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平成２１年１０月２８日判決言渡
平成２０年(行ケ)第１０４８９号審決取消請求事件
口頭弁論終結日平成２１年９月２日
判決
原告浜松ホトニクス株式会社
訴訟代理人弁護士岡崎士郎
訴訟代理人弁理士長谷川芳樹
同城戸博兒
同柴田昌聰
同野田雅一
被告スンチェ・ハイテック・カンパニー・リミテッド
訴訟代理人弁理士大槻聡
主文
１原告の請求を棄却する。
２訴訟費用は，原告の負担とする。
事実及び理由
第１請求
特許庁が無効２００６−８０２０９号事件について平成２０年１１月１９日に
した審決を取り消す。
第２事案の概要
以下は，いずれも，争いない事実又は証拠により容易に認定できる事実であ
る。
１手続の概要等
(1)設定・登録
原告は，平成４年５月１３日，発明の名称を「物体の電位を変化させる方
法，および所定帯電物体の除電方法」とする発明について特許出願（特願平
４−１２０５０７号）をし，平成１１年７月９日，設定登録（特許第２９５
１４７７号，請求項の数２，以下「本件特許」という。）を受けた。
(2)第１次審決と差戻し決定
被告は，平成１８年１０月１７日，本件特許の無効審判請求（無効２００
６−８０２０９号事件）をした。特許庁は，平成１９年６月１５日，「特許
第２９５１４７７号の請求項１及び２に係る発明についての特許を無効とす
る。」との審決（以下「第１次審決」という。）をした。原告は，同年７月
２５日，第１次審決の取消しを求める訴え（知的財産高等裁判所平成１９年
（行ケ）第１０２７５号）を提起するとともに，同年１０月１８日，訂正審
判請求をした。訂正審判請求の内容は，請求項１に「２０オングストロー
ム」とあるのを，「３．５オングストローム」と訂正するなどというもので
あった（同訂正審判請求の内容につき，甲１４）。
知的財産高等裁判所は，特許法１８１条２項により第１次審決を取り消す
旨の決定をした。同決定の取消しの理由は，「当裁判所は，当事者の意見を
聴いた上，訂正の可否（特に，請求項１，２において『主要波長が２オング
ストローム以上，２０オングストローム以下の範囲』とあるのを『主要波長
が２オングストローム以上，３．５オングストローム以下の範囲』と訂正す
ることが，『願書に添付した明細書又は図面に記載した事項の範囲内』にお
いてするものか否か）及び訂正後の進歩性の有無（特に，訂正後の発明にお
ける『主要波長が２オングストローム以上，３．５オングストローム以下の
範囲』との構成の容易想到性の有無）については，①本件特許に係る明細書
の段落【０００７】，【００２３】等の記載の解釈，②｢ENERGYDISPERSIVE
X-RAYFLUORESCENCEANALYSYS｣(1989年発行,PWN-POLISHSCIENTIFICPUBLI
SHERSWARSZAWA)・・・の「TABLE1.5Massabsorptioncoefficients(inc
m/g)forX-rays」(３９頁)におけるベリリウム(Be)，窒素(N)，酸素(O)等2
のＸ線に対する質量吸収係数の記載の技術的意義などを含め，原告のみでな
く，被告にも主張立証の機会を与えた上で，特許庁において判断するのが適
切であると判断した。」というものであった（決定の内容につき，甲１
２）。
(3)差戻し後の審理
原告は，平成２０年１月２５日付けで，訂正請求をしたが，その請求の中
には，請求項１に「２０オングストローム」とあるのを，「３．５オングス
トローム」と訂正するという内容は含まれていなかった。
特許庁は，平成２０年１１月９日，「訂正を認める。特許第２９５１４７
７号の請求項１及び請求項２に係る発明についての特許を無効とする。」と
の審決をし，その謄本は，同年１２月１日，原告に送達された。
２特許請求の範囲
本件特許の訂正後の明細書（以下，「訂正明細書」という。なお，願書には
図面の添付がない。）の特許請求の範囲の請求項１の記載は，次のとおりであ
る（以下，請求項１に係る発明を「本件特許発明１」，請求項２に係る発明を
「本件特許発明２」という。）。
「【請求項１】所定物体が配置された大気雰囲気に対して軟Ｘ線を照射する，
当該所定物体から１ｍ未満の位置に，所定のターゲット電圧およびターゲット
電流が与えられるターゲットを内蔵すると共にベリリウム窓を有するＸ線管を
配置し，
前記ベリリウム窓から主要波長が２オングストローム以上，２０オングスト
ローム以下の範囲の前記軟Ｘ線が照射される領域の前記大気雰囲気に含まれる
元素ないし物質をイオン化することにより，
前記イオンを含む前記大気雰囲気中にある前記所定物体の電位を当該大気雰
囲気の電位に近づけることを特徴とする物体の電位を変化させる方法。
【請求項２】除電すべき所定帯電物体が配置された大気雰囲気に対して軟Ｘ線
を照射する，当該所定物体から１ｍ未満の位置に，所定のターゲット電圧およ
びターゲット電流が与えられるターゲットを内蔵すると共にベリリウム窓を有
するＸ線管を配置し，
前記ベリリウム窓から主要波長が２オングストローム以上，２０オングスト
ローム以下の範囲の前記軟Ｘ線が照射される領域の前記大気雰囲気に含まれる
元素ないし物質をイオン化することにより，
前記イオンを含む前記大気雰囲気中にある前記所定帯電物体を除電すること
を特徴とする所定帯電物体の除電方法。」
３審決の理由
(1)別紙審決書写しのとおりである。要するに，本件特許発明１，２はいず
れも，米国特許第３８６２４２７号（以下「引用例１」という。甲１。別紙
「引用例１【図１】【図３】」参照）に記載された発明（以下「引用発明
１」という。），特開平１−２７４３９６号公報（以下「引用例２」とい
う。甲２。別紙「引用例２【図１】【図２】」参照）に記載された発明（以
下「引用発明２」という。）及び周知事項に基づいて当業者が容易に発明を
することができたというものである（なお，審決では，本判決の「引用発明
１」を「甲第１号証発明」，本判決の「引用発明２」を「甲第２号証発明」
と表記している。）。
(2)上記判断に際し，審決が認定した引用発明１の内容，本件特許発明１と
引用発明１との一致点及び相違点，容易想到性に係る判断の概要は，以下の
とおりである。
ア引用発明１の内容
「可燃性液体のコンテナの上部表面にＸ線源のアレイが配置され，前記Ｘ
線源は，高電圧発生器，電子加速管及びＸ線ターゲットを備え，また，防
水及び防ガスの方法で当該Ｘ線源を維持する金属製封入容器内に収納され
て，前記Ｘ線源の高電圧発生器を動作させ，動作中，Ｘ線は３００ｋｅＶ
未満のエネルギーを有する電子によって生成され，広角ビームとして形成
されてコンテナ内の領域へ放射され，上記コンテナ内のガス領域内で自由
イオンを生成し，これらのイオンが，コンテナ内のガス充満領域内に形成
された望ましくない静電場を中和させる方法。」（審決書８頁３２行ない
し９頁２行）
イ一致点
「所定物体が配置された雰囲気に対してＸ線を照射する位置に，所定のタ
ーゲット電圧およびターゲット電流が与えられるターゲットを内蔵するＸ
線源を配置し，
前記Ｘ線が照射される領域の前記雰囲気に含まれる元素ないし物質をイ
オン化することにより，
前記イオンを含む前記雰囲気中にある前記所定物体の電位を当該雰囲気
の電位に近づけることを特徴とする物体の電位を変化させる方法。」（審
決書１２頁２７行∼３３行）
ウ相違点
(ア)相違点１
「『（所定物体が配置された）雰囲気』が，本件特許発明１は，『大気
雰囲気』であるのに対して，甲第１号証発明は大気雰囲気であるか否か
明確でない点。」（審決書１２頁３６行∼１３頁１行）
(イ)相違点２
「『Ｘ線源』が，本件特許発明１は，『当該所定物体から１ｍ未満の位
置』配置されるのに対して，甲第１号証発明は所定物体との距離が明記
されていない点。」（審決書１３頁３行∼５行）
(ウ)相違点３
「『Ｘ線源』が，本件特許発明１は，『ターゲットを内蔵すると共にベ
リリウム窓を有するＸ線管』であるのに対して，甲第１号証発明はその
ようなＸ線管でない点。」（審決書１３頁７行ないし９行）
(エ)相違点４
「Ｘ線源から照射される『Ｘ線』が，本件特許発明１は『主要波長が２
オングストローム以上，２０オングストローム以下の範囲の軟Ｘ線』で
あるのに対して，甲第１号証発明は波長について明記していない点。」
（審決書１３頁１１行ないし１３行）
エ容易想到に係る判断の概要
(ア)引用例１（甲１）に記載のＸ線源から生成されるＸ線は，３００ｋ
ｅＶ未満のエネルギーを有する電子によって生成されたものであり，波
長に換算すると約０．０４１Åより大きい波長範囲となる。また，引用
例２（甲２）に記載されたＸ線管から照射されるＸ線は１５ｋｅＶのエ
ネルギーを有し，波長に換算すると約０．８３Åとなる。そうすると，
Ｘ線による雰囲気ガスのイオン化を利用して物体の電位を変化させる方
法や帯電物体の除電方法に用いるＸ線には，種々の波長のＸ線を採用し
得るということができる。
(イ)物体の電位を変化させる方法や帯電物体の除電方法に用いる雰囲気
ガスのイオン化は，雰囲気中におけるＸ線の吸収によって生ずることは
当業者に自明な事項であり，Ｘ線の吸収はＸ線が照射される媒体の線吸
収係数によって定まることは，甲６（「強さＩのＸ線を厚さｘの箔に０
通すとＩ＝Ｉｅｘｐ（−μｘ）に弱まる（μは線吸収係数で，入射Ｘ０
線の波長ラムダによってきまる定数である。）」に示されているとお
り，当業者に周知の事項である。Ｘ線の吸収に関しては，Ｘ線のエネル
ギーが大きいほど線吸収係数μは小さくなることが一般的法則として周
知であるし，甲８には窒素Ｎ，酸素Ｏを含むさまざまな物質について，
Ｘ線のエネルギーと質量吸収係数（質量吸収係数μｍは線吸収係数μを
物質の密度ρで除したものに相当する。）の関係を表にしたものが記載
されている。
そして，物質の密度ρは，物質によって定まる定数と考えて差し支え
ないので，大気の主要成分である窒素Ｎ，酸素Ｏの線吸収係数はＸ線の
波長λが長くなるほど大きくなるということができ，このことは，窒素
Ｎや酸素Ｏが有する物性として本願出願前に周知であったといえる。
(ウ)そうすると，窒素や酸素等のガスのイオン化の程度はＸ線の波長に
依存するＸ線の線吸収率によって定まるという技術的事項は，本出願前
