戻る

平成１３年（行ケ）第３９０号　審決取消請求事件（平成１５年２月２４日口頭弁
論終結）
　　　　　　　　　　判　　　　　　　　　　　決
　　　　　　　原　　　　　　告　　　日本電子株式会社
　　　　　　　訴訟代理人弁護士　　　久保田　　　穣
　　　　　　　同　　　　　　　　　　増井和夫
　　　　　　　同　　　　　　　　　　橋口尚幸
　　　　　　　被　　　　　　告　　　理学電機株式会社
　　　　　　　訴訟代理人弁護士　　　山崎順一
　　　　　　　同　　　　弁理士　　　鈴木利之
　　　　　　　同　　　　　　　　　　岡崎謙秀
　　　　　　　　　　主　　　　　　　　　　　文
　　　　　　原告の請求を棄却する。
　　　　　　訴訟費用は原告の負担とする。
　　　　　　　　　　事実及び理由
第１　請求
　　　特許庁が平成４年審判第１７７０号事件について平成１３年８月２日にした
審決を取り消す。
第２　当事者間に争いのない事実
　１　特許庁における手続の経緯
　　　原告は，名称を「微小領域Ｘ線デイフラクトメーター」とする特許第１６０
９２２６号発明（昭和５３年１０月３０日特許出願，平成３年６月２８日設定登
録，以下「本件発明」といい，この特許を「本件特許」という。）の特許権者であ
る。
　被告は，平成４年２月３日，本件特許を無効にすることについて審判を請求
をした。
　特許庁は，同請求を平成４年審判第１７７０号事件として審理した上，平成
６年７月１５日に「本件審判の請求は，成り立たない。」との審決（以下「前審
決」という。）をした。
　原告は，平成８年１１月１９日に本件特許出願の願書に添付した明細書（以
下「本件明細書」という。）の特許請求の範囲及び発明の詳細な説明の記載を訂正
する旨の訂正審判の請求をし，特許庁は，同請求を平成８年審判第１９７２１号事
件として審理した上，平成９年７月１４日に上記訂正を認める旨の審決（以下「訂
正審決」という。）をし，その謄本は，同月３０日，原告に送達された。
　その後，当庁平成１１年（行ケ）第８１号審決取消請求事件の判決（平成１
１年６月９日判決言渡し）により前審決が取り消され，同判決が確定したので，特
許庁は，上記審判請求につき更に審理した上，平成１３年８月２日，「特許第１６
０９２２６号の請求項１に係る発明についての特許を無効とする。」との審決（以
下「審決」という。）をし，その謄本は，同月１３日，原告に送達された。
　２　訂正審決により訂正された後の本件発明の特許請求の範囲の記載
　多数の結晶粒から成る試料と，Ｘ線源と，該Ｘ線源からのＸ線をコリメート
して前記試料上の微小領域に照射するための手段と，前記試料上のＸ線照射位置を
観察するための光学顕微鏡と，前記Ｘ線の光路を含む面内に前記試料によって回折
されるＸ線の所望角度範囲をカバーするように試料の回りに半円状を成して配置さ
れた位置感応型Ｘ線検出器と，前記光学顕微鏡を用いて試料の所望の微小領域を測
定位置に位置付けるため前記試料の位置を微調整するための調整機構と，前記検出
器からの信号を処理し位置情報を得る回路と，この信号を一定期間積算的に記憶す
る手段と，該信号を積算的に記憶する測定期間中，その先端に前記試料を保持する
回転軸φを連続的に回転させると共に該試料を前記回転軸φとは垂直なχ軸の回り
に連続的に回転させるための試料駆動機構と，前記記憶された信号を読み出し，表
示する手段とから構成したことを特徴とする微小領域Ｘ線デイフラクトメーター。
　３　審決の理由
　　　審決は，別添審決謄本写し記載のとおり，本件発明は，１９７７年（昭和５
２年）発行の「ADVANCESINX-RAYANALYSISVol.20」５２９頁～５４５頁（本訴甲
３，審判甲１，以下「引用例１」という。），１９４９年（昭和２４年）発行
の「THEREVIEWOFSClENTIFICINSTRUMENTS,Vol.20,No.5」３６５頁～３６６頁
（本訴甲４，審判甲８，以下「引用例２」という。），昭和４７年８月発行の「材
料２１巻２２７号」８０７頁～８１５頁（本訴甲５，審判甲１０，以下，「引用例
３」という。），昭和５３年３月発行の「材料２７巻２９４号」２１６頁～２２０
頁（本訴甲６，審判甲１３，以下「引用例４」という。），昭和５１年発行の「日
本結晶学会誌１８巻３０号」３０頁～３４頁（本訴甲７，審判甲１５，以下「引用
例５」という。），１９７８年発行の「16thannualproceedingsreliability
physics1978」５６頁～５８頁（本訴甲８，審判甲１８，以下「引用例６」とい
う。）及び昭和５３年発行の「JAPANESEJOURNALofAPPLIEDPHYSICS,Vol.17No.6
JUNE1978」１１６１頁～１１６２頁（本訴甲９，審判甲２３，以下「引用例７」と
いう。）に記載された発明に基づいて当業者が容易に発明をすることができたもの
であるから，本件特許は，特許法２９条２項の規定に違反してされたものであり，
平成５年改正前（注，平成５年法律第２６号による改正前の趣旨と解される。）の
同法１２３条１項１号に該当し，無効とすべきものであるとした。
第３　原告主張の審決取消事由
　１　取消事由１（相違点の看過）
　本件発明は，コリメートしたＸ線を，試料上の「微小領域」（１００μｍ～
１０μｍ）に照射するのに対して，引用例１（甲３）は，「板状」（linefocus）
にコリメートしたＸ線を，試料の幅全部（数ｍｍ）にわたり照射するもので，「微
小領域」を照射するものではない。審決は，上記相違点を看過した誤りがある。
２　取消事由２（相違点１についての判断の誤り）
　審決は，相違点１「本件発明は，多数の結晶粒からなる試料の微小領域を測
定対象とするのに対して，引用例１記載の発明の測定対象は粉末試料である点」
（審決謄本９頁第２段落）につき，引用例５（甲７），引用例６（甲８）及び引用
例４（甲６）の各記載を根拠として，「引用例１記載の発明のＸ線デイフラクトメ
ータが，位置感応型比例計数管を用いて広い角度範囲の多数の回折像を検出して粉
末試料の定性分析を行なうもので，『小さな試料の粉末スペクトルを，フィルムま
たは従来の粉末デイフラクトメータを使う場合よりも非常に高速に得ることができ
る』ものであってみれば，引用例１記載の位置感応型比例計数管を用いるＸ線デイ
フラクトメータを用い，かつ対象試料の変更に伴う設計変更を適宜行いつつ多結晶
試料の微小領域の定性分析を試みることは当業者が通常の研究開発において容易に
なし得る」（同１１頁第１段落）と判断するが，誤りである。
　引用例１（甲３）の「Ｘ線デイフラクトメーター」は，粉末試料を詰めたキ
ャピラリに板状Ｘ線ビーム（linefocusbeam）を照射するとともに，キャピラリの
長手軸を囲むように検出器（位置感応型比例計数管）を配置し，回折に関与する結
晶粒の数を実効的に増やすため，試料を長手軸回りに回転する構成により，広い測
角範囲にわたって多数の回折Ｘ線を検出し，粉末試料の定性分析を行うものであ
る。板状Ｘ線ビームを照射するのは，できるだけ多数の結晶粉末を回折に関与させ
るためであり，キャピラリ中の粉末試料の全体が測定対象となる。このように，引
