら，本件発明において「粒径と円形度とに対応する２，
つのパラメータによる２次元スキャッタ頻度データに基づいて２次元
スキャッタグラムを作成して表示手段に表示する図表作成手段（構」
成要件１Ｇ）及び「記憶手段に格納された各粒子像を表示手段に一括
表示する粒子像呼出手段（構成要件１Ｉ）を併せ備える構成をとる」
ことの技術的意義については，上記１のとおり，従前の粒子の測定装
置では，その測定精度が満足できるものではなく，粒子の円形度や凝
集度合い等に関する情報を得ることは困難であったという課題に対
し，円相当径（粒径）と円形度による２次元スキャッタグラムと，実
際の粒子像における粒子の形態や凝集状態を，直接，使用者が評価，
確認することによって，粒子の円形度や凝集度合いに関する情報を得
ることができるようにしたことにある。
このように，本件発明１では，粒子画像分析装置に相違点②及び相
違点③の構成を併せ備えることに重要な技術意義があるところ，乙号
各証には，このような課題及びそれを解決するための手段について，
何らの開示も示唆もない。なお，乙４文献には，粒子径を横軸とし縦
軸をＳＦとする粒子の分布図（図３）が開示されているが，同文献に
おける粒子径とＳＦ値の関係の解析は「粉末微粒化の度合が形状に，
影響を与える」という観点で行われるものであって（乙４・１１７０
頁右下欄５∼８行，粒子の凝集度合いに着目したものではない。ま）
た，乙１８号証ないし２０号証には，２変数平面を長方形格子に分け
各格子に入る度数にまとめ，かつ平面格子を度数に応じて濃淡，色塗
りで表現することなどが開示されているが，これは，粒子の画像解析
に関わらない一般的な知見であって，このような方法をとることによ
って粒子の凝集度合いが得られることを示唆するものではない。その
他の乙号証に記載された発明も，粒子の凝集度合いに着目したものは
存在しない（なお，乙５文献には，画像解析が「凝集体の研究におい
て特に重要である」との記載（２９頁右欄１８行∼３０頁４行）があ
るが抽象的な記載にすぎず本件発明の構成をとることによって凝，，「
集度合い」という定量的な情報が得られることを示唆するものではな
い。。）
ｃそうすると，上記のような相違点②及び③の構成を併せ備えること
の意義を認識していない当業者において，上記相違点②及び③の構成
を併せ持つ構成に想到することが容易であったとは認められない。
ｄよって，本件発明１は，当業者が容易に発明をすることができたと
は認められない。
()本件発明２及び本件発明４について2
，。本件発明２及び本件発明４はいずれも本件発明１を引用した発明である
したがって，本件発明１が進歩性を有する以上，これらの発明も進歩性を有
するといえる。
()本件発明６について3
本件発明６も，本件発明１を引用した発明であり，本件発明１が進歩性を
有する以上本件発明６も進歩性を有するといえるものであるが，本件の事案
に鑑み，次のとおり付言する。
ア本件発明６は「撮像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれ，
の撮像倍率での粒径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の粒径測
定範囲が互に部分的にオーバーラップするようにしたことを特徴とする請
求項１記載の粒子画像分析装置」である。。
被告は「撮像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれの撮像，
倍率での粒径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の粒径測定範囲
」（），が互に部分的にオーバーラップするようにしたこと構成要件６Ａは
乙１０文献に記載されている構成又は当業者の技術常識であるから，本件
発明６は当業者が容易に発明をすることができたものであると主張する。
そこで，構成要件６Ａの構成が乙１０文献に記載されているか，又は当
業者の技術常識であるか否かについて検討する。
イ乙１０文献の記載
証拠乙１０によれば乙１０文献は尿の顕微鏡的検査等を行う多（），，「
項目自動尿分析装置」の概要を示す文献であり，以下の記載が存在すると
認められる。
「顕微鏡的検査は，まず弱拡大（対物レンズ１０倍；以下ＬＰＦ）の分
析として，装置による一次分類実施後，操作者によるマニュアル編集を
行う。検体によっては強拡大（対物レンズ４０倍；以下ＨＰＦ）の分
析に移行し，ＬＰＦと同様の分類・編集を行った後，終了とともに測定
データを一括でプリントアウトする（１２頁左欄１０行∼１７行）。」
「３．測定原理尿沈渣：顕微鏡的検査（中略）顕微鏡を通してビデオカ
メラでフラットシースフローチャンバー内の粒子を捉え，その大きさを