に当業者によく知られた事項であるということができるので，Ｘ線の波
長をどの程度とするかは，ガスが充填された雰囲気中のうち，特にイオ
ン化したい領域までの距離，すなわち，雰囲気ガスの厚みに応じて当業
者が適宜決定する事項にすぎない。
(エ)してみると，イオン化したガスの近傍に物体を配置し，物体の電位
を変化させたり除電を行う場合に，イオン化を行うガス雰囲気として
「大気雰囲気」を選択するとともに，その大気雰囲気におけるＸ線の線
吸収率を勘案して，Ｘ線源と物体との距離ならびにＸ線の波長を定める
こと，すなわち，Ｘ線源を「当該所定物体から１ｍ未満の位置」に配置
し，その範囲内においてイオン化が十分になされるよう，Ｘ線の波長を
「主張波長が２オングストローム以上，２０オングストローム以下の範
囲の軟Ｘ線」とすることは，当業者が適宜決定できる事項にすぎないも
のであり，本願の発明の詳細な説明の記載内容を参酌しても，Ｘ線源の
配置位置やＸ線の波長に格別の臨界的な意義があるものということもで
きない。
第３取消事由に係る原告の主張
審決には，以下のとおり，(1)相違点１，２及び４に係る容易想到性判断の
誤り（取消事由１），(2)相違点３に係る容易想到性判断の誤り（取消事由
２），(3)本件特許発明２に係る容易想到性判断の誤り（取消事由３）があ
る。
１取消事由１（相違点１，２及び４に係る容易想到性判断の誤り）
(1)相違点４（軟Ｘ線の使用）に係る容易想到性判断の誤り
審決は，引用例１のＸ線の波長は約０．０４１Åより大きい波長範囲とな
り，引用例２の波長は０．８３Åとなるから，両発明を組み合わせれば，物
体の除電等に用いるＸ線には種々の範囲のＸ線を採用し得るとする。
しかし，引用発明１は，硬Ｘ線の使用を前提とした技術であり，硬Ｘ線の
技術を開示したにすぎない引用発明１に，引用発明２を組み合わせることに
よって，当業者が軟Ｘ線を使用する技術に想到することはない。
ア本件特許発明１は，軟Ｘ線によって極めて効率のよい除電ができるとす
る発明である。
軟Ｘ線は，波長の長さによって，硬Ｘ線と紫外線の間に位置付けられ，
甲１８の軟Ｘ線の項目に「Ｘ線を物質に対する透過能によって定性的に区
別するとき，薄い空気層によってもたやすく吸収されるような透過能の小
さいものを軟Ｘ線という。これに対し透過能の大きいものを硬Ｘ線とい
う。」とあるとおり，物質に対する透過能によって，硬Ｘ線と定性的に区
別される。
引用例１には，生成されるＸ線について，「Ｘ線は３００keV未満のエ
ネルギーを有する電子によって生成される」と記載されている。同Ｘ線
は，波長に換算すると，強度ピーク（主要波長）が約０．０６１Å（最短
波長が０．０４１Å）のＸ線であって，極端に波長の短い硬Ｘ線である。
引用例１が対象とする大型コンテナの上部から波長の長い軟Ｘ線を照射し
ても，照射近傍で吸収されてしまい，除電を行うことはできない。したが
って，引用発明１においては硬Ｘ線の使用しか想定できず，引用発明１か
ら審決のいうように種々のＸ線の波長を採用するということはあり得な
い。
イ引用例２には，波長の記載はなく，「本発明の好適な形では，遮蔽する
必要を最小化するために比較的低エネルギーのＸ線を与えるように選択さ
れ調節される。１５keVのエネルギーを有すＸ線は・・・」（７頁右上欄
３行ないし６行）との記載から明らかなように，Ｘ線遮蔽の観点からＸ線
のエネルギーレベルが考慮されているだけであり，波長を設定しようとい
う技術思想はなく，波長に換算しても０．８３Åという１つだけの波長の
Ｘ線にしかならない。この０．８３Åの波長のＸ線も硬Ｘ線である。
ウ引用発明２は，従来のコロナ放電とは異なって，除電すべき所定物体と
離れた位置でガスのみをイオン化して配送することを必須かつ本質的な特
徴とする発明であり，所定物体の周辺を軟Ｘ線の照射によってイオン化す
ることを排除しているし，酸素を含まないガスをイオン化することを特徴
とし大気雰囲気の除電を排除している。したがって，所定物体近傍の雰囲
気を直接除電する引用発明１に，引用発明２を組み合わせることには阻害
要因がある。引用発明２は，酸素を含む大気をイオン化するものを排除し
ているから，この点でも引用発明と組み合わせることについての阻害要因
がある。
また，硬Ｘ線の使用に限定された技術である引用発明１と引用発明２を
組み合わせたとしても，審決がいうように種々の波長のＸ線を採用して，
軟Ｘ線の使用に想到するということはあり得ない。
エしたがって，軟Ｘ線を採用することを当業者が容易に想到し得るとした
審決の判断は誤りである。
(2)「当該所定物体から１ｍ未満の位置」の「大気雰囲気」に「２Å以上２
０Å以下の」主要波長の軟Ｘ線を照射すること（相違点１，２及び４）に係
る容易想到性判断の誤り
審決は，窒素や酸素等のガスのイオン化の程度はＸ線の波長に依存するＸ
線の線吸収率によって定まるという技術的事項は，甲６，甲８に明らかなと
おり，本出願前に当業者によく知られた事項であり，Ｘ線の波長をどの程度
とするかは，雰囲気ガスの厚みに応じて当業者が適宜決定する事項にすぎな
いとするが，誤りである。
ア甲６，甲８には除電技術に関する示唆はなく，これによって実用可能な
イオン化や除電の条件を決定することはできない。
甲６には，ベリリウム窓以外の関係事項としては，Ｘ線が箔を通過する
ときの通過後の強度と通過前の強度についての，線吸収係数に基づく関係
式が記載され，その線吸収係数がＸ線波長で定まるとの記載があるのみで
ある。また，甲８には，ベリリウム窓以外の関係事項としては，Ｘ線の有
するエネルギー各種元素との組合せごとの質量吸収係数の表が記載されて
いるのみである。
甲６，甲８の記載からは，波長が長いほど物質でのＸ線の線吸収係数が
大きいとはいえるにしても，審決がいうように，窒素や酸素等のガスのイ
オン化の程度がＸ線の波長に依存するＸ線の線吸収係数によって定まると
はいえないし，Ｘ線の波長はイオン化したい領域までの距離に応じて適宜
決定できるといえるものではない。
イ本件特許発明１は，以下のとおり，①照射する軟Ｘ線の波長の設定によ
って除電を効果的，効率的に行い，②軟Ｘ線の波長の設定を行う際に，こ
れを照射距離やＸ線管の窓材による吸収と関連させて調整するものであ
り，軟Ｘ線の波長は，このような課題との関係で定まった値である。
(ア)照射する軟Ｘ線の波長の設定によって除電を効果的，効率的に行う
ことについて
「大気におけるＸ線の吸収率と波長との関係についての計算報告書」
（甲１９）は，大気にＸ線を照射した際に，Ｘ線の波長の違いに応じ
て，近傍の大気がどの程度Ｘ線を吸収するかを示すために，質量エネル
ギー吸収係数を用いて，空気厚さが５０㎝と１００㎝の場合について計
算した結果を記載したものである。甲１９の図１によれば，５０㎝まで
の箇所において２Åの軟Ｘ線は約７０％が大気に吸収され，図２によれ
ば，１ｍまでの箇所においてほぼすべての２Åの軟Ｘ線が吸収される。
また，甲２５は，本件特許発明１の範囲に属する主要波長が３．１Å
の軟Ｘ線と，比較対象としての主張波長が０．９３Åの硬Ｘ線（甲２の
Ｘ線の波長よりも長い）について，それぞれ，Ｘ線の吸収率が約８９％
と約８５％というほぼ同様の望ましい計算上の値となる２５㎝と１００
０㎝の距離における帯電プレート（１５cmのほぼ正方形のプレート）の
除電時間を示した実験結果であるが，これによれば，主要波長が３．１
Åの軟Ｘ線に比べて，主要波長０．９３Åでは，電力を１６倍として
も，除電時間は１０倍以上かかっていることが示されている。
軟Ｘ線を用いる場合であって，距離ｘが短い位置に除電対象物が存在
するときに限って，除電効率は高い。硬Ｘ線を用いる場合には，いかな
る位置に除電対象物が存在しようとも，除電効率は低い。甲１９，甲２
５の実験結果はこのことを示している。
(イ)軟Ｘ線の波長の設定を行う際に，これを照射距離やＸ線管の窓材に
よる吸収と関連させて調整するということについて
ａ甲２２のFig.４を見ると，距離が１０００ｍｍ（１ｍ）のときは，
７５０ｍｍ（７５ｃｍ）のときに比べ，正負の帯電物体における除電
時間の差には大差はなく，正負どちらの場合も１０秒以内で除電され
ている。しかし，これが１２５ｃｍと２５ｃｍ長くなっただけで５秒
長くかかっており，１５０ｃｍになると２０秒近くまでかかってい
る。このように，本件特許発明１における所定物体との距離が１ｍ未
満という事項が，軟Ｘ線による除電において技術的意義のあるもので
あることは，この論文の実験結果からも明らかである。
原告の研究者（本件発明者を含む。）の知見によれば，除電対象物
からの距離が数十ｃｍ程度までの近傍の範囲で発生したイオンは，高
い確率で除電に貢献することができる。しかし，除電対象物からの距
離が数十ｃｍを越える位置で発生したイオンは，クーロン力により除
電対象物まで到達する前に逆極性のイオンと再結合する確率が高く，
ほとんど除電に貢献することができない。したがって，Ｘ線照射によ
る除電の効率は，除電対象物の近傍（例えば除電対象物からの距離が
数十ｃｍ程度までの近傍の範囲）の大気雰囲気で発生するイオンの量
に応じたものとなる。ここで，イオン発生量がＸ線吸収量に応じたも
のであるならば，Ｘ線照射による除電の効率は，除電対象物の近傍の
大気雰囲気におけるＸ線吸収量α(ｘ)に応じたものとなる。
ｂ２Åないし２０Åという波長は，大気雰囲気による軟Ｘ線の吸収
と，Ｘ線管の窓材であるベリリウムによる吸収との相関的な課題の解
決手段でもある。すなわち，２Å以下になると大気雰囲気での吸収が
小さくなりイオン化に適しないし，２０Å以上になると窓材にＸ線吸
収の小さなベリリウムを使用しても，窓材による吸収が大きすぎる。
このことを訂正明細書では，「しかし，ＮとＢｅとの損失比は，波長
３．５オングストローム付近において最小となり，短波長に向かって
緩やかに低下する。短波長に進むに従い，Ｎに対する吸収係数も低下
するので，イオン化の効率も低下する。長波長に進むに従い，Ｂｅに
おける吸収によって効率は低下する」（【００２３】）としている。
これに対し，引用例１のＸ線管は，広範囲に硬Ｘ線を照射するため
のもので，窓自体を備えない特殊形状のターゲットのみのＸ線管であ
り，本件特許発明１のベリリウム窓を想定し得るものではない。ま
た，引用例２にいう「ベリリウム性の薄い窓31」は，Ｘ線管に形成さ