用例１は，「微小領域」を測定対象とするものではない。仮に，引用例１の構成を
使用し，Ｘ線ビームを「棒状」（pointfocus）にしても，キャピラリを長手軸回り
に回転させると，棒状Ｘ線ビームは「微小領域」以外の領域にも当たってしまい，
「微小領域」の分析は不可能である。
　また，引用例１の「Ｘ線デイフラクトメータ」は，あくまで粉末試料を対象
とするもので，試料を破壊しないでその「微小領域」のみを測定対象とするもので
はない。「微小領域」の測定には，試料の位置合せが不可欠であるところ，引用例
１の「Ｘ線デイフラクトメータ」は，位置合せ機構を備えていないから，引用例１
は「微小領域の定性分析」の動機を欠いている。
　引用例４（甲６）の位置感応型検出器は，「応力測定」を目的とするもので
あり，「測定対象は・・・Ｃｒ－Ｋα線によりα鉄（２１１面）の回折像を記録す
る。すると回折ピークは２θで１５６°近辺に生ずるので測角範囲を１５６°±１
０°・・・としたい」（２１７頁右欄第４段落）との記載によれば，試料「α鉄の
（２１１面）」の特定の回折角「１５６°」だけを検出対象とし，その測定範囲は
「１５６°±１０°」に限られる。同検出器が短小（有効長８５ｍｍ）で直線状で
あることも，測定範囲が限られることを示しており，また，同検出器では，試料は
回転しない。
　引用例６（甲８）の「マイクロデイフラクトメーター」（５６頁図２）は，
引用例５の装置を「応力測定」目的に使用したものである。引用例６の「ゆえに微
小領域のひずみ測定を行う必要がある。Ｘ線マイクロデイフラクトメーターを用い
た１０μｍスポットからの試験試料のひずみ測定の例を示し，その技術を報告す
る」（訳文１頁第２段落），「このマイクロデイフラクトメーターは・・・デバ
イ・シェーラーＸ線光学機構に基づいている。このことは，ブラッグ条件を満たす
ために試料を回さなくてもよいということを意味し，それゆえ試料上に照射を受け
る固定領域がつくられる」（訳文２頁第１段落）との記載によれば，引用例６の
「マイクロデイフラクトメーター」は，「微小領域」を測定するものの，この「微
小領域」は固定した領域であり，回転しない。したがって，引用例４及び引用例６
は，「応力測定」を目的とするものであって，「応力測定」用装置では，特定の回
折Ｘ線（回折角が既知）のみを検出対象とし，試料は静置している。
　上記のとおり，「定性分析」には，試料に特有な回折Ｘ線のすべてを広い角
度範囲にわたって検出することが要求され，試料の回転は好ましい操作であるのに
対し，「応力測定」には，試料に特有な回折Ｘ線のうち特定の回折Ｘ線のみを検出
することが要求され，試料の回転は本質的に矛盾する操作である。「応力測定」
は，面間隔ｄの変化分を検出して，応力の方向と大きさを測定するものであり，試
料を回転すると，様々な方向を向いた格子面の面間隔ｄを同時に検出することにな
り，応力が測定できないから，「応力測定」は，試料を特定の方向に静置して，回
転させることなく測定を行うことを原則とする。このように，「定性分析」に要求
される機能が，「応力測定」に要求される機能を包含する一方，「応力測定」に要
求される機能は「定性分析」に要求される機能を包含しない。すなわち，「定性分
析」用装置で「応力測定」を行うことは可能であるが，逆に，「応力測定」用装置
で「定性分析」を行うことは不可能である。機能の観点から見て，多くの回折Ｘ線
を検出し試料回転が好ましい「定性分析」用装置である引用例１に，特定の回折線
のみ検出し試料回転を必要としない「応力測定」用装置である引用例４又は引用例
６を組み合わせることには，合理性がない。
　引用例５（甲７）の「粉末法Ｘ線ディフラクトメータは試料の同定分
析・・・に使われている。しかし・・・試料の局部（例：介在物，析出物な
ど）・・・を議論するには不得意な装置である」（３０頁第１段落），「従来この
ような微小部分の研究には微小焦点Ｘ線発生装置を用い，微小部の研究にふさわし
いＸ線カメラが用いられてきた。しかしこれらのＸ線カメラには・・・欠点があっ
た」（同第２段落）との記載によれば，本件特許出願前，「微小領域の定性分析」
との課題が公知であったことが認められる。引用例５の「Ｘ線ディフラクトメー
タ」（３０頁第１図）は，広い角度範囲にわたり検出するものの，リング状スリッ
トを有する検出器（比例計数管）をＸ線軸に沿って一定速度で機械的に移動させる
構成であり，Ｘ線軸回りの回転効果は得られても，Ｘ線軸に直交する軸回りの回転
効果は得られない等の欠陥がある。したがって，引用例５は，課題「微小領域の定
性分析」は開示するものの，その課題解決手段は本件発明とは異なるばかりでなく
不完全なものである。
　審決は，「引用例１記載の発明の測定対象は粉末であり微量試料である。し
かしながら，微小領域を測定対象として測定することは出願前に広く行なわれてい
た」（審決謄本１１頁第４段落）と認定する。しかし，本件発明は，微少又は微量
の「多数の結晶粒から成る試料」の「微小領域」を分析するものであり，引用例１
の試料は，「粉末であり微量試料」であるが「微小」ではない。引用例１のキャピ
ラリ中の粉末試料を「多数の結晶粒から成る試料」に代えたところで「微小領域」
の分析はできない。上記のとおり，引用例５によれば，本件特許出願前，課題「微
小領域の定性分析」は公知であったとしても，分析自体は困難であり，存在する装
置も不完全であったことが認められるから，審決は，本件特許出願時の技術水準を
誤認している。
　そうすると，引用例１が「微小領域」を測定する動機を欠き，「微小領域の
定性分析」が出願前に広く行われていたとは認められず，しかも，引用例４～６の
測定目的（応力測定）及び構成（静置試料，検出器）が引用例１の目的（定性分
析）及び本件発明の構成（２軸回転試料，位置感応型検出器）と異なる以上，引用
例１の装置に引用例４～６に開示された技術又は周知技術を適用し，「微小領域の
定性分析」のために引用例１を本件発明のように設計変更することは当業者にとっ
て容易ではない。
　３　取消事由３（相違点４についての判断の誤り）
　審決は，相違点４「本件発明の試料駆動機構は，試料を保持する回転軸
（φ）を連続的に回転させるとともに『試料を前記回転軸（φ）とは垂直なχ軸の
回りに連続的に回転させる』もの，すなわち２軸回転させるものであるのに対し
て，引用例１記載の発明の試料駆動機構は１軸回転させるものである点」（審決謄
本９頁第５段落）につき，「引用例１記載の装置においても試料駆動機構を２軸回
転のための機構とすることは当業者であれば適宜なし得ることと認められ
る。・・・引用例１記載の装置において，多結晶試料の微小領域を測定しようとす
る際に，試料の２軸回転を行なわせようとすることは当業者にとって容易に採用す
ることができる」（同１３頁第３段落）と判断するが，誤りである。
　引用例１（甲３）の，長手軸を有するキャピラリ，板状のＸ線ビーム及び長
手軸を中心にこれを囲むように配置した円弧状検出器から成る構成は，すべて長手
軸周りの回転を想定したもので，それ以外の回転は想定されておらず，「２軸回
転」に対し阻害要因がある。