測定し，大きさにより分類する（１３頁左欄１２行∼１３行，１４。」
頁右欄５行∼８行）
ウ乙１０文献記載の発明
(ア)以上の記載から，乙１０文献には「顕微鏡及びビデオカメラにお，
いて対物レンズを用いて粒子を撮影し，対物レンズの１０倍又は４０倍
のいずれかの倍率を選択する手段を有し，それぞれの倍率で粒子の大き
，。」（「」さの測定を行う多項目自動尿分析装置の発明以下乙１０発明
という）が開示されていると認められる。また，乙１０発明における。
「顕微鏡及びビデオカメラ「対物レンズの１０倍又は４０倍のいず」，
れかの倍率「粒子の大きさの測定」及び「多項目自動尿分析装置」」，
は，それぞれ，本件発明６における「撮像手段「撮像倍率「粒径」，」，
測定」及び「粒子画像分析装置」に相当するので，乙１０発明は「撮，
像手段は撮像倍率を選択する手段を有し，それぞれの撮像倍率で粒径測
定を行う，粒子画像分析装置」に相当する構成を備えているというこ。
とができる。しかしながら，乙１０文献中には，乙１０発明が「それ，
ぞれの撮像倍率での粒径測定範囲に違いを持たせるとともに，各倍率の
粒径測定範囲が互に部分的にオーバーラップするようにした」構成を有
する旨の記載は見当たらない。
(イ)これに対し，被告は，一般に使用されているディスプレイ（表示画
像面）では，対物レンズが１０倍の時の粒径測定範囲の下限が対物レン
ズが４０倍の時の粒径測定範囲の上限を上回るので，乙１０文献には上
記対物レンズの粒径測定範囲がオーバーラップしていることが開示され
ていると主張する。
しかしながら，証拠（乙１０）によれば，乙１０文献には上記アの記
載のほかに「３）顕微鏡的検査（ＡＩＭ」として「①円柱」は「／，），
」，「）」，「）」ＬＰＦの検査を②ｂ移行上皮細胞②ｃ腎尿細管上皮細胞
「③ａ）白血球「④赤血球」は「／ＨＰＦ」の検査を「②ａ）扁平」，
上皮細胞」は「／ＨＰＦ」又は「／ＬＰＦ」の検査を，それぞれ行うこ
とが記載されている（１５頁左欄）と認められる。
そうすると，乙１０発明は，測定する特定の種類の粒子については強
拡大（ＨＰＦ）下での検査が必要であるため，弱拡大での一次分類とマ
ニュアル編集後に，強拡大下での分類・編集が必要な粒子が含まれてい
る検体については強拡大の分析をするというものであり「検体によっ，
ては強拡大の分析に移行」するとは，この意味に解される。
したがって，乙１０発明は，各撮像倍率で粒径測定範囲に違いを持た
せるものとも，各倍率の粒径測定範囲が互いに部分的にオーバーラップ
するようにしたものともいえないから，被告の主張は理由がない。
エ被告は，構成要件６Ａの構成は当業者の技術常識であるとも主張する。
しかしながら，同主張を裏付けるに足りる証拠はない。
オよって，本件発明６は，乙１０発明に基づいて容易に発明することがで
きたものとはいえない。
５争点３（原告の損害）について
()特許法１０２条１項による推定1
ア被告製品の販売個数
平成１８年４月から平成２２年３月までに販売された被告製品の数が１
７個であり，そのうち，本件訴訟の提起された平成２０年１２月１５日ま
でに販売された被告製品の数が１２個であることについては，当事者間に
争いがない。
イ「侵害がなければ販売することができた物」
証拠（甲１０，２７）及び弁論の全趣旨によれば，原告は，臨床検査機
，，器検査用試薬及び粒子分析機器の製造販売等を業とする株式会社であり
遅くとも平成１８年４月以後，被告製品と市場において競合する商品（フ
ロー式粒子画像分析装置）である原告製品を製造，販売及び輸出している
ことが認められる。
そうすると，被告が被告製品を製造，販売することにより，原告は原告
製品を販売する機会を失い，原告製品の販売により原告が得ることのでき
た利益相当額の損害を被ったと推定される（特許法１０２条１項。）
ウ「特許権者が販売することができないとする事情」の有無
被告は，①被告製品と原告製品とでは，粒子の測定範囲や測定粒子の
比重，対物レンズが各撮像ユニットに固定されているか，測定セルを選択
することができるかなどの，具体的仕様が異なり，これらの相違点はユー
ザーによる装置の購入決定に大きく影響を及ぼしており，被告が販売した
被告製品１７台のうち１３台については，ユーザーが測定を希望する粒子
が３００μｍ以上のものであった，又は比重が４を超えるものであったこ
，，とから原告製品の仕様ではこれらの粒子を測定することができないため
これらの販売先が原告製品を選択する余地はなかった，②被告は，被告
，（，，，製品を販売するために様々な営業活動販促活動営業活動受注活動
受注後の活動）を行っているほか，被告製品のような粒度分布測定機器の
販売実績では原告を凌駕する実績を持っており，被告製品を購入した客の