れた窓ではなく，電離室ハウジング18に形成された窓であって，本件
特許発明１のベリリウム窓とは異なる。
審決は，本件特許発明において，Ｘ線源の配置位置やＸ線の波長に
格別の臨界的意義がないとする。しかし，引用発明に対して，異質の
課題に基づく異質の効果を奏する場合には，数値限定の数値に臨界的
意義は不要であり，仮に必要であるとしても，１ｍ未満，２Å以上と
いう数値には臨界的意義がある。以上のとおりであるから，本件特許
発明１が容易想到であるとした審決の判断は，誤りである。
２取消事由２（相違点３に係る容易想到性判断の誤り）
審決は，相違点３について，引用例２に出力窓を備えたＸ線管を用いてイオ
ン化を行うことが記載されており，窓部材としてベリリウムを用いることは，
甲６，甲８に記載されているように周知であるから，容易想到であるとと判断
した（審決書１３頁１５行∼３３行参照）。
しかし，審決の判断には誤りがある。
(1)本件特許発明１は，所定物体の近傍における効果的な除電が軟Ｘ線によ
って可能であるという知見に基づいて，吸収の大きい軟Ｘ線を用いたことか
ら，Ｘ線は窓材では吸収されずにできるだけ透過し，透過後の大気雰囲気に
おいては，その主成分の窒素にできるだけ吸収されることが必要であるとの
新たな課題が生じた。そのため，先ず，Ｘ線管の窓材にＸ線吸収の少ないベ
リリウムを選択し，ベリリウムによるＸ線の吸収割合を考慮して，軟Ｘ線の
波長に２０Åという上限を設けた。
これに対し，引用発明１では，Ｘ線として，照射近傍で吸収されてしまう
軟Ｘ線を想定することがないから，本件特許発明１のように，わざわざター
ゲットとは別の窓部材を設け，さらにその材料をターゲットを兼ねることの
できないベリリウムとすることについて，何の動機付けも存しない。そのた
め，引用例２に窓部材を備えるＸ線管によるイオン化が記載され，Ｘ線管の
窓部材をベリリウムとすることが甲６，甲８に記載されているとしても，こ
れらを引用発明１に適用することの動機付けにはならない。
(2)以上のとおり，引用発明１と引用発明２を組み合わせる動機付けがな
く，また組み合わせることについての阻害要因が存在する。
３取消事由３（本件特許発明２に係る容易想到性判断の誤り）
本件特許発明２と引用発明１との相違点は，本件特許発明１と引用発明１の
相違点と実質的に同じであるから，本件特許発明２についての審決の判断が誤
りであることは，本件特許発明１と同様である。
以上によれば，本件特許発明１，２について，引用発明１，２及び周知技術
から容易想到であるとした審決の判断は，誤りである。
第４被告の反論
１取消事由１（相違点１，２及び４に係る容易想到性判断の誤り）に対し
(1)相違点４（軟Ｘ線の使用）に係る容易想到性判断の誤りに対し
ア原告は，２Åないし２０ÅというＸ線の波長領域ではなく，「軟Ｘ線」
の波長領域を利用すること自体が，従来技術との差異であるかのごとく主
張する。しかし，軟Ｘ線と硬Ｘ線は，便宜上，波長１Åを境界として長波
長側の軟Ｘ線と短波長側の硬Ｘ線とに区分したものにすぎず，本件特許発
明１との関係では，両者を区別する技術的意義はない。
理化学辞典（第４版，昭和６２年１０月１２日発行：乙２）の９２３頁
には，「Ｘ線を物質に対する透過能によって定性的に区別するとき，薄い
空気層によってもたやすく吸収されるような透過能の小さいものを軟Ｘ線
という。これに対し，透過能の大きいものを硬Ｘ線（hardX-rays）とい
う。軟Ｘ線の波長は数Å以上から数百Åの範囲にあり，その測定には真空
装置を必要とする。」と記載されている。
硬Ｘ線と軟Ｘ線の区分は，Ｘ線を二分する場合の便宜的なものにすぎ
ず，波長約１Åを境として急に異なる性質や現象が発現するわけではな
い。甲３に記載されているとおり，Ｘ線は１０∼１０Åという９桁に−５３
もわたる広い波長範囲の電磁波として定義されていることから，１Å近辺
を一応の境界として，透過性の高いＸ線を硬Ｘ線，透過性の低いＸ線を軟
Ｘ線というように便宜上区分しているにすぎない。
しかも，甲２に記載されたＸ線は，波長が０．８２７Åであって，硬Ｘ
線には属するものの，軟Ｘ線に近く，軟Ｘ線と異質であるなどということ
は到底できない。
Ｘ線は，エネルギーが高く（波長が短く）なるほど透過性が高くなり，
逆にエネルギーが低く（波長が長く）なるほど吸収され易くなる性質を有
していることや，Ｘ線の吸収率が，吸収媒体の成分や密度によって異なる
とことは，技術常識であって，理化学辞典（甲６の１３０頁左欄下から１
２行）に記載された数式Ｉ＝Ｉexp（−μｘ）を挙げて説明するまでもな０
い。上記技術常識を，甲１及び甲２記載の除電技術に適用すれば，雰囲気
ガスに照射して当該ガスを電離させてイオンを発生させるＸ線の波長が，
雰囲気ガスの成分やＸ線管からイオン発生場所までの距離に応じて調整す
べきパラメータとなることは，容易に想到できる。
以上のとおり，本件特許発明において，主要波長０．０６２Å及び波長
０．８２７ÅのＸ線を用いることが公知となっている除電技術に，波長１
Å以上のＸ線（軟Ｘ線）を採用したことは，除電対象物までの距離に応じ
たＸ線の波長の当然の調整にすぎず，その選択に困難な点はない。
イ引用発明１の技術に軟Ｘ線を使用することに，阻害要因はない。
Ｘ線は，エネルギーが大きい（波長が短い）ほど透過性が高く，エネル
ギーが小さい（波長が長い）ほど雰囲気ガスに吸収されやすいという上記
の一般的法則を前提にすれば，Ｘ線源から帯電物体までの距離に応じてＸ
線のエネルギー（波長）を適宜調整すべきことは当業者にとって周知の事
項である。したがって，帯電物体までの距離が異なる以上，それに応じて
Ｘ線の波長も異なり，使用するＸ線管の構造等も異なるということは，自
明である。引用例１では，Ｘ線源から帯電物体までの距離が１ｍよりも遙
かに長いために，３００ｋｅＶという本件特許発明１よりも遙かに高いエ
ネルギーのＸ線（主要波長が約０．０６２Å，最短波長が０．０４１Åの
Ｘ線）が使用されているにすぎない。
この点，原告は，引用例１では，Ｘ線源を用いて２Å以上のＸ線を照射
することは不可能であって硬Ｘ線の使用しか想定できず，引用発明１から
種々の波長を採用することはできないと主張する。しかし，帯電物体まで
の距離に応じて，Ｘ線のエネルギー（波長）を適宜調整し，軟Ｘ線の使用
に想到することに困難はない。
ウ引用発明２の技術に軟Ｘ線を使用することに，阻害要因はない。
原告は，引用例２にはＸ線の波長についての記載がないと主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。Ｘ線など電磁波のエ
ネルギーＥ及び波長λは１対１に対応し，これらの間にはＥ＝１２．４／
λの関係が成立することは，技術常識である。Ｘ線についてエネルギーを
記載することと，その波長を記載することとは，単なる表記上の差異にす
ぎない。Ｘ線のエネルギーについて記載がある以上，波長についても記載
がされていると理解すべきである。
また，原告は，引用例２には０．８２７Åという１つだけの波長しか記
載がなく，Ｘ線の波長を設定するという技術的思想がないと主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。引用例２には「本発
明の好適な形では，遮蔽する必要を最小化するために比較的低エネルギー
のＸ線を与えるように選択され調節される。15keVのエネルギーを有する
Ｘ線は，例えば，プラスチック，アルミニューム又はベリリウム製の薄い
窓31を貫通することが可能であり，従って内部室19内で窒素を能率的にイ
オン化する」（７頁右上欄第３∼９行）と記載されている。つまり，引用
例２には，遮蔽する必要を最小化するためにＸ線のエネルギーを低く（波
長を長く）することが示唆されており，同時に薄い窓３１を貫通すること
が可能な例として，１５ｋｅＶのエネルギー（０．８２７Åの波長）を有
するＸ線が示されている。したがって，引用例２には，波長０．８２７Å
のＸ線が記載されるとともに，より長波長の軟Ｘ線を含むＸ線を採用する
ことも示唆されている。
エ引用発明１に引用発明２を組み合わせることに阻害要因はない。
原告は，引用発明２において，イオン化されたガスを送達する流体送達
配管が必須であり，それゆえに，本件特許発明１を排除するものであると
主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。
引用例２（甲２）の５頁左上欄２行∼右上欄下から３行には，従来のコ
ロナ放電による除電装置（高電圧空気電離装置）の課題として，(ⅰ)除電
対象物から十分な距離を隔てる必要があること，(ⅱ)微粒子汚染の源泉と
なること，(ⅲ)大気中の酸素からオゾンを発生させることが記載されてい
る。これらの課題のうち，少なくとも（ⅰ）及び（ⅱ）は，コロナ放電を
利用する装置に特有の課題であるから，Ｘ線を利用している引用発明２で
は問題とならない。そうすると，引用発明２の流体送達配管は，上記課題
（ⅲ）に対応していると考えられる。引用発明２では，窒素ガスにＸ線を
照射し，イオン化された窒素ガスを流体送達配管によって除電対象物まで
配送することによって，オゾンの発生を防止している。
これに対し，本件特許発明１では，除電対象物の周辺の酸素を含む大気
雰囲気にＸ線を照射してイオン化するものであり，オゾン発生を回避しな
い，より単純な構成からなるものである。
引用発明２は，Ｘ線を用いて雰囲気ガスをイオン化し，対象物を除電す
るという本件特許発明１と同様の技術的思想（Ⅰ）に，オゾン発生の防止
を目的として，雰囲気ガスとして酸素を含まない窒素を使用し，イオン化
されたガスを除電対象物まで配送するという技術思想（Ⅱ）を付加したも
のである。技術的思想（Ⅰ），（Ⅱ）は，相排斥する関係に立つものでは
ない。
以上のとおり，原告は，引用発明２において，技術的思想（Ⅱ）が必須
であるとの理由により，引用発明２が，技術的思想（Ⅰ）しか備えていな
い本件特許発明１を排除していると主張するが，原告の同主張は失当であ
る。
(2)「当該所定物体から１ｍ未満の位置」の「大気雰囲気」に「２Å以上２
０Å以下の」の主要波長の軟Ｘ線を照射すること（相違点１，２及び４）の
容易想到性判断の誤りに対し