　引用例２（甲４）は，単結晶試料を２軸回転しながらＸ線を照射し，単結晶
から粉末パターンと等価なパターンを直接得て，単結晶試料を同定する装置であ
り，Ｘ線は，２軸回転中，試料全体に照射される。微小領域の測定には，試料の特
定部分のみを照射し，他の部分を照射しない回転方法を採用する必要があり，その
ためには，微小領域を試料の回転中心と一致させ，２軸とも所定範囲で往復回転さ
せることが必要であるところ，引用例２にはこの点につき記載がなく，結局，引用
例２には，微小領域の測定という技術的思想がない。審決は，「引用例２は，単一
の単結晶であっても，２軸回転を行なえば結晶格子面の方向分布は充分ランダマイ
ズでき，粉末試料と同様のデータを得て試料の同定を可能とすることを開示してお
り，結晶格子面の方向分布をランダマイズするための２軸回転という技術的意義
は，対象が単結晶であっても微小領域であっても変るところはない」（審決謄本１
３頁第４段落）とする。しかし，引用例２は，２軸回転の意義（回折線の増加）が
公知であることを，単結晶試料について示すだけであり，「微小領域」について示
すものではない。試料の回転と微小領域の照射は相反する要求であるから，「微小
領域の２軸回転」に至ることは困難である。
　引用例３（甲５）は「応力測定」を目的とする装置であり，「定性分析」に
適用することができない。引用例３には「塑性変形があまり大きくない材料から試
料・フィルムの静止状態で得られる細束Ｘ線回折像は通常連続環となっていない。
しかし，結晶振動法を導入し試料を写真撮影中にＸ線軸およびそれに垂直な軸（図
２１参照）のまわりに小さい角度範囲で振動させることにより，Ｘ線束の照射位置
を変化させることなく回折にあずかる結晶粒の数を倍加させ得る。そのため振動条
件を適当に定めると，焼なまし材あるいは塑性変形があまり大きくない材料のとき
にもデバイ環全周に渡って連続した回折像が得られる。・・・Ｘ線軸のまわりの回
転角度範囲は±１０度で試料軸回りの回転角度は±２．５度であった・・・上述の
実験ではＸ線軸回りの回転はフィルムカセットを振動することにより得ている。こ
の様な方法で細束Ｘ線回折像として連続環が得られると通常のＸ線応力測定と同様
の手順により１００～２００μφ程度の領域の応力測定が可能となる」（８１３頁
右欄最終段落～８１４頁左欄第１段落）との記載があり，同記載は，試料を，Ｘ線
軸及びＸ線軸に垂直な軸の回りに振動させることを開示している。この構成は，回
折に関与する結晶粒の数を倍加し，デバイ環全周にわたって連続する細束Ｘ線回折
像を得るためであり，上記「応力測定」の原理に反するようにも見えるが，上記
「Ｘ線軸回りの回転はフィルムカセットを振動することにより得ている」の記載の
ように，Ｘ線軸周りには，試料自身は回転せずフィルムカセットを回転するだけ
で，連続する回折像を得ているものである。Ｘ線軸に垂直な軸の周りの振動も，極
めて小さい範囲（±２．５度）に限定されているが，これは，大きく振動したので
は特定の格子面以外の格子面も測定してしまい，「応力測定」の目的を達成できな
いからである。したがって，引用例３の装置は，実質的に１軸回転であり，２軸回
転ではなく，引用例３の「振動」の意義は「定性分析」を目的とした試料回転とは
全く異なるものであり，本件発明の「２軸回転」を開示するものではない。審決
は，引用例３につき，「結晶粒の結晶格子面の方向分布を充分ランダマイズするた
めの試料の２軸回転を開示するものであることは明らかである」（審決謄本１４頁
第４段落）と認定するが，上記のとおり，「応力測定」におけるランダマイズは，
かえって回避すべきことであり，誤りである。
　以上によれば，「引用例２，３に記載されているように，Ｘ線照射領域内に
少数の（あるいは一つの）結晶粒しかない場合でも，漏れのない粉末Ｘ線回折パタ
ーンを得ようとして，Ｘ線照射微小領域内の結晶粒の結晶格子面の方向分布を充分
ランダマイズするために試料の２軸回転を行なうことが知られており，粉末試料に
対して回折にあずかる結晶粒を増加させるために必要に応じて試料を回転させるこ
とは周知」（審決謄本１３頁第３段落）とはいえない。引用例１は「２軸回転」を
妨げる構成であり，引用例２，３に「Ｘ線照射微小領域内の結晶粒の結晶格子面の
方向分布を充分ランダマイズするために試料の２軸回転を行うこと」が開示されて
いない以上，引用例１記載の装置に引用例２，３に開示された技術又は周知技術を
適用し，「２軸回転」（本件発明）のように設計変更することは，当業者にとって
容易ということはできない。
　４　取消事由４（相違点２についての判断の誤り）
　審決は，相違点２「本件発明の位置感応型Ｘ線検出器が半円状を成して配置
されているのに対して，引用例１記載の発明は，３個の別個の独立した円弧状の検
出器を配置している点」（審決謄本９頁第３段落）につき，「引用例１には，位置
感応型Ｘ線検出器について・・・円弧状にカーブしている・・・理想的には・・・
１８０°をカバーする・・・と記載され，引用例７には・・・円弧状の位置感応型
Ｘ線検出器が記載されている。したがって，引用例１記載の装置の位置感応型Ｘ線
検出器として半円状の検出器を当業者が採用することに困難性は認められない」
（同１１頁最終段落～１２頁第１段落）と判断するが，誤りである。本件発明は，
微小領域の２軸回転と半円状位置感応型Ｘ線検出器との組合せにより，微小領域の
定性分析を行うことに特徴がある。引用例１の検出器は分割されており測定範囲が
狭く，２軸回転に適さない検出器である。したがって，引用例１の「位置感応型Ｘ
線検出器」を引用例７の「半円状の検出器」に置き換えることは容易とはいえな
い。
　５　取消事由５（相違点３についての判断の誤り）
　審決は，相違点３「本件発明は，『試料上のＸ線照射位置を観察するための
光学顕微鏡』を備え，『前記光学顕微鏡を用いて試料の所望の微小領域を測定位置
に位置付けるため前記試料の位置を微調整するための調整機構』を備えるのに対し
て，引用例１記載の発明は，光学顕微鏡及び試料位置調整機構を備えていない点」
（審決謄本９頁第４段落）につき，「引用例５及び引用例６に記載されているよう
に・・・光学顕微鏡を用いて位置合わせを行うことは知られているから，引用例１
記載の装置において，微小領域を測定する際に，『・・・光学顕微鏡』を備え，
『・・・試料の位置を微調整するための調整機構』を備えるようにすることは，当
業者が容易になし得る」（同１２頁第３段落）と判断するが，誤りである。引用例
１から，微小領域の２軸回転に想到しない限り，引用例１に試料の位置合せ機構を
導入することは困難であるところ，微小領域の２軸回転に想到することが困難であ
ることは上記のとおりである。
　６　取消事由６（顕著な作用効果についての判断の誤り）
　本件発明は，微小領域の２軸回転と半円状位置感応型Ｘ線検出器との組合せ
により，多数の結晶から成る試料の微小領域からの回折Ｘ線の測定を，Ｘ線の検出
漏れを生ずることなく比較的短時間に行うことができ，微小領域の定性分析が可能
であるとの顕著な作用効果を奏するものである。審決は，上記顕著な作用効果は，