すべてが，被告の行為がなければ原告製品を購入したとは断定できない，
③この種の機器では，２次元スキャッタ頻度データに基づくスキャッタ
グラムなのか，通常のスキャッタグラムなのかというデータの表示方法の
部分は，製品選択の重要な要因となるものではなく，製品選択の一要素と
なるにすぎない，として，本件では，原告が原告製品を「販売することが
」（）。できないとする事情特許法１０２条１項ただし書があると主張する
そして，被告は，同主張を裏付ける証拠として，被告製品の購入先からの
注文を受けて被告が作成したという要求仕様書や，購入先が指定した粒子
を被告製品を用いて測定した結果を記載した粒度・形状分布測定機ＰＩＴ
Ａ−１解析結果等（乙４８，５１，５２，５６∼７２）を提出する。
しかしながら，これらの証拠は，肝心の被告製品の販売先（注文者，測
定依頼者）の部分が伏せ字となっている上，仕様を要求した目的，仕様の
詳細等についての記載も，ほとんどが伏せ字とされている。したがって，
これらの証拠だけからは，被告製品の販売先がいかなる目的ないし動機で
被告製品を購入したのか，購入に当たって被告製品のいかなる機能を重視
したのか，原告製品の仕様では上記目的をかなえることができなかったの
か，などといった，原告が原告製品を「販売することができない事情」の
有無を判断するに当たって重要な事情については明らかでないというべき
である。また，上記証拠の他に，被告の主張を裏付けるに足りる客観的な
証拠はない。
これに加えて，被告製品と原告製品とは上記のとおり市場において競合
する商品であって，販売価格も似通っており，これらの製品と市場におい
て競合する他者の製造販売する商品が存在することをうかがわせる事情も
ないことなどを考慮すると，本件では原告が原告製品を「販売することが
できないとする事情」があったとは認めることはできないというべきであ
る。
したがって，被告の主張は理由がない。
エ原告の実施能力
（，，），，証拠甲２７∼２９４３４４及び弁論の全趣旨によれば原告は
年間連結売上高約１１００億円，従業員約１６００人の企業であり，原告
の加古川工場において原告製品その他の臨床検査機器を製造しているこ
と，同工場の従業員は１００名以上おり，原告製品の組立てに従事する者
も複数存在すること，原告製品１台の製造に要する時間は十数時間である
こと，同工場では約３００種類の製品を年間約４万点製造していること，
平成１８年４月から平成２１年３月までの間に原告製品●（省略）●台を
販売したことが認められる。これらの事実によれば，原告は，被告が平成
１８年４月から平成２２年３月までの間に販売した１７台について，これ
に相当する原告製品を製造販売する能力（実施の能力（特許法１０２「」
条１項）を有していたものと認められる。）
オ「単位数量当たりの利益の額」
(ア)「侵害の行為がなければ販売することができた物の単位数量当たり
の利益の額（特許法１０２条１項）とは，仮に，特許権者において侵」
害品の販売数量に対応する数量の権利者製品を追加的に製造販売したと
すれば，当該追加的製造販売により得られたであろう売上額から，追加
的に製造販売するために要したであろう追加的費用（費用の増加分）を
控除した額を，追加的製造販売量で除した額（以下「限界利益」とい）
う）であると解される。。
また，本件では，被告製品と市場で競合する原告製品が２種類（原告
製品３０００，原告製品３０００Ｓ）存在し，証拠（甲２７∼２９）及
び弁論の全趣旨によれば，平成１８年４月から平成２１年３月までの間
に販売された原告製品は，原告製品３０００が●（省略）●台であり，
原告製品３０００Ｓが●（省略）●台であると認められる。このような
販売実績を考慮すると，仮に，被告製品が販売されなければ，原告製品
３０００が●（省略）●台（台×●（省略）●≒●（省略）●台）17
及び原告製品３０００Ｓが●（省略）●台（台×●（省略）●≒●17
（省略）●台）の合計１７台を販売することができたといえる。
(イ)証拠（甲２８∼３８，４０∼４３。枝番号のある書証は，枝番号を
含む）及び弁論の全趣旨によれば，平成１８年度から平成２１年度ま。
での間に販売された原告製品の１台当たり限界利益（原告製品の売上高
から，材料費（原告製品の材料に関する経費，消耗材料費（出荷前検）
査に要する試薬等の消耗される材料に関する経費）及び外注加工費（原
）。），告製品の組立てを外注委託する場合の加工賃等を控除した金額は
別紙算定表記載のとおり，原告製品３０００につき●（省略）●円であ
り，原告製品３０００Ｓにつき●（省略）●円であると認められる。上
記認定の利益額について，その合理性を疑わせるに足りる証拠はない。
したがって，以下の計算式のとおり，原告製品１７台の販売利益合計