ア原告は，甲６，甲８によっては除電の条件を決定できないと主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。すなわち，甲６は，
特定の技術分野の技術者を対象としない網羅的な文献であり，そのような
書籍に記載されているＸ線に関する技術事項は，Ｘ線技術を扱っている当
業者にとっては常識ともいうべき事項である。また，甲８は，上記一般的
法則が大気にも当てはまることを明確にするために必要な酸素Ｏ及び窒素
Nの線吸収係数μの値が記載された文献である。原告の主張は，審決のい
う一般的法則が大気にも当てはまることを確認しようとする際に，除電技
術に関連する文献しか参照できないという主張であり，失当である。
イ原告は，本件特許発明１は，①照射する軟Ｘ線の波長の設定によって除
電を効果的，効率的に行い，②軟Ｘ線の波長の設定を行う際に，これを照
射距離やＸ線管の窓材による吸収と関連させて調整するものであるから，
軟Ｘ線の波長の選択には，阻害要因があると主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。
(ア)除電対象物までの距離に応じて，Ｘ線波長を選択すべきことは当然
であり，除電対象物までの距離を短くするならば，使用するＸ線の波長
は長くしなければならないことも自明である。
除電対象物までの距離を１ｍ以内とし，Ｘ線の波長を２Å∼２０Åと
することによって高い除電効率が得られるとすれば，それは，除電対象
物までの距離を１ｍ以内にしたことによる効果であるというべきであ
る。原告は，Ｘ線の波長として２Å∼２０Åを選択したことに困難性が
あると主張するが，Ｘ線の波長は除電対象物をＸ線源の１ｍ以内に近づ
けたことによる当然の結果である。
(イ)原告は，甲２５の実験において，除電対象物として，ともに１５ｃ
ｍの正方形のプレートを使用して除電性能を比較することが，工業上の
利用からして当然のことであるとしている。
しかし，Ｘ線源から２５ｃｍの距離にプレートを置いた波長３．１Å
の場合と，１０ｍ（１００００ｍｍ）の距離にプレートを置いた波長
０．９３Åの場合について，ともに１５ｃｍ角のプレートを用いた上記
実験では，Ｘ線源からプレートまでの距離には４０倍（＝１０ｍ／２５
ｃｍ）の差がある。そうすると，Ｘ線が円錐状に広がると仮定すれば，
プレートが置かれた位置におけるＸ線の広がりには１６００倍（＝４０
）の差が生じ，Ｘ線が吸収される空間の体積には６４０００倍（＝４２
０）の差が生じる。以上の理由から，甲２５は，除電効率を示す実験３
としての価値はない。甲２５は，波長０．９３Åでは，３．１Åと比べ
て１／１０の除電効果が認められることが示唆されているというべきで
ある。
(ウ)原告は，甲２２のFig.4を参照し，正負の帯電物体における除電時
間の差について，除電対象物までの距離が１００ｃｍと７５ｃｍの場合
を比較すれば大差はないが，１２５ｃｍになれば急に差が大きくなると
し，本件特許発明１における１ｍ未満という距離に技術的意義があると
主張する。
しかし，訂正明細書では，正負の帯電物体により除電時間が異なるこ
とについては何も記載されていないから，たとえ，原告が指摘するよう
な現象が甲２２のFig.4から読み取れるとしても，そのような現象は本
件特許発明１における１ｍ未満という数値範囲とは無関係である。
(エ)引用例２には「本発明の好適な形では，遮蔽する必要を最小化する
ために比較的低エネルギーのＸ線を与えるように選択され調節される。
15keVのエネルギーを有するＸ線は，例えば，プラスチック，アルミニ
ューム又はベリリウム製の薄い窓31を貫通することが可能であり，従っ
て内部室19内で窒素を能率的にイオン化する」（７頁右上欄３行∼９
行）と記載されている。すなわち，引用例２には，遮蔽の必要性を考慮
すれば，低エネルギーのＸ線を用いることが好適であると記載されてお
り，その上で，Ｘ線管に形成されたＸ線照射用の薄い窓を貫通するＸ線
のエネルギーの一例として１５ｋｅＶが示されている。
ベリリウム窓の厚さが薄ければ，より低エネルギー（長波長）のＸ線
でも透過することができることは当業者にとって自明の事項であるか
ら，ベリリウム窓の厚さを特定することなく例示されたエネルギー１５
ｋｅＶが，ベリリム窓を透過することができる最小値であるということ
はできない。したがって，引用例２からは，１５ｋｅＶが最小値であっ
て，それよりも低いエネルギー（長い波長）が想定外であるとする原告
の主張を読み取ることはできない。
２取消事由２（相違点３に係る容易想到性判断の誤り）に対し
引用例２には，Ｘ線除電装置として，ベリリウム窓を有するＸ線管が記載さ
れ，また，７頁右上欄５行∼８行には「15kevのエネルギーを有すＸ線は，例
えば，プラスチック，アルミニューム又はベリリウム製の薄い窓31を貫通する
ことが可能であり」と記載されている。また，Ｘ線管の窓部材としてベリリウ
ムを用いることは，理化学辞典（甲第６号証）の１３１頁右欄下から１３行，
１４行に「Ｘ線をとり出す窓にはベリリウム板などがよく使われる」と記載さ
れている。
以上の記載によれば，引用発明１のＸ線源に代えて，ベリリウム窓を有する
Ｘ線管を用いることは当業者にとって容易である。
なお，引用例１には，Ｘ線源を用いて雰囲気ガスにＸ線を照射する除電装置
が記載されているから，そのＸ線源として，甲６に記載された周知のＸ線管で
あって，引用例２のＸ線除電装置にも採用されているＸ線管を採用すること
が，当業者にとって容易であることはいうまでもないことである。
３取消事由３（本件特許発明２に係る容易想到性判断の誤り）に対し
この点についての被告の反論は，取消事由１，２において本件特許発明１に
ついてした反論と同様である。
第５当裁判所の判断
１取消事由１（相違点１，２及び４に係る容易想到性判断の誤り）について
原告は，相違点１，２及び４の構成は，引用発明１，２及び周知事項から容
易に想到し得るものではないと主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり理由がない。
(1)相違点４（軟Ｘ線の使用）に係る容易想到性の判断について
ア軟Ｘ線について
本件特許発明は，軟Ｘ線である２Å以上２０Å以下の範囲のＸ線を使用
するものである。
ところで，放射線とは，一般的には，それが物質を通過するときに，物
質中の原子や分子に作用して電離する能力をもつ電離放射線のことをい
う。この電離作用は，電荷をもつ高速の粒子放射線（荷電粒子）のみが持
つ性質であるが，電荷を持たない放射線でも原子や分子と作用して二次的
に高速の荷電粒子を発生させ，これが電離作用をもつ。このような場合，
初めの電荷を持たない放射線のことを間接電離放射線という。電磁波放射
線は，直接的には電離作用を持たないが，物質中で原子と種々の相互作用
をして高速の電子線を作り出す間接電離放射線であり，Ｘ線とγ線に区別
される（野口正安「放射線のはなし」甲５の１，２頁）。
Ｘ線とは，電磁波のうち波長が０．１Åないし数百Å程度の範囲のもの
をいうとされている。短波長側は透過力が大きく，γ線に移行し，長波長
側は透過力が弱く，紫外線に移行する（理化学辞典第４版，甲６の１３０
頁左欄）。Ｘ線の波長の範囲については，１０Åないし１０Åとする−５３
ものもある（マグローヒル科学技術用語大辞典，甲３の１１８頁右欄）。
軟Ｘ線とは，Ｘ線を物質に対する透過能によって定性的に区別すると
き，薄い空気層によってもたやすく吸収される透過能の小さいものをい
う。これに対し，透過能の大きいものを硬Ｘ線という。軟Ｘ線の波長は数
Å以上から数百Åの範囲にある（理化学辞典第４版，乙２の９２３頁右
欄）。
以上のとおり，Ｘ線は，電磁波の一種であって，その短波長側は透過力
が大きく，γ線に移行し，長波長側は透過力が弱く，紫外線に移行する。
Ｘ線のうち透過能の大きいものを硬Ｘ線，透過能の小さいものを軟Ｘ線と
いい，軟Ｘ線の波長は数Åから数百Åとされる。
イ容易想到性の有無について
原告は，硬Ｘ線によるイオン化の技術である引用発明１，２から軟Ｘ線
を使用する本件特許発明１を想到することはできないと主張する。
しかし，原告の主張は理由がない。
(ア)引用発明１について
ａ引用例１（訳文）の記載
引用例１には，次の記載がある。
「請求項
１可燃性液体および可燃性気体の大きいコンテナの気体空間内の望
まれない電界の強度をスパークフリー・レベルまで減らす装置であっ
て，ある極性の望まれない電荷の蓄積をこうむりやすい気化可能液体
およびその蒸気を収容する少なくとも１つのコンテナと，それぞれが
高電圧発生器，電子加速管，および接地陽極Ｘ線ターゲットを含み，
前記コンテナの上側表面上に分散的に配置された複数のモジュラＸ線
源と，静電気ハザードが存在するときに，長い期間中にこれらを動作
状態に維持するために前記源に電力を供給する手段とを含み，前記Ｘ
線が，前記気体空間全体に両方の極性の自由イオンを作るために，前
記源から前記コンテナの内部へ広角ビームとして発し，前記イオンの
うちで前記望まれない電荷の極性と反対の極性を有するイオンが，前
記望まれない電荷の電界の影響を中和するために前記望まれない電荷
に向かって移動する，装置。
２前記Ｘ線が，概して３００キロ電子ボルト未満のエネルギを有す
る電子によって作られる，請求項１に記載の装置。」（訳文５頁１９
行∼３１行）
「１５．可燃性液体または大気固体粒子で少なくとも部分的に満たさ
れるように適合されたコンテナであって，前記液体または前記粒子
が，ある極性の正味の望まれない電荷を有し，前記電荷が，前記コン
テナの気体領域を通って延びるコンテナ内の電界を作る，コンテナ
と，前記気体領域の少なくとも一部を電離するＸ線源であって，前記
Ｘ線が，両方の極性の可動イオンを作り，前記イオンのうちで前記望
まれない電荷の極性と反対の極性を有するイオンが，前記コンテナの
気体領域内の電界をスパークフリー・レベルまで下げるために，前記
電荷に向かって引き寄せられる，Ｘ線源との組合せ。」（訳文６頁３
１行∼３７行）
「発明の背景
本発明は，可燃性の液体または気体の大きいコンテナの気体空間内
の望ましくない静電気によって生成される電界の強度を火花が生じな
いレベルまで下げる装置および方法に関する。