各引用例から予測できると判断するが，「微小領域の定性分析」は，本件特許出願
時において，引用例５（甲７）を除き存在しなかったのであり，本件発明の微小領
域の２軸回転と半円状位置感応型検出器との組合せにより「微小領域の定性分析」
を可能にした点を無視するものであって，誤りである。
第４　被告の反論
　１　取消事由１（相違点の看過）について
　審決は，本件発明と引用例１（甲３）記載の発明の一致点として，「該Ｘ線
源からのＸ線をコリメートして前記試料上の領域に照射するための手段・・・から
構成したことを特徴とするＸ線デイフラクトメーター」（審決謄本８頁最終段落～
９頁第１段落）と認定し，「微小領域」を一致点とは認定してはいない。他方，
「相違点１」において，「本件発明は，多数の結晶粒からなる試料の微小領域を測
定対象とするのに対して，引用例１記載の発明の測定対象は粉末試料である点」
（同９頁第２段落）とし，「微小領域」を相違点として認定している。すなわち，
原告主張の相違点については，照射領域が微小か否かの相違として，審決の認定し
た相違点１に含まれているから，審決に，原告主張の相違点の看過はない。
２　取消事由２（相違点１についての判断の誤り）について
　引用例１（甲３）は，容器形状（細長いキャピラリー）に即してＸ線ビーム
を「板状」としたものであり，測定対象を「微小領域」とする場合，その照射領域
の形状に即してＸ線ビームを「スポット状」とすればよいことは明らかである。そ
して，Ｘ線ビームの形状変更は，照射領域に応じてコリメータ（絞り）を交換する
だけで済むことは当業者に慣用である。
　被告発行の「Ｘ線回折の手引」（甲１０）によれば，試料は，多結晶試料と
単結晶試料に大別され，粉末試料は「多数の結晶粒から成る試料」に該当する。引
用例５（甲７）は，粉末試料（α－Ａｌ２Ｏ３粉末）及び固形試料（Ａｌ箔と岩石薄
片）を対象にする。原告発行の「ＤＸ－ＭＡＰ２微小領域X線回折装置」のカタログ
（乙２）の３頁には，微量粉末用，小量粉末用，平板用など各種の試料ホルダが示
されている。このように，「Ｘ線ディフラクトメータ」は，測定目的に応じて多種
多様な試料を対象とするから，引用例１が粉末試料を対象とするとしても，他の試
料と組み合わせることに何の困難性もない。
　「定性分析」は，結晶の格子面間隔ｄが物質に特有であることにかんがみ，
測定した試料のｄと既知の物質のｄとを比較することにより試料の物質を同定する
ものであり，「応力測定」は，応力によって試料内に生じた格子の歪みによりｄが
変化することにかんがみ，同様に測定した試料のｄと正常値ｄとのずれにより応力
を測定するものであって，「定性分析」も「応力測定」も，ブラッグの回折条件式
に基づいて試料の格子面間隔ｄを測定する点においてその測定原理は同一である。
　引用例５（甲７）の「粉末法Ｘ線ディフラクトメータは試料の同定分析，定
量分析，状態の研究など広い応用分野に使われている」（３０頁第１段落）との記
載によれば，「Ｘ線ディフラクトメータ」は，定性分析（同定分析），定量分析，
状態の研究（例えば応力測定）など，広い分野に応用されていることが認められ
る。引用例６（甲８）には，「マイクロディフラクトメーターを用いた１０μｍス
ポット内のひずみの決定」（訳文１頁第１段落），「Ｘ線マイクロディフラクトメ
ーターを用いた１０μｍスポットからの試験試料のひずみ測定の例を示し，その技
術を報告する」（同第２段落）との記載がある。そして，引用例５の著者は被告研
究部に所属し（３０頁脚注），そこに記載された「Ｘ線ディフラクトメータ」（第
１図）は被告製の装置であること，引用例６には「この論文は，リガクのマイクロ
ディフラクトメーターを，直径１０μｍほどの小さい領域における方向ひずみ（し
たがって応力）と相の測定に適用することを記述するものである」（訳文１頁第４
段落），「使用したＸ線回折装置は，１２ｋＷ回転陽極リガクＸ線装置の，リガク
のマイクロディフラクトメーターである（図１）」（同第５段落）との記載がある
こと，引用例６の第２図が引用例５の第１図とは酷似していることを考慮すると，
引用例６の第２図の「マイクロディフラクトメーター」は引用例５の第１図の「Ｘ
線ディフラクトメータ」と同一のものであり，引用例６の「Ｘ線マイクロディフラ
クトメータ」は，引用例５の定性分析用装置を「応力測定」に応用したものである
ことが，明らかである。したがって，「Ｘ線ディフラクトメータ」において，「定
性分析」と「応力測定」は，互いに応用が可能であり，「応力測定」に関する技術
を「定性分析」を行う「Ｘ線ディフラクトメータ」に適用することに困難性はな
い。
　本件発明の「微小領域」とは，「直径１００μｍ程度のスポットで照射され
る」領域のことである（甲２－２の１２頁右欄第１段落）。一方，引用例３（甲
５）には，「１００～２００μφ程度の領域の応力測定が可能となる」（８１４頁
左欄第１段落）と記載され，しかも，細束Ｘ線の照射と試料の２軸回転により「Ｘ
線束の照射位置を変化させることなく回折にあずかる結晶粒の数を倍加させ得る」
（８１３頁右欄第２段落）と記載されており，正に「微小領域の測定」がされてい
る。引用例３は，「応力測定」を目的とするものではあるが，上記のとおり「応力
測定」と「定性分析」は，互いに応用が可能であるから，「微小領域の定性分析」
が開示されているということができ，引用例３，５によれば，「微小領域の定性分
析」は本件特許出願時「広く行われていた」とする審決の認定に誤りはない。
　３　取消事由３（相違点４についての判断の誤り）について
　引用例１～３（甲３～５）は，いずれもＸ線回折装置の技術分野に属するも
のであり，これらの引用例に開示された技術要素を互いに組み合わせることは当業
者にとって困難とはいえず，また，引用例２，３は，いずれも試料の２軸回転と，
その役割（回折に寄与する結晶粒の数を増やすこと）を明確に開示しており，その
ような機能を果たす目的をもって，試料の２軸回転をいろいろなＸ線回折装置に適
用することは，当業者の通常の設計業務の範囲内のことである。
　引用例２（甲４）の試料駆動機構（３６５頁図１）では，試料を保持するロ
ッド８が回転し，その回転軸（本件発明のφ軸）はＸ線ビームに対して垂直であ
る。ロッド８を保持するベアリング・ハウジング６が駆動ディスク４の回りを回転
し，その回転軸（本件発明のχ軸）はＸ線ビームと同軸である。このような関係
は，本件発明（本件明細書〔甲２－１〕第５図及び第６図によれば，Ｘ線ビームは
第５図紙面に紙面手前から垂直に試料７に当たり，φ軸３４はＸ線ビームに垂直で
ある。φ軸３４に垂直なχ軸の回転中心線はＸ線ビームと同軸である。）と同じで
ある。定性分析が多数の回折Ｘ線を検出する一方，応力測定が一つの回折Ｘ線を検
出することは，原告主張のとおりである。しかし，異なる物質の応力測定や，同一
物質の異なる回折Ｘ線を用いた応力測定では，回折角度は異なるので，応力測定で
も，回折角度を変え汎用的に測定できることが必要である。引用例３（甲５）の各
種デバイ環の図示（８１３頁図２０）によれば，幅のある環が対象となる。さら
に，引用例４（甲６）の「測定対象は・・・測角範囲を１５６°±１０°すなわち