１億３５７８万２３８９円から原告製品１台当たりの物流関係変動経費
（旅費交通費，運送費，配達費，燃料費及び宿泊費）である１１万７０
００円の１７台分である１９８万９０００円を控除した１億３３７９万
３３８９円が，原告製品の限界利益となる。
（（）（）（）（））●省略●円×●省略●台＋●省略●円×●省略●台
−円×台＝円117,00017133,793,389
なお，原告は，売上から控除される物流関係変動経費は，小野物流セ
ンターから顧客までの間で発生する分であり，原告製品１台当たりの平
均額は●（省略）●円を超えないと主張するが，同主張を裏付けるに足
りる証拠はない。また，原告の主張する上記金額は，あくまでも，原告
が実際に原告製品を販売した先への運送費であるが，限界利益の算定に
あたって控除すべき運送費は，原告が原告製品を被告製品の販売先に納
入したと仮定した場合に発生する運送費であると解するのが相当である
から，限界利益の算定に当たって控除すべき運送経費については，被告
が被告製品を販売した際に要した費用であると主張する１台当たり１１
万７０００円として計算するのが相当である。
(ウ)これに対し，被告は，原告製品の販売に係る原告の限界利益の算定
に当たっては，原告の主張する費用のほかにも，金型等の減価償却費，
製造加工費としての労務費被告製品の製造に当たって従業員が会議等の
移動の際に発生した費用（旅費，交通費（共通，販売管理費，検収作）
業等の費用についても，原告製品の売上高から控除すべきであると主張
する。
しかしながら，限界利益の意味については上記(ア)のとおりに解する
のが相当であり，特段の事情のない限り，限界利益の算定に当たって，
被告の主張する上記費用を控除すべきであるとはいえない。本件全証拠
を検討しても，原告が主張する以上に，原告が原告製品を販売するに当
たって直接要する具体的な費用と評価すべきものは認められない。
エ小括
よって，特許法１０２条１項により推定される原告の損害は，１億３３
７９万３３８９円となる。また，同金額は，原告が予備的に主張する，特
許法１０２条２項により推定される損害額を上回る。
()弁護士費用等2
原告は弁護士及び弁理士を選任して本件訴訟を追行しているところ，本件
事案の内容，認容額及び本件訴訟の経過等を総合すると，上記特許権侵害行
為と相当因果関係のある弁護士費用及び弁理士費用の額は１３００万円と認
められる。
()合計3
したがって，被告は，原告に対し，上記()及び()の合計額である１億４12
６７９万３３８９円及び内金１億円に対する平成２１年１月２２日（訴状送
達の日の翌日）から，内金４６７９万３３８９円に対する平成２２年５月２
（（））７日訴えの変更請求の拡張に係る原告第１１準備書面送達の日の翌日
から，各支払済みまで民法所定の年５分の割合による遅延損害金を支払う義
務がある。なお，原告は，損害賠償の内金１億円については訴状送達の日の
翌日からの遅延損害金を請求しているところ，本件訴訟の提起までに販売さ
れた被告製品は１２台であるから，その限界利益に弁護士費用（同利益の１
割相当額）を加算した金額は１億円を超えることが明らかである（仮に，１
２台のうち１１台が限界利益の少ない原告製品３０００であったとしても，
これに原告製品３０００Ｓ１台を加えた限界利益は●（省略）●円となり，
，（），これに弁護士費用弁理士費用相当額上記利益の１割相当額を加えると
１億円を超える。。）
６結論
以上のとおり，被告製品は本件発明の技術的範囲に属し，本件特許は無効に
されるべきものとは認められないから，原告の特許法１００条１項に基づく被
告製品の製造，使用，販売，輸出及び販売の申し出の差止め並びに同条２項に
基づく被告製品の廃棄請求は，理由がある（なお，本件では，被告が被告製品
を輸出したことを認めるに足りる証拠はないが，証拠（甲８，９）及び弁論の
全趣旨によれば，被告は，被告製品の英語版パンフレットを作成したり，英語
，，，圏韓国語圏向けのホームページを開設していることが認められるので今後
被告製品を輸出するおそれがあると認められる。。）
また，本件特許権侵害を理由とする損害賠償請求は，上記５で認定した限度
で理由がある。
よって，原告の請求は主文第１項ないし第３項の限度で理由があるからこれ
を認容し，その余の請求は理由がないからこれを棄却し，仮執行宣言について
は，主文第１項及び第２項については相当でないからこれを付さないこととし
主文のとおり判決する。て，
東京地方裁判所民事第４７部
裁判長裁判官阿部正幸
裁判官山門優
裁判官小川卓逸
別紙
物件目録
被告製造にかかる，製品名を「ＰＩＴＡ−１」とする粒度・形状分布測定器
（その余の別紙は省略）

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