液体および気体の形の可燃性製品は，大きい貯蔵コンテナに貯蔵さ
れ，大型タンカで水路を介して運ばれる。１つの非常に重要な安全性
の懸念は，コンテナ内の静電気によって誘導される電界の形成であ
る。この電界が，火花発生を引き起こす強度に達し，気体領域に酸素
が含まれる場合に，可燃性製品が発火するか爆発する可能性がある。
電荷の分離とその結果の潜在的に危険な電界の蓄積は，大量の物質
が，特にすばやくまたは激しく動いているときに必ず発生する。これ
は，基本的に，すべての形の物質が，物理的力または電気的力による
電子の分離を促進するかこれに抵抗する力の差を示すという事実に起
因する。したがって，２つの形の物質が，摩擦接触しているときに，
一方は，電子を集める傾向があり，これによって，負に帯電し，他方
は，電子を失い，正に帯電する傾向がある。パイプを介する，タンク
の間の，ならびに弁およびフィルタを介する大量の絶縁性炭化水素液
体の転送は，そのような電荷分離の多数の機会をもたらす。この摩擦
の経験を有した絶縁性流体の大きいタンク内の後続の蓄積は，金属に
よって囲まれた系の液体および気体によって占められた領域全体に延
びる強い電界をもたらす。電荷密度（クーロン／立方メートル）は小
さいが，大きい系でのこの正味電荷の蓄積効果は，簡単に数メガボル
トの電圧を作ることができる。この高い電位の影響は，タンク幾何形
状のひずみによって強化され，このひずみは，コロナ値または火花放
電値に達する高い電気的ストレスの小さい局所化された領域をもたら
す。そうでなければ低い電界状況内のそのようなひずみは，突き出す
鋼鉄の梁または支柱，あるいは接地された導電性の棒またはワイヤに
よって引き起こされ得る。
大きい液体で満たされた系の揺れる海での表面の動きは，同様に，
電荷分離と，危険な火花発生状態の達成を引き起こし得る。」（訳文
２頁２行ないし２６行）
「発明の要約
本発明によれば，静電界の強度を調整し，その結果，静電界強度が
絶対に系の気体領域内で火花発生レベルに達しないようにすることに
よって，前に述べた問題を克服する装置および方法が提供される。複
数のモジュラＸ線源が，気化可能な液体およびその蒸気を収容するコ
ンテナの上側表面に分散的に配置され固定される。各源に，高電圧発
生器，電子加速管，および接地陽極Ｘ線ターゲット（groundedanode
X-raytarget）が含まれる。電力が，源に供給されて，静電気ハザ
ード（electrostatichazard）が存在するときに，長い期間中にこれ
らを動作状態に維持する。Ｘ線は，前記源から前記コンテナの内部へ
広角ビームとして発して，コンテナのうちで蒸気を収容する部分全体
に両方の極性の自由イオンを作る。
Ｘ線が，気体媒質を通過するときに，その吸収が，これらの気体分
子の一部の電離をもたらす。電子が，これらの分子から放出され，こ
れによって，残留する正イオンと電子が残される。これらの電子は，
中性の分子に付着する。したがって，Ｘ線吸収の結果は，正イオンお
よび負イオンの形成である。これらのイオンは，存在する可能性があ
る電界によって作用され，系の気体領域内の電界を実質的に中和する
方向に，そのような量で移動する。電界が存在する場合に，正イオン
は，ある方向に移動し，負イオンは，他の方向に移動し，したがっ
て，Ｘ線による，気体で満たされた空間の照明は，多数の電荷担体を
使用可能にし，これらの電荷担体は，電界を減少させ，この電界を効
果的に中和する方向に移動することを，この電界によって自然に強制
される。そのような閉じた系の液体の体積が，負に帯電している場合
に，正イオンが，液体の表面に駆り立てられ，この負の電荷が気体で
満たされた領域内に以前に作った電界の影響を打ち消すのに十分な電
荷層をこの表面の上に作る。」（訳文３頁３行ないし２４行）
「Ｘ線が，３００キロ電子ボルト未満のエネルギを有する電子によっ
て作られることが好ましい。」（訳文３頁下から２行，末行）
ｂ引用発明１の内容
引用例１の上記記載によれば，引用発明１は，可燃性の液体又は気
体の大きいコンテナの気体空間内の望ましくない静電気によって生成
される電界の強度を火花が生じないレベルまで下げる装置及び方法に
関する発明であり，複数のモジュラＸ線源が，気化可能な液体及びそ
の蒸気を収容するコンテナの上側表面に分散的に配置，固定され，各
モジュラＸ線源に，高電圧発生器，電子加速管及び接地陽極Ｘ線ター
ゲットが含まれる。Ｘ線は，前記源から前記コンテナの内部へ広角ビ
ームとして発して，コンテナのうちで蒸気を収容する部分全体に両方
の極性の自由イオンを作る。形成された正負イオンは，存在する可能
性がある電界によって作用され，系の気体領域内の電界を実質的に中
和する方向に移動し，電界を減少させ，液体が帯電している場合に
は，正イオンが液体の表面に駆り立てられ，電界の影響を打ち消すの
に十分な電荷層を液体の表面の上に作るというものである。
すなわち，Ｘ線の照射により，コンテナ内の蒸気をイオン化し，そ
れによって系の気体領域内又は液体の表面の電界を中和しようとする
ものである。
使用されるＸ線のエネルギーについては，請求項２において，「前
記Ｘ線が，概して３００キロ電子ボルト（以下「３００ｋｅＶ」と表
記する。）未満のエネルギーを有する電子によって作られる」とされ
ている。３００ｋｅＶ未満のエネルギーを有するＸ線の主要波長が約
０．０６１Åであることは，実質的に当事者間に争いがない（被告は
０．０６２Åと主張するが原告が主張する０．０６１Åと実質的な相
違があるものではない。）。また，主要波長が約０．０６１ÅのＸ線
の最短波長が約０．０４１Åであることも当事者間には争いがなく，
以下においては，３００ｋｅＶ未満のＸ線の波長を表示する場合に
は，この最短波長約０．０４１Åで表示することとする。
引用例１の請求項１，１５には，コンテナの気体空間内の望まれな
い電界の強度をスパークフリー・レベルまで下げることが記載され，
かつ，請求項２においては，請求項１の装置におけるＸ線のエネルギ
について３００ｋｅＶ未満とされているから，引用例１においては，
スパークフリー・レベルの静電界を想定して照射するＸ線のエネルギ
を調整する技術が開示されているものと理解することができる。そし
て，Ｘ線の有するエネルギーＥと波長λの関係は，Ｅ＝ｈｃ／λ（ｈ
はプランクの定数）で表されることは，周知事項であると認められる
から（乙４），引用例１においては，望ましいレベルの静電界の程度
に応じて照射するＸ線の波長を調整する技術も開示されているものと
理解するのが相当である。
(イ)引用発明２について
ａ引用例２の記載
引用例２には，次の記載がある。
「１．発明の名称ガスイオン化方法及び装置
２．特許請求の範囲
１．所定の領域でイオン化されたガス環境を与える方法において，
囲まれた流路に沿って前記領域へ加圧されたガスの流れを導くこ
と，
前記所定の領域から隔離された位置で前記囲まれた流路の所定の
部分へ電離放射線を導くことにより前記ガスの流れをイオン化する
こと，
前記流路の前記所定の部分の外へ伝播する放射線の漏洩を抑制す
ること，及び
前記所定の領域で前記囲まれた流路から前記イオン化されたガス
の流れを放出すること，の工程を含むことを特徴とするガスイオン
化の方法。」（１頁左下欄２行ないし１７行）
「11.所定の領域へ置かれる工業的生産物その他への静電荷の累積を
抑制する方法において，
囲まれた流路に沿って前記生産領域へ加圧されたガスの流れを導
くこと，
前記生産領域から隔離された位置で前記囲まれた流路の所定の部
分へ電離放射線を導くことにより前記ガスの流れをイオン化するこ
と，
前記流路の前記所定の部分の外へ伝播する放射線の漏洩を抑制す
ること，及び，
前記生産領域で前記囲まれた流路から前記イオン化されたガスの
流れを放出すること，
の工程を含むことを特徴とする静電荷の累積抑制方法。」（２頁右
上欄９行∼左下欄２行）
「（技術分野）
本発明は所定の領域における大気のイオン含有量の制御に関する
ものである。更に詳細には，この領域内の物体への静電荷の累積を
抑制するために所定の領域においてイオン化された大気を維持する
方法及び装置に関するものである。
（発明の背景）
電気的に絶縁性の物体や接地されていない金属性の物体は，数千ボ
ルトにも達することのある静電気の電荷をもたらしがちである。電荷
の蓄積は運動やそれに伴う摩擦，誘導及び他の物体から又は荷電され
た面からの放電の受領のような幾つかの原因から起こる。
静電気の蓄積の究極的な放電は望ましくない結果を生じ得て，ある
種の環境では一定の工業的生産品のような物品に痛烈な損傷を起こし
得る。小型化された半導体電子素子の製造では顕著な例が起こる。静
電放電は集積回路ウェーハ，マイクロチップ及びその他同様のもの内
の導電路を破壊し得て，製造工程の間のそのように生産品の高い廃棄
率の重要な原因となる。静電荷はまた，製品に不利に影響し得る塵埃
粒子及びその他の汚染物の付着を誘起し引き起こす。そのような生産
品の製造は，潜在的な汚染物を除去するため及びまた生産品上への静
電荷の形成を抑制するために，クリーンルームと名付けられた範囲で
実行される。製品を取り囲む空気中の自由イオンの高水準の維持は，
そのような電荷の形成を抑制するために大変有効な技術の一つであ
る。空気中の成分ガスの正及び負のイオンが反対極性の電荷累積へ静
電的に誘引され，それで電荷の交換によってそのような累積を中和す
る。」（４頁右上欄２行∼左下欄１３行）
「高電圧空気電離装置は，隔離された電極でか又は交互の期間で同じ
電極で生産される正及び負のイオンの混合を許すために，生産品から
充分な距離を隔てられる必要がある。電極が近過ぎる場合には，この
装置がそれ自身で生産品へ電荷を与えるかも知れない。」（５頁左上
欄３行∼８行）
「更に，普通の高電圧空気電離装置は，非常に清浄な生産環境が必要
な所で重要であり得る水準では，それ自身が微粒子汚染の源泉である
ことが見出された。」（５頁右上欄２行∼５行）
「高電圧放電が大気中の酸素の幾らかをオゾンに変え得るという問題
が更に起こる。オゾンは前述の半導体ウェーハのような幾つかの生産
品を非常に損傷し得る極めて活性なガスである。」（５頁右上欄１５
行∼１８行）