２０°としたい」（３頁右欄第４段落）との記載によれば，単一デバイ環の測定で
２０°程度の測角範囲が要求される。応力測定でも，「微小領域」では回折に寄与
する結晶粒数は少なくなり，回折像は連続環とはならない。このために，引用例３
は，「２軸回転」により回折に寄与する結晶粒数を倍加するとしているのであり，
これは，２軸回転により漏れのない回折Ｘ線の検出をする本件発明と同じである。
したがって，応力測定は多数の回折Ｘ線を検出する必要はない（２軸回転を必要と
しない）とか，広い角度範囲をカバーする検出器が不要であるとはいえない。
　４　取消事由４（相違点２についての判断の誤り）について
　引用例１（甲３）の「理想的には，このワイヤー式検出器は２θで１８０°
をカバーするはずである」（訳文２頁第４段落）との記載は，検出器は１８０°を
カバーすべきことを示唆するが，製造上の理由から７０°のものを３個組み合わせ
ているにすぎない。そして，引用例７（甲９）に至り，製造上の理由が克服され１
６０°をカバーする位置感応型Ｘ線検出器が完成したのであるから，この引用例７
の検出器を引用例１の検出器として採用することは，当業者にとって容易である。
　５　取消事由５（相違点３についての判断の誤り）について
　理学電機図書出版社発行のアンドレ・ギニエ著「Ｘ線結晶学の理論と実際」
（乙１）には，ＤＳ法の「試料の位置合せ」について，「試料が正確に回転軸上に
おかれ，この回転軸がカメラの軸と一致することが必要なのは勿論である。試料の
支持は，試料の位置を正確に調整できるようなものでなければならない」（１３９
頁最終段落），「最初に試料を回転軸に合せる操作をする。・・・試料の数ｃｍ前
方にある小さな照準器を用いる・・・十字線の１本を棒状試料の軸にあわせる。試
料を１８０°回転すると，棒状試料は一般に十字線からはずれてくる。これを，顕
微鏡と試料とを動かして再び棒状試料の軸に合わせる。２つの方向で軸と十字線と
が確実に一致するまでこの操作をくり返えす」（１４１頁第５段落，最終段落）と
の記載があり，同記載によれば，Ｘ線回折装置において，試料の位置合せ手段を備
えることは，当然のことであることが認められる。また，引用例１（甲３）を微小
領域測定用に変更すること及び引用例１に試料の２軸回転を組み合わせることが容
易にし得ることである以上，微小領域測定に必要な「試料の位置合せ手段」を設け
ることも当業者にとって当然の事項である。
　６　取消事由６（顕著な作用効果についての判断の誤り）について
　各相違点に係る構成とその効果は，各引用例のいずれかに開示されており，
また，引用例１（甲３）と各相違点とを組み合わせた本件発明が，当業者が予測で
きないような優れた効果を奏するわけでもない。各引用例を参照すれば，本件発明
の効果は当業者が容易に予測できる程度のものである。引用例４（甲６）には，
「位置検出型比例計数管は・・・実用化されている。これをＸ線応力測定に応用し
たのは・・・微小領域の残留応力測定が可能と考えられ，今後の重要な測定技術と
なり得ることが考えられる」（２１６頁左欄第１，第２段落）との記載，位置検出
型比例計数管についての説明（２１７頁）があり，位置感応型Ｘ線検出器を使用し
て微小領域の測定をすることは，本件特許出願時において公知である。
第５　当裁判所の判断
　１　取消事由１（相違点の看過）について
　審決は，本件発明と引用例１（甲３）記載の発明の一致点として，「該Ｘ線
源からのＸ線をコリメートして前記試料上の領域に照射するための手段・・・から
構成したことを特徴とするＸ線デイフラクトメーター」（審決謄本８頁最終段落～
９頁第１段落）と認定しているところ，上記「試料上の領域」は，「試料上の微小
領域」と「試料全体」の双方を含むから，照射領域につき，審決の一致点の認定に
誤りはない。加えて，審決は，本件発明と引用例１記載の発明の相違点１として，
「本件発明は，多数の結晶粒からなる試料の微小領域を測定対象とするのに対し
て，引用例１記載の発明の測定対象は粉末試料である点」（同９頁第２段落），す
なわち，照射領域につき「試料の微小領域」を相違点１として認定している。した
がって，原告の主張する相違点は，審決の認定した相違点１に含まれており，審決
に，原告主張の相違点の看過はない。
２　取消事由２（相違点１についての判断の誤り）について
　引用例１（甲３）は，その記載から，Debye-Sherrer法（以下「ＤＳ法」とい
う。）の配置を採用し，位置感応型検出器を備えた定性分析を目的とするＸ線デイ
フラクトメータであり，長軸回りに回転するキャピラリ中の粉末試料を測定対象と
し，板状のＸ線を照射するものであることが認められる。
　引用例５（甲７）には，「Ｘ線ディフラクトメータには・・・粉末法Ｘ線デ
ィフラクトメータ・・・単結晶解析用Ｘ線ディフラクトメータなどがある。粉末法
Ｘ線ディフラクトメータは試料の同定分析・・・に使われている。・・・この装置
は試料の全体から情報を得，試料全体がどういう物質から成っているか，どういう
状態にあるのかを研究するために用いられており，試料の局部（例：介在物，析出
物など）がどのような物質構成で，どのような状態になっているかを議論するには
不得意な装置である」（３０頁第１段落），「従来このような微小部分の研究には
微小焦点Ｘ線発生装置を用い，微小部の研究にふさわしいＸ線カメラが用いられて
きた。しかしこれらのＸ線カメラには次のような欠点があった。（１）微小部にＸ
線を照射することから，回折に寄与する結晶粒子の数が少なくなり，しばしば回折
像がデバイリングにならず放射状の回折斑点として現われる・・・（２）・・・同
定が困難になってくる。（３）・・・十分な回折線の数が得難い」（同第２段落）
との記載があり，同記載によれば，①粉末法Ｘ線デイフラクトメータは，試料全体
の定性分析には適するが，局部の定性分析は不得手であること，②微小部分の研究
は，微小焦点Ｘ線発生装置と微小部研究にふさわしいＸ線カメラを用いることによ
り，従来から行われていたこと，③しかし，従来の微小部分の研究では，回折に寄
与する結晶粒子の数が少なく，完全なデバイ環と十分な数の回折線が得られず，微
小部分の定性分析は困難であったことが認められる。
　理学電機図書出版社発行のアンドレ・ギニエ著「Ｘ線結晶学の理論と実際」
（乙１）には，「試料が１／１００～１／１０００ｍｍ程度の非常に多数の小結晶
からできている・・・これらの小結晶はでたらめの方位を持っているものとす
る。・・・試料は，その体積がかなり小さくてもある任意の方位を持つ結晶がかな
りの数存在するとする」（１３１頁第２段落），「Ｄ．Ｓ．カメラのくわしい構
造・・・試料　２つの条件が実現されねばならない：すなわち結晶はできるだけこ
まかく，試料は直径が１０分の数ｍｍの棒状でなければならない。・・・ａ）固体
が微細結晶からなり，また加工できるとき（金属の場合）は・・・正確な形をした
直径１０分の数ｍｍの針状試料が得られる。・・・ｂ）粉末の場合には，パイレッ
クスガラスの非常に細い棒（１／１０ｍｍ）をつくる。・・・この棒に糊をぬり粉
末の中に入れると，細い棒状試料ができる。・・・ｃ）非常によく用いられるもう