「本発明は前述の一つ又はそれ以上の問題を克服するために導かれ
た。」（５頁左下欄８行，９行）
「（発明の概要）
一つの局面では，本発明は所定の領域でイオン化されたガス環境を
与える方法を指導され，囲まれた流路に沿う領域へ加圧されたガスの
流れを導く工程と，前記所定の領域から隔離された位置で前記囲まれ
た流路の所定の部分へ電離放射線を導くことにより前記ガスの流れを
イオン化する工程とを含む。」（５頁左下欄１０行∼１７行）
「別の局面では，本発明は所定の領域に置かれる工業的生産物又はそ
の他同様のものへの静電荷の累積を抑制する方法を提供し，加圧され
たガスの流れを囲まれた流路に沿ってこの領域へ導く工程と，生産領
域から隔離された位置でこの囲まれた流路の所定の部分へ電離放射線
を導くことによりガスの流れをイオン化する工程とを含む。」（５頁
右下欄１２行∼１８行）
「本発明は，ガスの中にイオンを発生し，このイオン化されたガスの
流れを囲まれた流路に沿って使用点へ伝達することによって，前述の
問題点を回避する。好適なガスはオゾンの発生を回避するために窒素
のような酸素を含まないガスである。金属汚染物の放出を回避するた
め及び正と負とのイオンの固有に平衡した生産を可能にするために，
高電圧電極によるよりはむしろＸ線あるいは他の電離放射線によって
イオンが生産される。」（６頁右上欄２行ないし１０行）
「イオン化処理で用いられるガスは酸素を含まないことを必要とし，
一般に比較的不活性なガス又はガスの混合物でなければならない。こ
のガスは放射線にさらされた場合にイオン化に対して高い感心度を表
すガスであることも好ましい。例えばヘリウムのような非常に軽いガ
スは放射線によって強くはイオン化されない。窒素はこの目的に対し
て望ましい特性を表し，経済的な意味でも多く実際に選択される。」
（６頁右下欄１７行∼７頁左上欄５行）
「特定の例では酸素を含まない不活性のガスを使用する必要はなく，
その場合に装置11は前述の目的とは異なる目的用に用いられる。例え
ば特定の領域で空気から微粒子の物質を除去するのが目的の場合に
は，内部室19を通る空気が用いられ得る。」（７頁左上欄１０行∼１
４行）
「紫外線が幾つかのガスを効果的にイオン化できるけれども，窒素は
それらのガスの中には含まれない。多量の放射性物質のような他の放
射線の源泉も使用され得るが，そのような潜在的に危険な材料の使用
は装置の製作，取り扱い，動作及び処分に複雑化を加える。
本発明の好適な形では，遮蔽する必要を最小化するために比較的低
エネルギーのＸ線を与えるように選択され調節される。15keVのエネ
ルギーを有すＸ線は，例えば，プラスチック，アルミニューム又はベ
リリウム製の薄い窓31を貫通することが可能であり，従って内部室１
９内で窒素を能率的にイオン化する。」（７頁左上欄１７行∼右上欄
９行）
「第２図はより詳細に本発明の一特別例の電離室ハウジング18及び遮
蔽覆い51の構造を表示する。これらの要素は他の形態及び寸法でもよ
く，以下に述べる一定の思想に合致する他の材料で形成されてもよ
い。この特別例の電離ハウジング１８は，３インチの直径と４．５イ
ンチの高さである内部室を有する直立したプレキシグラスの円筒であ
る。」（７頁右下欄１０行∼１７行）
「Ｘ線管の突出した，丸いＸ線出力窓58は，蓋53の外側面の中心で丸
い竪穴59内に置かれる。本発明のこの例では，竪穴59のすぐ下の蓋の
材料の薄い部分が，内部室19へＸ線が通っている薄い窓31を定義す
る。」（８頁左上欄２行ないし６行）
ｂ引用発明２の内容
引用例２の上記記載によれば，引用発明２は小型化された半導体素
子の製造等の際に，静電放電が生産品の高い破棄率の重要な原因等と
なり，また静電荷による製品への汚染物の付着は製品に不利な影響を
及ぼすところから，ガスの中にイオンを発生させ，イオン化されたガ
スの流れを囲まれた流路に沿って使用点へ伝達することによって，工
業生産物（例えば半導体素子）の静電荷の累積を抑制し，静電放電等
による問題点を解決しようとするものである。金属汚染物の放出を回
避するため及び正と負のイオンの固有に平衡した生産を可能にするた
め，高電圧電極によるよりは，むしろＸ線あるいは他の電離放射線に
よってイオンが生産される。そして，発明の好適な例では，遮蔽する
必要を最小化するために比較的低エネルギーのＸ線を与えるように選
択され調節されるとされ，低エネルギーの放射線の例として，１５Ｋ
ｅＶのエネルギーを有する放射線が例示されている。１５ＫｅＶのエ
ネルギーを有する放射線の波長が約０．８３Åであることは当事者間
に争いがない。
１５ｋｅＶのエネルギーを有するＸ線は，上記のとおり「比較的低
エネルギーのＸ線を与えるよう選択され調節され」た結果のＸ線とし
て例示されている。Ｘ線を比較的低エネルギーのものとする目的は
「遮蔽する必要を最小化するため」とされており，また，１５ｋｅＶ
のエネルギーを有するＸ線はベリリウム製等の薄い窓を貫通すること
ができるとされている。したがって，Ｘ線のエネルギーすなわち波長
をイオン化の程度との関係で選択するものとはされていないが，上記
のような遮蔽や窓の貫通という条件との関係で，一定範囲で可変なも
のとして設定されているということができる。また，引用例２には，
Ｘ線よりも波長の長い紫外線をイオン化に用いること，紫外線は窒素
をイオン化することはできないことが示されているから，上記Ｘ線の
波長を条件との関係で設定するに当たり，イオン化の対象となる物質
の種類を考慮することがあることが示唆されているものということが
できる。
(ウ)判断
ａ上記引用例１，２の記載によれば，引用例１には，望ましいレベル
の静電荷の程度に応じて照射するＸ線の波長を調整する技術が開示さ
れており，引用例２には，比較的低エネルギーのＸ線の波長を条件と
の関係で設定することが開示され，さらに，Ｘ線の波長を設定するに
当たり，イオン化の対象となる物質の種類を考慮することがあること
が示唆されているものということができる。加えて，引用例２には，
Ｘ線より波長の長い紫外線を除電に用いることも開示されている。
そうすると，イオン化による除電の技術分野における当業者におい
ては，引用発明１と引用発明２を組み合わせることにより，除電の対
象となる物質の種類や望ましいレベルの静電荷の程度等の条件に応じ
て，Ｘ線の波長を調整すること，さらには，上記条件に応じて波長を
調整した結果，波長が硬Ｘ線と紫外線との中間領域にある軟Ｘ線につ
いて，これを除電に用いることがあることを容易に想到し得たものと
いえる。
したがって，「Ｘ線による雰囲気ガスのイオン化を利用して物体の
電位を変化させる方法や帯電物体の除電方法に用いるＸ線には，種々
の波長のＸ線を採用し得るということができる。」（審決書１５頁１
４行∼１６行）とした審決の判断に誤りはない。電磁線によるイオン
化による除電について，軟Ｘ線を採用することを当業者が容易に想到
することはできなかったとする原告の主張は理由がない。
ｂ原告の主張に対し
①原告は，引用発明１は波長の短い硬Ｘ線を用いる発明である点に
おいて本件特許発明１と異なり，引用発明１から本件特許発明１を
想到することは困難であると主張する。
しかし，本件特許発明１は，電磁波で大気（ガス）をイオン化し
所定物体の電位変化等をするという点で引用発明１と技術分野及び
イオン化の手法において共通であるから，引用発明１を基礎とし
て，本件特許発明１に到ることが格別困難であるとはいえない。原
告の主張は採用の限りでない。
②また，原告は，引用発明２は，除電すべき所定物体と離れた位置
でガスをイオン化するものであって所定物体周辺をイオン化するこ
とを排除している点，及び，酸素を含まないガスをイオン化するこ
とを特徴とし大気雰囲気の除電を排除している点において，対象物
近傍の大気雰囲気のイオン化により除電する引用発明１と相違し，
引用発明２を引用発明１と組み合わせることには阻害要因があると
主張する。
しかし，原告の主張は，以下のとおり失当である。
すなわち，引用例２には，「本発明は所定の領域における大気の
イオン含有量の制御に関するものである。更に詳細には，この領域
内の物体への静電荷の累積を抑制するために所定の領域においてイ
オン化された大気を維持する方法及び装置に関するものである。」
と記載があるとおり，引用発明２は，所定物体近傍にイオン化され
たガスを配置し，これにより所定物体を除電することを含む発明で
あり（前記請求項１１），除電の手段自体は引用発明１と共通す
る。そして，引用発明１と引用発明２とでは，①ガスをＸ線でイオ
ン化させるというガスのイオン化の手段を有し，②イオン化したガ
スで所定物体の電位変化等を行うという除電等の方法に関する技術
分野という点において共通し，③ガスをイオン化させる場所が所定
物体の近傍であるか否か，イオン化の対象となるガスが酸素を含む
ものであるか否かの点において相違する。ところで，引用発明２の
③の構成上の相違は，従来の高電圧空気電離装置について，電極が
近すぎる場合に装置それ自身が生産品へ電荷を与える可能性かある
こと，非常に正常な生産環境が必要な所では電極自身が微粒子汚染
の源泉であること，高電圧放電が大気中の酸素のいくらかの酸素を
オゾンに変え得ることなどの課題を解決するために採用された構成
であり，①，②の構成を前提として，これに付加したものにすぎな
いことに照らすならば，引用発明１と引用発明２を組み合わせるこ
との阻害要因となるものではない。
(2)相違点１，２（「１ｍ未満」，「大気雰囲気」）に係る容易想到性につ
いて
ア前記のとおり，引用例２には，内部室の直上に設置されたＸ線管から，
直径３インチ（約７６ｍｍ），高さ４．５インチ（約１１４ｍｍ）の内部
室にＸ線を導き，内部室内で雰囲気ガスである窒素をイオン化することが
記載されており，内部室の直径及び高さはいずれも１ｍ未満である。
また，前記のとおり，引用例２には，「特定の例では酸素を含まない不
活性のガスを使用する必要はなく，その場合に装置11は前述の目的とは違
う目的用に用いられる。例えば特定の領域で空気から微粒子の物質を除去
するのが目的の場合には，内部室19を通る空気が用いられ得る。」（７頁
左上欄１０行ないし１４行）と記載されており，「本発明の背景が物体へ
の静電荷の累積の抑制を参照してここに説明された。例えば空気純化のよ