ひとつの方法は，内径約０．３ｍｍの管に粉末をみたすものである。・・・角度の
小さい回折線だけを研究し，試料を回転する必要のないときは，棒状試料のかわり
に板状試料を用いることができる」（１３９頁第１段落～１４１頁第４段落），
「Ｘ線管とＤ．Ｓ．カメラとの関係・・・１）小さな焦点を用いることは・・・も
し普通のカメラを用いる場合には，結果はむしろ，大きな焦点のＸ線管による場合
よりも悪くなる。・・・Debye-Scherrer法で用いる焦点は，０．１か０．２ｍｍよ
り小さいと利益がない・・・３）焦点の最適の大きさは，そのみかけの幅が試料と
同程度のものである。微細焦点の応用分野の１つは，極めて小さい試料の研究であ
る（例えば不均質な固体の１点１点についての観察）。・・・小さいカメラを用い
ることは図形の強度の点で有利で，精度の点でも可能である・・・４）われわれの
扱った例では，結局試料の大きさは２５μに定められた。・・・５）普通の
Debye-Scherrer法のように，試料が棒状で，完全な図形を記録したいような場合
に，０．１ｍｍ以下の直径の棒状試料を用いるのは例外的であることは明らかであ
る。粉末の場合は，一般に棒状試料は常にせいぜい０．２ｍｍから０．３ｍｍであ
る」（１４２頁第３段落～１４５頁第２段落），「Ｄ．Ｓ．法には不便な点がいく
つかある。この方法では細い棒状の試料が必要であるが，こうすることの不可能な
物質もある（非常に堅い金属）」（１４８頁第１段落）との記載があり，同記載に
よれば，①ＤＳ法では，一般に０．２～０．３ｍｍ（２００～３００μｍ）の棒状
の試料が用いられ，粉末の場合には，内径約０．３ｍｍの管に粉末を満たす方法が
よく用いられること，②微細焦点のＸ線管は，極めて小さい試料の研究（不均質な
固体の１点１点の観察）に応用でき，小さいカメラの使用が強度及び精度の点で有
利であること，③普通のＤＳ法（棒状試料の完全な図形を記録する場合）では，
０．１ｍｍ以下（１００μｍ以下）の直径の棒状試料を用いることは例外的である
ことが認められる。
　引用例３（甲５）には，「結晶質材料中に存在する微視的組織の観察手段と
しての細束Ｘ線回折法は次の３つの大きな利点を有している。・・・（３）Ｘ線照
射域の大きさが数１０～１００μ程度であり材料が不均一に変形している場合など
その一部分の領域の変形を選択して観察することが可能である」（８０７頁左欄第
１段落），「本講においては特に細束Ｘ線回折背面反射デバイ法の回折像の解釈お
よび回折法の工学的応用という点に力点をおいてその実験法および応用例について
述べる」（同第２段落），「２　実験法　細束Ｘ線回折写真撮影のためには基本的
にはＸ線発生装置とＸ線カメラが必要である。前者は通常のディフラクトメータや
ラウェ写真あるいは粉末写真を撮影するときの発生装置でよく，後者も普通の粉末
カメラがあればよい。ただしカメラに付けるピンホールは入射Ｘ線を細束にするた
めの細い径のものでなければならない」（同第３段落）との記載があり，同記載に
よれば，①Ｘ線の照射域の大きさを数１０～１００μｍ程度とし，材料の一部分を
選択して観察する方法（細束Ｘ線回折法）が存在すること，②細束Ｘ線回折法は，
装置的には，通常のＸ線発生装置と普通の粉末カメラを使用し，ピンホールを細い
径にするだけで実現することができることが認められる。
　以上によれば，本件特許出願当時，①Ｘ線回折分析の分野において，微小領
域の定性分析を行うという目的は従来から認識されていたこと，②その際，微小領
域を照射するにはピンホールを細くするだけでよく，装置上格別の変更は要しない
こと，③微小領域は，回折に寄与する結晶粒が寡少で十分な回折線が得られず，実
用上定性分析は困難であったこと，すなわち，実用上困難であったとしても，微小
領域にＸ線を照射して定性分析を行うこと，その際の技術的課題はよく知られてい
たことが認められる。そうすると，引用例１記載の位置感応型比例計数管を用いる
Ｘ線デイフラクトメータを使用して，微小領域にＸ線を照射し微小領域の定性分析
を試みることは，当業者が容易にし得ることというべきである。
　原告は，引用例１の「板状Ｘ線ビーム」と「１軸回転」の構成では，試料が
回転した際にＸ線が「微小領域」以外の領域にも当たるので「微小領域」の分析に
応用することはできないと主張する。しかし，引用例１は，細長い容器（キャピラ
リ）と板状Ｘ線ビームという一つの組合せを例示したものと認められる。そして，
上記のとおり，微小領域にＸ線を照射し定性分析を試みることは，本件特許出願時
当業者によく知られていたことであり，微小領域を照射する場合には照射領域の形
状に即して細いビームにするだけでよいことも上記のとおりである。また，上記
「Ｘ線結晶学の理論と実際」（乙１）の「試料が正確に回転軸上におかれ，この回
転軸がカメラの軸と一致することが必要なのは勿論である」（１３９頁第３段落）
との記載によれば，回転軸上の微小領域を照射する限り，この微小領域以外の領域
を照射することは回避できることも明らかである。そうすると，「板状Ｘ線ビー
ム」と「１軸回転」の構成も「微小領域」を照射することを妨げる構成とはいえ
ず，原告の上記主張は，失当である。
　また，原告は，引用例１は位置合せ機構を備えていないから，「微小領域の
定性分析」の動機を欠いていると主張する。しかしながら，引用例１に「位置合せ
機構」を備えない旨の記載はなく，上記「Ｘ線結晶学の理論と実際」の「試料の支
持は，試料の位置を正確に調整できるようなものでなければならない」（１３９頁
最終段落），「最初に試料を回転軸にあわせる操作をする。・・・試料の・・・前
方にある小さな照準器を用いる・・・十字線の１本を棒状試料の軸にあわせる。試
料を１８０°回転すると，棒状試料は一般に十字線からはずれてくる。これを，顕
微鏡と試料とを動かして再び棒状試料の軸に合わせる。２つの方向で軸と十字線と
が確実に一致するまでこの操作をくり返えす」（１４１頁第５段落～最終段落）と
の記載によれば，試料の位置を調整することは，当然のことと認められ，原告の上
記主張は，前提において失当である。
　さらに，原告は，すべての回折Ｘ線を検出し試料回転が好ましい「定性分
析」用装置である引用例１に，特定の回折線のみ検出するために試料回転を必要と
しない「応力測定」用装置である引用例４，６を組み合わせることは合理的でない
とも主張する。しかし，微小領域にＸ線を照射して定性分析を行うこと及びその際
の技術的課題はよく知られていたことが明らかであることは前示のとおりであり，
原告の上記主張も失当というほかない。
　原告は，引用例５は，課題「微小領域の定性分析」は開示するが，その解決
手段は本件発明とは異なるばかりでなく不完全であると主張する。しかし，課題
「微小領域の測定」が公知であったことから，引用例１において微小領域を照射す
ることが容易であることは，前示のとおりであるところ，解決手段が本件発明と異
なること及び不完全であることは，上記課題を引用例１に適用することの妨げにな
るものではない。
　原告は，微小領域の定性分析が本件出願前「広く行われていた」とはいえな
いと主張するが，微小領域の定性分析を行うこと及びその際の技術的課題はよく知
られていたことは，前示のとおりである。
　したがって，原告の取消事由２の主張は採用することができない。
　３　取消事由３（相違点４についての判断の誤り）について
　引用例１（甲３）には，「この粉末法は，ランダムな方向を向いた小さな結
晶粒を必要とし，そのために，この方法は，比較的弱くてしばしば密集している反
射群によって特徴づけられる。現在入手できる・・・ディフラクトメータは・・・
コリメートされた移動計数管検出器を用いているが，弱い強度を補う何の手段もな
い。要望されているものは，広い角度範囲をカバーする検出器であって・・・高い
効率を備え・・・角度分解能を備えることである。・・・我々は位置感応型の単線
比例検出器を開発したが，これは，上述の検出器仕様に適合するものである」（訳
文１頁第３段落～２頁第２段落）との記載があり，同記載から，粉末法はランダム
な方向を向いた小さな結晶粒を必要とすること，弱くてしばしば密集している反射
群があることが当業者に認識されていたことは明らかである。
　また，上記「Ｘ線結晶学の理論と実際」（乙１）には，「試料の体積・・・
は，十分な数の結晶を含んでいて，すべての方向が現われ，ある面による散乱Ｘ線
が対応する円錐の表面に連続的に分布していなければならない。そうでないと，回
折図形上の線は一様にならずに個々の結晶粒による回折斑点が・・・あらわれる。
この・・・場合は・・・線の強度の正確な測定が難しくなる。この不便を防ぐた
め，棒状試料を・・・その軸のまわりに回転させる。こうすると，回転のとき結晶
の大部分がつぎつぎに適当な方位をとり・・・一定格子面とBragg角をなす・・・
Ｄ．Ｓ．環上にあらわれる斑点の数は，試料が動かないときよりもずっと多いか
ら，線は一様に黒くなる。ある人達はＸ線の当る部分を大きくするために，さらに
回転軸にそって振動させることを提案している」（１３９頁第２段落）との記載が
あり，同記載によれば，ＤＳ法における棒状試料の１軸回転は，照射領域内に存在
する結晶粒をいろいろな方向に向けさせ，ある格子面について連続する回折環を得
ると同時に，連続する回折環を各格子面について得るためであることが認められ
る。
　そして，上記引用例１から明らかな認識及び上記乙１の記載を考慮すると，
ＤＳ法において棒状試料の一つであるキャピラリを使用する引用例１の「１軸回
転」は，各結晶粒をいろいろな方向に向けさせて回折に関与する格子面を多くし，
連続する回折環を各格子面について得るためであることが認められる。
　他方，引用例２（甲４）には，「単結晶を粉末にすることなく単結晶の同定
をすることが時々要求される」（訳文第２段落），「同定の目的には単結晶から直
接粉末データが得られれば便利である。このことは，Ｘ線ビーム中に配置した結晶
に，非常に多数の方向性を与える事によって達成される」（同第３段落），「試料
ホルダーはコリメータの軸の回りに回転する。同時に・・・コリメータ軸に垂直な
軸の回りに試料を回転させる」（同第４段落）との記載があり，同記載によれば，
引用例２は，２軸回転により単結晶に多数の方向性を与えて，単結晶中の異なる多
数の格子面からそれぞれ回折線，すなわち粉末試料からの回折線と等価な回折線を
得ることにより，単結晶の定性分析を行うものである。したがって，「２軸回転」
の意義は，回折に関与する格子面の数を多くすることにあることは明らかである。
　本件明細書（甲２－２）には，２軸回転の意義につき，「その結果，試料の
Ｘ線照射領域中に比較的少数の結晶粒しか存在しないにもかかわらず，前記測定期
間中（注，比較的短時間の測定期間中）を通してみれば，Ｘ線照射領域中にランダ
ムな方向分布を有する多数の結晶粒が存在するのと同等となり，…検出漏れが無い
連続した回折スペクトル信号となる」（１３頁左欄最終段落～同右欄第１段落），
「特に，微小領域内の結晶粒の結晶格子面の方向分布に偏りがある場合であって
も，前記φ軸とχ軸の回りの回転によりこの偏りがあることによる検出漏れの発生
を大きく改善できるため，充分測定が可能となる」（１３頁右欄第１段落）と記載
されている。同記載によれば，本件発明の２軸回転の意義は，比較的短時間の測定
期間に着目すると，微小領域内の結晶粒の個数の増加ではなく，各結晶粒につき格
子面を増加させることにより，検出漏れを改善するものであることが認められる。
そうすると，微小領域の定性分析を行うこと及び微小領域は回折に寄与する結晶粒
が寡少で十分な回折線が得られないとの問題点が当業者の間によく知られていると
の技術水準の下において，引用例１を使用して，微小領域の定性分析を試みるに当
たり，その１軸回転を２軸回転とすることは，当業者が容易に採用し得ることと認
められる。したがって，これと同旨の審決の判断に誤りはない。
　原告は，①引用例１の構成（キャピラリ，板状Ｘ線ビーム及び円弧状検出
器）には，２軸回転につき阻害要因がある，②引用例２は単結晶であるから粉末試
料を対象とする引用例１には適用できない，③引用例２には，他の部分を照射しな
いための技術的事項，すなわち，（ⅰ）微小領域を試料の回転中心と一致させるこ
と，（ⅱ）２軸とも所定範囲で往復回転することにつき記載がない，④２軸回転に
より回折線を多くすることは単結晶についてはいえても，微小領域についてはいえ
ない，⑤試料の回転と微小領域への照射は相反する要求であるから，微小領域の２
軸回転に至ることは困難である，⑥引用例３は，応力測定を目的とする上に，実質
上１軸回転であるから，定性分析を目的とする引用例１に適用できない，⑦引用例
２，３には，「微小領域内の結晶粒の格子面の分布方向をランダマイズすること」
が開示されていない，⑧「微小領域」と「２軸回転」とは不可分の構成であると主
張する。しかしながら，これらの点について順次検討するに，①引用例１は，細長
い容器（キャピラリ）と板状Ｘ線ビームという組合せにおいて１軸回転を採用した
ものであり，一方，微小領域にＸ線を照射し定性分析を試みることは，本件特許出
願時当業者によく知られていたことは上記のとおりであり，微小領域を照射する場
合には照射領域の形状に即して細いビームにするだけでよいことも上記のとおりで
あるから，細長い容器ではなく照射形状も「板状」でないときにまで「１軸回転」
をする必然性はなく，２軸回転が困難であるとする物理的理由もない。②引用例１
と引用例２は，試料の形態において相違するが，いずれも一つの結晶粒（引用例１
では結晶粒，引用例２では単結晶）に着目すると，いろいろな方向に向けさせるこ
とにより回折に関与する格子面を多くするという技術的思想において共通するもの
であるから，試料の形態が相違したとしても，適用が困難であるとはいえない。③
原告主張の点はいずれも本件発明の構成要件ではない上，上記乙１の「試料が正確
に回転軸上におかれ，この回転軸がカメラの軸と一致することが必要なのは勿論で
ある」（１３９頁最終段落）との記載のとおり，（ⅰ）は装置構成上当然の事項で
あって，回転角の範囲によっては測定領域以外を照射する場合もあることは当然予