うな特定の領域でイオン化された空気を与えることが有益であることは勿
論他の理由がある。特定領域での空気中の高いイオン含有量は，塵，煙，
花粉及び他の微粒子を空気から除去するように働く。微粒子がそのような
イオンによる電荷交換によって電荷を得て，それで近くの壁又は他の面へ
静電的に誘引される。」（５頁右上欄１９行ないし左下欄７行）との記載
を参照すれば，大気雰囲気をイオン化することによっても除電できること
が示唆されているといえる。
以上によれば，引用例２には，Ｘ線管から１ｍ未満の範囲にある内部室
の大気雰囲気をＸ線によりイオン化する技術が開示されているといえる。
イそうすると，「所定物体が配置された雰囲気に対してＸ線を照射する位
置に，所定のターゲット電圧およびターゲット電流が与えられるターゲッ
トを内蔵するＸ線源を配置し，前記Ｘ線が照射される領域の前記雰囲気に
含まれる元素ないし物質をイオン化することにより，前記イオンを含む前
記雰囲気中にある前記所定物体の電位を当該雰囲気の電位に近づけること
を特徴とする物体の電位を変化させる方法」（審決が認定し，争いのない
引用発明１と本件特許発明１の一致点）である引用発明１について，これ
に引用発明２の上記技術を組み合わせ，所定物体から１ｍ未満の位置にＸ
線管を配置し，前記Ｘ線が照射される領域の大気雰囲気に含まれる元素な
いし物質をイオン化し，所定物体を除電する構成とすることは，当業者に
とって容易に想到し得たことといえる。
(3)相違点４（「２Å以上２０Å以下」）に係る容易想到性について
ア訂正明細書（甲１１）には，次の記載がある。
「【０００７】【作用】イオン発生のためのエネルギー源として，軟Ｘ線
を利用すること自体は，従来から試みられている。しかし軟Ｘ線の波長の
うち，どの程度の波長が有効であるかは従来明確でなかった。最近，Ｂｅ
（ベリリウム）窓を有するＸ線管の技術が確立したので，これを使用する
場合について考察すると，軟Ｘ線の波長が長いときには，Ｂｅによる吸収
損失がＮ，Ｏなど（大気圧雰囲気での代表として示す）による吸収に比２２
べて増加するようになり，波長が約２０オングストローム以上のＸ線は損
失割合が急増するため不利であることがわかった。
【０００８】一方，軟Ｘ線の波長が短くなり，２オングストローム以下に
なると，雰囲気などを含む目的の物質による吸収が小さくなり，目的のイ
オン化に適しないことがわかった。従って，イオン化のエネルギー源とし
て使用するのに適当な波長は，２ないし２０オングストロームの範囲が有
効である。
【０００９】この範囲の波長では，Ｂｅ窓での吸収損失は比較的少なく，
かつ大気圧程度の雰囲気中では比較的短距離（例えば１０ｃｍ）を走行中
にイオンを発生して消失するため，少し離れれば人体に対する影響も全く
なく，安全である。すなわち，請求項２に言う限られた領域とは，通常は
１０∼２０ｃｍ程度以下を指し，１ｍ以上のような長い距離範囲は，後述
の工業的用途からして考えない。」
「【００２３】次に，軟Ｘ線の波長の選択基準について述べる。例えば大
気をイオン化する場合には，Ｂｅ板における吸収損失に比べ，大気ガス
（例えば窒素Ｎ）における吸収を大きくすることが必要で，この点から波
長の上限が定まり，この場合にはＮの特性波長端が上限となり，約３０オ
ングストロームである。しかし，ＮとＢｅとの損失比は，波長３．５オン
グストローム付近において最小となり，短波長に向かって緩やかに低下す
る。短波長に進むに従い，Ｎに対する吸収係数も低下するので，イオン化
の効率も低下する。長波長に進むに従い，Ｂｅにおける吸収によって効率
は低下する。
【００２４】ガスをイオン化するための吸収長から考えて，あまり小さな
吸収長は適用できないので，実用的な長さ（例えば１０ｃｍ）においてイ
オン化吸収率が２０％以下になる波長を下限とすれば，約２．５オングス
トローム波長になる。従って，３０ないし２．５オングストロームの範囲
が適当であるが，Ｘ線管ターゲット材料として選択しうる材料の点から，
上限は１２オングストロームとされる。すなわち，この範囲で選択しうる
材料は，Ｎａ（ナトリウム），Ｍｇ（マグネシウム），Ａｌ（アルミニウ
ム），Ｓｉ（シリコン），Ｋ（カリウム），Ｃａ（カルシウム），Ｔｉ
（チタン），Ｖ（バナジウム）などである。」
訂正明細書の上記記載によれば，Ｘ線の波長範囲に関する２Å以上２「
０Å以下」との構成は，①波長が約２０Å以上になると，イオン化の対象
である雰囲気による吸収に対するＸ線管のベリリウム窓による吸収損失割
合が急増すること，及び②波長が２Å以下になると，雰囲気による吸収が
小さくなり，雰囲気のイオン化に適しないこと，という定性的な理由によ
り決められたものであることが分かる。
イ引用例２に記載された技術
引用例２には，「15keVのエネルギーを有すＸ線は，例えば，プラスチ
ック，アルミニューム又はベリリウム製の薄い窓31を貫通することが可能
であり，従って内部室19内で窒素を能率的にイオン化する。」（７頁右上
欄５行∼９行）と記載されており，Ｘ線のエネルギー，すなわち波長は，
Ｘ線を導く窓を貫通できるものである必要があることが分かる。ここにい
うベリリウム製の薄い窓は本件特許発明１のようにＸ線管に取り付けられ
たものではなく，Ｘ線出力窓５８に取り付けられたものであるが，Ｘ線出
力窓はＸ線管に直接接続して設けられたものであり（１２頁図２参照），
「内部室19へＸ線が通って入る薄い窓」（８頁左上欄５行）であって，本
件特許発明１と同様に，Ｘ線の貫通の有無，言い換えるとベリリウム窓に
よるＸ線の吸収の程度が問題となるのである。
ウ引用例１に記載された技術
引用例１には，「Ｘ線が，気体媒質を通過するときに，その吸収が，こ
れらの気体分子の一部の電離をもたらす。電子が，これらの分子から放出
され，これによって，残留する正イオンと電子が残される。これらの電子
は，中性の分子に付着する。したがって，Ｘ線吸収の結果は，正イオンお
よび負イオンの形成である。」（訳文３頁１３行∼１６行），「そのよう
な閉じた系の液体の体積が，図５のように負に帯電している場合に，正イ
オンが，液体の表面に駆り立てられ，この負の電荷が上の気体で満たされ
た領域内に以前に作った電界の効果をスパークフリー・レベルまで下げる
のに十分な電荷層をこの表面の上に作る。対応する数の負イオンが，接地
された金属コンテナに移動し，これによって中和される。本発明の目的に
必要な強度レベルでの炭化水素液体のＸ線による長時間照射には，悪影響
がない。」（訳文５頁７∼１２行）と記載されており，Ｘ線が気体媒質に
吸収されることによりイオンが生成されること，それにより所定物体の電
位変化又は除電がスパークフリー・レベルまで下げるのに必要な程度まで
行われることが記載されている。すなわち，Ｘ線の吸収によるイオン化の
程度を調整することが記載されている。
エ周知事項
(ア)甲６（理化学辞典第４版）には，次の記載がある。
「(1)Ｘ線の吸収（absorptionofX-rays）。強さＩのＸ線を厚さｘの０
箔に通すとＩ＝Ｉｅｘｐ（−μｘ）に弱まる。μ（次元［Ｌ］）は０
−１
線吸収係数で，入射Ｘ線の波長λできまる定数である．単体物質ではμ
／ρ（ρは密度）は質量吸収係数とよばれ，物質の凝集状態によらない
定数である。」（１３０頁左欄３６∼４１行）
上記記載によれば，Ｘ線の吸収が，物質の吸収係数（線吸収係数μ又
は質量吸収係数μ／ρ）と厚さｘによって定まることが技術常識であっ
たといえる。
(イ)甲８（BOHDANDZIUNIKOWSKI著「エネルギー分散型蛍光Ｘ線分析（E
NERGYDISPERSIVEX-RAYFLUORESCENCEANALYSIS）」１９８９年（平成
元年）発行）の３９頁「表１．５X線の質量吸収係数（ｃｍ／ｇ）」２
には，エネルギー１．０ｋｅＶないし３５．０ｋｅＶの範囲のＸ線に対
する，ベリリウム（Ｂｅ），窒素（Ｎ）及び酸素（Ｏ）を含む種々の元
素の質量吸収係数が記載されており，元素ごとのＸ線のエネルギーと物
質の質量吸収係数との関係は周知であったといえる。
(ウ)上記(ア)及び(イ)の周知事項から，物質によるＸ線の吸収は，物質
の種類（元素），物質の質量（厚み）及びＸ線のエネルギーにより定ま
るといえるから，気体媒質にＸ線を照射した場合，気体媒質のイオン化
の程度（Ｘ線の吸収の程度）が，気体媒質の種類（元素），気体媒質の
厚み（イオン化したい領域までの距離）及びＸ線のエネルギー（Ｘ線の
波長）に依存することは，当業者にとって自明のことということができ
る。
したがって，気体媒質の種類（元素）が特定されれば，当該媒質の質
量吸収係数は周知の事項であることから，イオン化したい領域までの距
離及びイオン化の程度に応じてＸ線の波長を決定できることになる。
オ上記アないしエで検討したところによれば，本件特許発明１においてＸ
線の波長を決定するための考慮要素とされるベリリウム窓によるＸ線の吸
収の程度，雰囲気ガスによる吸収の程度という２つの要素（前記ア）は，
それぞれ引用例２並びに引用例１によって，雰囲気ガスのイオン化による
所定物体の電位変化又は除電の場合の考慮要素になることが示されてお
り，それらの考慮要素を考慮して波長を決定するための技術的事項も甲
６，甲８に示されている。
前記訂正明細書の【０００７】【０００８】に示されているとおり，本
件特許発明１における２Åないし２０Åという軟Ｘ線の波長も，上記の技
術的事項を考慮して定められたものということができる。
そうすると，甲６，甲８に記載された周知事項から，Ｘ線の波長はベリ
リウム窓による吸収及びイオン化したい領域までの距離を考慮して適宜決
定できる事項にすぎず，当業者にとって容易に想到できるものであるとし
た審決の判断に誤りはない。
(4)小括
以上のとおり，引用発明１に引用発明２の技術を組み合わせることによ
り，所定物体から１ｍ未満の位置にＸ線管を配置し，ここから軟Ｘ線を照射
し，軟Ｘ線が照射される領域の大気雰囲気に含まれる元素ないし物質をイオ
ン化し，所定物体の電位を変化させる方法とすることは，当業者にとって容
易に想到し得たことであり，また，この方法において，Ｘ線を導く窓を貫通
できるように，また大気雰囲気の厚み（所定物体までの距離）を考慮した所
望の程度のイオン化ができるようにＸ線の波長を選択し，その結果，「主要
波長が２オングストローム以上，２０オングストローム以下の範囲」とする
ことは，当業者が適宜なし得る設計事項であって，容易に想到し得るものと
いうことができる。
(5)その他の原告の主張に対し
ア数値の臨界的意義に対し
原告は，少なくとも「１ｍ未満」，「２Å以上２０Å」以下という数値
には臨界的意義があると主張する。
しかし，本件特許発明１において，Ｘ線管からの距離「１ｍ未満」は，
前記(3)アのとおり，工業的用途から実用的な長さである「１０∼２０ｃ
ｍ程度」を含む長さとして設定したものであり，「１ｍ未満」という数値
に臨界的な意義（数値の内と外で量的に顕著な差があること）は認められ
ない。
また，Ｘ線の主要波長範囲「２Å以上２０Å以下」は，同じく前記(3)
アのとおり，波長が２Å以下になると雰囲気による吸収が小さくなり雰囲
気のイオン化に適しないこと，及び，波長が約２０Å以上になると，イオ
ン化の対象である雰囲気による吸収に対するＸ線管のベリリウム窓による
損失割合が急増することという定性的な理由により決められたものであ
り，これらの数値にも臨界的な意義は認められない。
したがって，本件訂正発明１において，Ｘ線管からの距離「１ｍ未満」
とし，Ｘ線の主要波長範囲を「２Å以上２０Å以下」としたことに，格別
の臨界的意義があるとはいえない。
イ原告が作成した甲１９及び甲２５に基づく主張に対し
(ア)原告は，本件特許発明１に特徴的な技術思想として，照射する軟Ｘ
線の波長の設定によって除電を効果的，効率的に行うという技術思想が
あるとし，原告が作成した「大気におけるＸ線の吸収率と波長との関係
についての計算報告書」（甲１９）を示し，甲１９から，計算上，主要
波長２Å以上の軟Ｘ線であれば，空気厚さ１ｍで照射されたＸ線のほと
んどが大気に吸収されることが分かるとする。
しかし，前記のとおり，気体媒質のイオン化の程度（Ｘ線の吸収）
は，気体媒質の種類（元素），気体媒質の厚み（イオン化したい領域ま
での距離）及びＸ線の波長に依存するのであるから，空気厚さ１ｍで照
射されたＸ線のほとんどが大気に吸収されるようなＸ線の波長を計算に
より求めることができることは当然のことであり，甲１９は，Ｘ線の波
長がイオン化したい領域までの距離に応じて適宜決定できることを裏付
けているにすぎず，当業者が容易に想到し得ないような技術事項を示し
ているものとはいえない。
(イ)また，原告は，主要波長が３．１ÅのＸ線と主要波長が０．９３Å
のＸ線について，それぞれ２５ｃｍと１０ｍの距離における除電時間を
計測した実験結果（甲２５）を示し，距離ｘが長い位置に除電対象物体
が存在するときは，いかなる波長のＸ線を用いようと，除電効率は低い
とし，本件特許発明１は効率的な除電を可能にしたものであると主張す
る。
甲２５の実験結果報告には，実験結果の図表が示され，その図表に
は，Ｘ線の主要波長，管電圧，管電流，耐電プレートまでの距離及び実
験結果として除電時間がグラフで示されている。しかし，実験結果に
は，実験条件（帯電物体の材質・形状・大きさ・設置条件，イオン化の
対象となる雰囲気ガスの条件，実験の場所と実験の具体的態様，除電の
程度の測定方法等）の詳細は示されていない。仮に，原告が主張するよ
うに，甲２７，甲２８に示された，イオナイザーの除電性能を評価する
ための規格化された測定方法を採用して実験を行ったものであるとして
も，甲２５には，Ｘ線の主要波長を３．１Å，イオン化したい領域（帯
電プレート）までの距離を２５ｃｍとした場合と，Ｘ線の主要波長を
０．９３Å，同距離を１０ｍとした場合についての結果が示されている
だけであり，この結果から，前記条件においては，主要波長３．１Åの
Ｘ線のほうが主要波長０．９３ÅのＸ線より除電時間が短いとはいえて
も，２Å以上のＸ線によって１ｍ未満の近傍での低出力による高効率の
除電が可能であると評価することはできない。なお，甲２８（「静電気
管理技術の基礎」１４５頁）の図Ａ−４３「水平使用時の帯電プレート
モニタの測定位置」には，１辺が１５０ｍｍの正方形の帯電プレート
が，イオナイザからの距離３００ｍｍ，６００ｍｍ，９００ｍｍという
１ｍ以内の距離に置かれた図が示されていることからして，前記測定方
法が，帯電プレートまでの距離が１０ｍという条件でイオナイザの性能
を評価することを予定してしていたとは考えられないし，そもそも，２
５ｃｍと１０ｍというように距離が大幅に異なる条件で除電時間を比較
することによって，イオナイザの性能を評価しようとすること自体に技
術的な意味があるのか疑問といわざるを得ない。したがって，甲２５の
記載から，本件特許発明１には，当業者が容易に想到できない技術事項
が示されているということはできない。
２取消事由２（相違点３に係る容易想到性判断の誤り）について
(1)本件特許発明１における「ベリリウム窓」の意義
ア本件特許発明１には，「ベリリウム窓」に関し，「所定のターゲット
電圧およびターゲット電流が与えられるターゲットを内蔵すると共にベ
リリウム窓を有するＸ線管を配置」し，「前記ベリリウム窓から主要波
長が２オングストローム以上，２０オングストローム以下の範囲の前記
軟Ｘ線が照射される」と特定されている（請求項１）。
イ訂正明細書（甲１１）の発明の詳細な説明には，大気雰囲気をイオン
化する場合の「ベリリウム窓」に関し，次の記載がある。
最近，Ｂｅ（ベリリウム）窓を有するＸ線管の技術が確立したので，「
これを使用する場合について考察すると，軟Ｘ線の波長が長いときに
は，Ｂｅによる吸収損失がＮ，Ｏなど（大気圧雰囲気での代表として２２
示す）による吸収に比べて増加するようになり，波長が約２０オングス
トローム以上のＸ線は損失割合が急増するため不利であることがわかっ
た。（【０００７】）」
この範囲の波長では，Ｂｅ窓での吸収損失は比較的少なく，かつ大気「
圧程度の雰囲気中では比較的短距離（例えば１０ｃｍ）を走行中にイオ
ンを発生して消失するため，少し離れれば人体に対する影響も全くな
く，安全である。（【０００９】）」
「Ｂｅ膜は，照射系と反応系とを仕切るもの，あるいは仕切り窓として
も有用であって，軟Ｘ線装置において，Ｂｅを使用することが本発明に
係るイオン化装置の特徴の一つである。」（【００２２】）
次に，軟Ｘ線の波長の選択基準について述べる。例えば大気をイオン「
化する場合には，Ｂｅ板における吸収損失に比べ，大気ガス（例えば窒
素Ｎ）における吸収を大きくすることが必要で，この点から波長の上限
が定まり，この場合にはＮの特性波長端が上限となり，約３０オングス
トロームである。しかし，ＮとＢｅとの損失比は，波長３．５オングス
トローム付近において最小となり，短波長に向かって緩やかに低下す
る。短波長に進むに従い，Ｎに対する吸収係数も低下するので，イオン
化の効率も低下する。長波長に進むに従い，Ｂｅにおける吸収によって
効率は低下する。（【００２３】）」
(2)周知技術
窓を有するＸ線管において，Ｘ線管からＸ線を照射する窓材にベリリウ
ムを用いることは，次のとおり，周知慣用の技術であったということがで
きる。
①甲６には，「Ｘ線管」の項目に，「Ｘ線をとり出す窓にはベリリウム
板などがよく使われる。」（１３１頁右欄下から１３行，１２行）と記載
されている。
②甲８には，図２．１９（７０頁）に「透過（薄い）陽極を有するＸ線
管の原理」が示されており，「ベリリウム窓」（berylliumwindoｗ）が
図示されている。
なお，引用例２（甲２）には，「１５keVのエネルギーを有すＸ線は，
例えば，プラスチック，アルミニューム又はベリリウム製の薄い窓31を貫
通することが可能であり，従って内部室19内で窒素を能率的にイオン化す
る。」（７頁右上欄５行∼９行）と記載されており，Ｘ線管に直接設けら
れた窓ではないが，Ｘ線を導入する窓材としてベリリウムを用いることが
記載されていることからも，Ｘ線の技術分野において，窓材としてベリリ
ウムを用いることが周知技術であったことが分かる。
(3)小括
以上によれば，「ターゲットを内蔵すると共にベリリウム窓を有するＸ
線管」を採用することは容易想到であるとした審決の判断に誤りはない。
(4)原告の主張に対し
原告は，本件特許発明１は，吸収の大きい軟Ｘ線を用いたことから，Ｘ
線管の窓材にＸ線吸収の少ないベリリウムを選択したと主張する。
しかし，上記のとおり，Ｘ線を照射する窓材にベリリウムを用いること
は周知慣用の技術であり，また，ベリリウムがＸ線吸収が少ない金属材料
であることも，甲８の「表１．５」から明らかなように周知である。
また，前記(1)のとおり，訂正明細書の発明の詳細な説明には，ベリリ
ウム窓を有するＸ線管を使用した場合のベリリウム窓によるＸ線の吸収損
失について記載されているが，ベリリウム窓を用いたＸ線管の技術が確立
したことを前提として，ベリリウム窓を用いた場合の適切な波長の軟Ｘ線
について記載されている。そうすると，本件特許発明１において，窓材に
ベリリウムを用いることは，発明の前提であったということができる。
３取消事由３（本件特許発明２に係る容易想到性判断の誤り）について
本件特許発明２は，前記第２の２の請求項２に記載されたとおりであり，本
件特許発明１と比較すると，「所定物体」が「除電すべき所定帯電物体」に，
「所定物体の電位を当該大気雰囲気の電位に近づけること」が「所定帯電物体
を除電すること」に，また「物体の電位を変化させる方法」が「所定帯電物体
の除電方法」に，それぞれ変更されている点を除き，実質的な差異はない。
また，取消事由３において，上記取消事由１，２で検討した事項以外の争い
はない。
したがって，取消事由３についても，本件特許発明１に係る上記取消事由
１，２と同様，原告の主張は理由がない。
４結論
以上によれば，原告主張の取消事由はいずれも理由がない。その他，原告は
縷々主張するが，いずれも理由がない。よって，原告の本訴請求は理由がない
から，これを棄却することとし，主文のとおり判決する。
知的財産高等裁判所第３部
裁判長裁判官
飯村敏明
裁判官
大須賀滋
裁判官
齊木教朗
（別紙）
引用例１【図１】引用例１【図３】
引用例２【図１】
引用例２【図２】

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