想されることであり，（ⅱ）も装置使用上の当然の設定事項にすぎないから，これ
らの点について記載がないからといって，引用例２の適用が困難であるとはいえな
い。④引用例１の「１軸回転」は，各結晶粒をいろいろな方向に向けさせて回折に
関与する格子面を多くし，連続する回折環を各格子面について得るためであること
は上記のとおりであるから，「比較的少数の結晶粒しか存在しない」（甲２－２の
１３頁左欄最終段落）ところの「微小領域」においても，回転により回折Ｘ線を多
くできること，２軸回転により一層の効果（回折Ｘ線を多くする）が得られること
は引用例２から明らかである。⑤照射径（細束）と試料状態（静止又は振動）とは
独立して設定できる事項であり，照射領域が小さくなるほど回転が困難となるとい
う実施上の意味では「相反する要求」とはいえるが，２軸回転するという技術的思
想に至ることが困難であるとするほどの根拠とはいえない。⑥２軸回転により一つ
の結晶粒（引用例１では結晶粒，引用例２では単結晶）をいろいろな方向に向けさ
せることにより回折に関与する格子面を多くすることは，引用例２に記載のとおり
公知であって，この技術事項を引用例１に適用することが容易であることは上記の
とおりである。⑦上記「Ｘ線結晶学の理論と実際」（乙１）の記載及び引用例１の
「この粉末法は，ランダムな方向を向いた小さな結晶粒を必要とし」（訳文１頁第
３段落）との記載によれば，引用例１の１軸回転は，「微小領域内の結晶粒の格子
面の方向分布の偏り」をランダマイズすることにほかならない。⑧照射径（細束）
と試料状態（静止又は振動）とは独立して設定できる事項であり，「微小領域の２
軸回転」が，引用例５，乙１及び引用例３に開示された技術水準において，引用例
２の構成から容易に採用し得ることも上記のとおりであり，「微小領域の２軸回
転」の組合せ効果についても，引用例３から容易に予測できることである。したが
って，原告の上記各主張は，いずれも採用することができない。
　以上のとおり，原告の取消事由３の主張は理由がない。
　４　取消事由４（相違点２についての判断の誤り）について
　引用例１（甲３）には，「理想的には・・・１８０°をカバーする」（訳文
２頁第４段落）との記載があり，「半円状位置感応型検出器」が開示されているも
のと認められる。また，分割タイプ（６０°）が広い回折角範囲の測定を目的とす
る２軸回転に適さないことは認められるとしても，３個配置して「１８０°カバー
する」ことが記載されている以上，分割タイプ自体の測定範囲が狭いことにはなら
ない。加えて，引用例７（甲９）には，「新湾曲形位置敏感形Ｘ線検出器」に関
し，「この新形湾曲形検出器は，回折角２θで１６０°をカバーする・・・陽極芯
線は５ｃｍの半径で曲げられ，１７０°２θの広い角度範囲にわたって弾性的に支
持されている・・・検出器のテストはシリコン粉末試料からのデバイ環の測定で行
った。湾曲形検出器はワイセンベルグカメラに取り付け，測定中は試料を回転させ
た」（訳文１頁下から第３段落～２頁第３段落）との記載がされ，第１図「湾曲形
Ｘ線検出器試作機の電極配置」（１１６１頁）の図示によれば，円弧状のＸ線検出
器がその中心に配置された試料Ｓに入射するＸ線の光路を含む面内に配置されてい
ること及びこの検出器の単一の陽極芯線Ａの角度範囲は１７０°であることが明ら
かである。したがって，審決の「引用例１記載の装置の位置感応型Ｘ線検出器とし
て半円状の検出器を当業者が採用することに困難性は認められない」（審決謄本１
２頁第１段落）とする判断に誤りはなく，原告の取消事由４の主張は理由がない。
　５　取消事由５（相違点３についての判断の誤り）について
　引用例５（甲７）の第２図（３１頁）には，試料ホルダに並んで光学顕微鏡
が示され，引用例３（甲５）には，「Ｘ線カメラの中に光学顕微鏡が組込ま
れ，・・・試料の随意の位置に細束Ｘ線束を照射することが可能となった」（８０
７頁右欄第１段落）との記載が，引用例６（甲８）には，「コリメータ・・・のア
ライメントは光学顕微鏡を用いてなされた」（訳文２頁第２段落）との記載が，上
記「Ｘ線結晶学の理論と実際」（乙１）には，「試料の支持は，試料の位置を正確
に調整できるようなものでなければならない」（１３９頁最終段落），「最初に試
料を回転軸にあわせる操作をする。・・・試料の数ｃｍ前方にある小さな照準器を
用いる・・・十字線の１本を棒状試料の軸にあわせる。試料を１８０°回転する
と，棒状試料は一般に十字線からはずれてくる。これを，顕微鏡と試料とを動かし
て再び棒状試料の軸に合わせる。２つの方向で軸と十字線とが確実に一致するまで
この操作をくり返えす」（１４１頁第５段落，最終段落）との記載があり，これら
の記載によれば，光学顕微鏡を用いて試料の位置を調整することは，当然のことと
認められる。そうすると，審決の「引用例５及び引用例６に記載されているよう
に・・・光学顕微鏡を用いて位置合わせを行うことは知られているから，引用例１
記載の装置において，微小領域を測定する際に，『・・・光学顕微鏡』を備え，
『・・・試料の位置を微調整するための調整機構』を備えるようにすることは，当
業者が容易になし得る」（審決謄本１２頁第３段落）とする判断に誤りはない。
　また，試料の位置調整は，当然の構成であり，独立した構成でもあって，微
小領域の２軸回転と格別の関係にある構成とは認められないから，引用例１に試料
の位置合わせ機構を導入することは困難であるとの原告の主張は，採用することが
できない。
　したがって，原告の取消事由５の主張は理由がない。
　６　取消事由６（顕著な作用効果についての判断の誤り）について
　「多数の結晶からなる試料の微小領域の定性分析」は，引用例５（甲７）及
び上記「Ｘ線結晶学の理論と実際」（乙１）に記載された周知技術から容易にし得
ることであり，本件発明の「定性分析を，回折Ｘ線の検出漏れを生ずることなく比
較的短時間に行う」との作用効果も，引用例１（甲３）に「この新しい検出器は，
実質的に完全な回折スペクトルを・・・収集する。したがって，小さな試料の粉末
スペクトルを・・・従来・・・よりも非常に高速に得る事ができる」（訳文１頁第
２段落）と記載されるとおり，当業者の予測できることにすぎない。また，微小領
域，２軸回転及び半円状位置感応型検出器の組合せによる効果についての原告の主
張は，このような組合せにつき引用例に記載がないことをいうに帰するところ，そ
の組合せが容易にし得ることは上記のとおりであり，これによる効果も各引用例以
上のものではなく，当業者が引用例から予測できる程度のものにすぎないといわざ
るを得ない。したがって，「本件発明の作用効果は当業者が予測し得る範囲を越え
るものではない」（審決謄本１６頁第１段落）とする審決の判断に誤りはない。
７　以上のとおり，原告主張の取消事由はいずれも理由がなく，他に審決を取り
消すべき瑕疵は見当たらない。
　　　よって，原告の請求は理由がないからこれを棄却することとし，主文のとお
り判決する。
　　　　　東京高等裁判所第１３民事部
　　　　　　　　　裁判長裁判官　篠　　原　　勝　　美
　　　　裁判官　岡　　本　　　　　岳
　　　　裁判官　長　　沢　　幸　　男

戻る